New quantitative X-ray diagnostics of thin films and multilayer nanostructures (Progetti)

Type

• Prodotto della ricerca (Classe)
• Progetti (Classe)

Label

• New quantitative X-ray diagnostics of thin films and multilayer nanostructures (Progetti) (literal)

Anno

• 2003-01-01T00:00:00+01:00 (literal)

Alternative label

• Bocchi C. (2003)
  New quantitative X-ray diagnostics of thin films and multilayer nanostructures
  
  (literal)

Http://www.cnr.it/ontology/cnr/pubblicazioni.owl#autori

• Bocchi C. (literal)

Http://www.cnr.it/ontology/cnr/pubblicazioni.owl#note

• Coordinamento del Progetto Europeo triennale: INTAS 01-0190 (2002-2004) (literal)

Titolo

• New quantitative X-ray diagnostics of thin films and multilayer nanostructures (literal)

Prodotto di

• Istituto dei materiali per l'elettronica ed il magnetismo (IMEM) (Istituto)

Autore CNR

• CLAUDIO BOCCHI (Persona)

Incoming links:

Prodotto

• Istituto dei materiali per l'elettronica ed il magnetismo (IMEM) (Istituto)

Autore CNR di

• CLAUDIO BOCCHI (Persona)