Nanoscale imaging and metrology of devices and innovative materials (Curatela)

Type

• Prodotto della ricerca (Classe)
• Curatela (Classe)

Label

• Nanoscale imaging and metrology of devices and innovative materials (Curatela) (literal)

Anno

• 2007-01-01T00:00:00+01:00 (literal)

Alternative label

• Raineri V, Spinella C, Vandervorst W (2007)
  Nanoscale imaging and metrology of devices and innovative materials
  
  (literal)

Http://www.cnr.it/ontology/cnr/pubblicazioni.owl#riferimentiBibliografici

• Microelectronic Engineering vol. 84 (literal)

Http://www.cnr.it/ontology/cnr/pubblicazioni.owl#autoriCuratela

• Raineri V, Spinella C, Vandervorst W (literal)

Http://www.cnr.it/ontology/cnr/pubblicazioni.owl#curatori

• Raineri V, Spinella C, Vandervorst W (literal)

Http://www.cnr.it/ontology/cnr/pubblicazioni.owl#descrizioneSinteticaDelProdotto

• Proceeding symposium F “Nanoscale imaging and metrology of devices and innovative materials” in the European Material Research Society Spring Meeting May 29 – June 2, 2006 Nice, France (literal)

Titolo

• Nanoscale imaging and metrology of devices and innovative materials (literal)

Http://www.cnr.it/ontology/cnr/pubblicazioni.owl#tipoDiCuratela

• Supplemento (literal)

Prodotto di

• Nanotecnologie e tecnologie avanzate per elettronica integrata (MD.P05.003.004) (Modulo)
• Institute for microelectronics and microsystems (IMM) (Istituto)

Autore CNR

• ROSARIO CORRADO SPINELLA (Persona)
• VITO RAINERI (Persona)

Incoming links:

Autore CNR di

• VITO RAINERI (Persona)
• ROSARIO CORRADO SPINELLA (Persona)

Prodotto

• Institute for microelectronics and microsystems (IMM) (Istituto)
• Nanotecnologie e tecnologie avanzate per elettronica integrata (MD.P05.003.004) (Modulo)