Interferometric system for the simultaneous measurement of the index of refraction and of the thickness of transparent materials and related procedures (Brevetto)

Type

• Brevetto (Classe)
• Prodotto della ricerca (Classe)
• Brevetto (Classe)

Label

• Interferometric system for the simultaneous measurement of the index of refraction and of the thickness of transparent materials and related procedures (Brevetto) (literal)

Anno

• 2003-01-01T00:00:00+01:00 (literal)

Alternative label

• Sergio De Nicola, Giuseppe Coppola, Pietro Ferraro, Mario Iodice (2003)
  Interferometric system for the simultaneous measurement of the index of refraction and of the thickness of transparent materials and related procedures
  RM 03425482.1
  (literal)

Titolo

• Interferometric system for the simultaneous measurement of the index of refraction and of the thickness of transparent materials and related procedures (literal)

Http://www.cnr.it/ontology/cnr/pubblicazioni.owl#autori

• Sergio De Nicola, Giuseppe Coppola, Pietro Ferraro, Mario Iodice (literal)

Numero brevetto

• RM 03425482.1 (literal)

Http://www.cnr.it/ontology/cnr/pubblicazioni.owl#descrizioneSinteticaDelProdotto

• Un sistema interferometrico che utilizza un laser DFB come sorgente per illumminare film sottili. L'indice di rifrazione e lo spessore del film vengono calcolati mediante l'analisi dei pattern di interferenza ottnuti per trasmissione dal film (literal)

Anno di deposito

• 2003 (literal)

Http://www.cnr.it/ontology/cnr/pubblicazioni.owl#affiliazioni

• Istituto di cibernetica CNR Istituto per la Microelettronica ed i Microsistemi CNR Istituto Nazionale di Ottica Applicata-Sez. di Napoli (literal)

Titolo

• Interferometric system for the simultaneous measurement of the index of refraction and of the thickness of transparent materials and related procedures (literal)

Prodotto di

• Tecniche di imaging per lo studio e l'analisi di materiali microstrutturati (MD.P03.015.001) (Modulo)
• Istituto di cibernetica \"Edoardo Caianiello\" (ISASI) (Istituto)

Autore CNR

• PIETRO FERRARO (Unità di personale interno)
• SERGIO DE NICOLA (Persona)

Insieme di parole chiave

• Keywords of "Interferometric system for the simultaneous measurement of the index of refraction and of the thickness of transparent materials and related procedures" (Insieme di parole chiave)

Incoming links:

Autore CNR di

• PIETRO FERRARO (Unità di personale interno)
• SERGIO DE NICOLA (Persona)

Prodotto

• Istituto di cibernetica \"Edoardo Caianiello\" (ISASI) (Istituto)
• Tecniche di imaging per lo studio e l'analisi di materiali microstrutturati (MD.P03.015.001) (Modulo)

Insieme di parole chiave di

• Keywords of "Interferometric system for the simultaneous measurement of the index of refraction and of the thickness of transparent materials and related procedures" (Insieme di parole chiave)