Advanced methods for the analysis of x-ray absorption spectroscopy data applied to semiconductors (Contributo in volume (capitolo o saggio))

Type

• Contributo in volume (capitolo o saggio) (Classe)
• Prodotto della ricerca (Classe)

Label

• Advanced methods for the analysis of x-ray absorption spectroscopy data applied to semiconductors (Contributo in volume (capitolo o saggio)) (literal)

Anno

• 2011-01-01T00:00:00+01:00 (literal)

Http://www.cnr.it/ontology/cnr/pubblicazioni.owl#doi

• 10.1088/0268-1242/26/6/064004 (literal)

Alternative label

• F. d'Acapito (2011)
  Advanced methods for the analysis of x-ray absorption spectroscopy data applied to semiconductors
  in Special issue on (nano)characterization of semiconductor materials and structures, 2011
  (literal)

Http://www.cnr.it/ontology/cnr/pubblicazioni.owl#autori

• F. d'Acapito (literal)

Pagina inizio

• 064004 (literal)

Http://www.cnr.it/ontology/cnr/pubblicazioni.owl#titoloVolume

• Special issue on (nano)characterization of semiconductor materials and structures (literal)

Http://www.cnr.it/ontology/cnr/pubblicazioni.owl#volumeInCollana

• 26, Issue 6 (literal)

Http://www.cnr.it/ontology/cnr/pubblicazioni.owl#pagineTotali

• 8 (literal)

Http://www.cnr.it/ontology/cnr/pubblicazioni.owl#affiliazioni

• CNR-IOM-OGG (literal)

Titolo

• Advanced methods for the analysis of x-ray absorption spectroscopy data applied to semiconductors (literal)

Http://www.cnr.it/ontology/cnr/pubblicazioni.owl#inCollana

• Semiconductor Science and Technology Volume 26 Special issue on (nano)characterization of semiconductor materials and structures (literal)

Http://www.cnr.it/ontology/cnr/pubblicazioni.owl#curatoriVolume

• A. Bonanni (literal)

Prodotto di

• MD.P04.007.001 Sviluppo di strumentazione e di metodologie sperimentali avanzate per lo studio delle proprieta strutturali dei materiali con raggi X da sincrotrone (MD.P04.007.002) (Modulo)

Autore CNR

• FRANCESCO D'ACAPITO (Persona)

Incoming links:

Autore CNR di

• FRANCESCO D'ACAPITO (Persona)

Prodotto

• MD.P04.007.001 Sviluppo di strumentazione e di metodologie sperimentali avanzate per lo studio delle proprieta strutturali dei materiali con raggi X da sincrotrone (MD.P04.007.002) (Modulo)