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Misura della microrugosità superficiale con tecniche di profilometria laser e AFM (Monografia o trattato scientifico)
- Type
- Label
- Misura della microrugosità superficiale con tecniche di profilometria laser e AFM (Monografia o trattato scientifico) (literal)
- Anno
- 2005-01-01T00:00:00+01:00 (literal)
- Alternative label
Fontana R., Gambino M.C., Girelli A., Greco M., Pampaloni E., Quercioli F., Tiribilli B., Vassalli M (2005)
Misura della microrugosità superficiale con tecniche di profilometria laser e AFM
Nardini, Firenze, 2005
(literal)
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- Fontana R., Gambino M.C., Girelli A., Greco M., Pampaloni E., Quercioli F., Tiribilli B., Vassalli M (literal)
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- Http://www.cnr.it/ontology/cnr/pubblicazioni.owl#affiliazioni
- Istituto Nazionale di Ottica Applicata, Largo E. Fermi 6, 50125 Firenze, Italy (literal)
- Titolo
- Misura della microrugosità superficiale con tecniche di profilometria laser e AFM (literal)
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- Impatto ambientale. Monitoraggio sulle porte bronzee del battistero di Firenze (literal)
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