EBIC assessment of semiconductors properties (Contributo in volume (capitolo o saggio))

Type
Label
  • EBIC assessment of semiconductors properties (Contributo in volume (capitolo o saggio)) (literal)
Anno
  • 2003-01-01T00:00:00+01:00 (literal)
Alternative label
  • Frigeri C. (2003)
    EBIC assessment of semiconductors properties
    in Science, Technology and Education of Microscopy: an Overview, 2003
    (literal)
Http://www.cnr.it/ontology/cnr/pubblicazioni.owl#autori
  • Frigeri C. (literal)
Pagina inizio
  • 163 (literal)
Http://www.cnr.it/ontology/cnr/pubblicazioni.owl#citta
  • Badajoz (Spagna) (literal)
Http://www.cnr.it/ontology/cnr/pubblicazioni.owl#titoloVolume
  • Science, Technology and Education of Microscopy: an Overview (literal)
Http://www.cnr.it/ontology/cnr/pubblicazioni.owl#volumeInCollana
  • 1 (literal)
Http://www.cnr.it/ontology/cnr/pubblicazioni.owl#note
  • Formatex - Microscopy Series Vol. 1, p. 163, 2003 (literal)
Note
  • Scopus (literal)
  • ISI Web of Science (WOS) (literal)
Http://www.cnr.it/ontology/cnr/pubblicazioni.owl#affiliazioni
  • CNR-MASPEC Institute, via Chiavari 18/A ΓΏ 43100 Parma (Italy) (literal)
Titolo
  • EBIC assessment of semiconductors properties (literal)
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  • Science, Technology and Education of Microscopy: an Overview (literal)
Http://www.cnr.it/ontology/cnr/pubblicazioni.owl#isbn
  • 84-607-6698-5 (literal)
Http://www.cnr.it/ontology/cnr/pubblicazioni.owl#curatoriVolume
  • A. Mendez Vilas (literal)
Prodotto di
Autore CNR
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