Selective etching and complementary microprobe techniques (Contributo in volume (capitolo o saggio))

Type

• Contributo in volume (capitolo o saggio) (Classe)
• Prodotto della ricerca (Classe)

Label

• Selective etching and complementary microprobe techniques (Contributo in volume (capitolo o saggio)) (literal)

Anno

• 2003-01-01T00:00:00+01:00 (literal)

Alternative label

• Weyher J.L., Frigeri C., Müller S. (2003)
  Selective etching and complementary microprobe techniques
  Taylor & Francis Ltd., Abingdon (Regno Unito) in Microprobe Characterization of Semiconductors, 2003
  (literal)

Http://www.cnr.it/ontology/cnr/pubblicazioni.owl#autori

• Weyher J.L., Frigeri C., Müller S. (literal)

Pagina inizio

• 595 (literal)

Pagina fine

• 689 (literal)

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• New York (USA) (literal)

Http://www.cnr.it/ontology/cnr/pubblicazioni.owl#titoloVolume

• Microprobe Characterization of Semiconductors (literal)

Http://www.cnr.it/ontology/cnr/pubblicazioni.owl#volumeInCollana

• 17 (literal)

Http://www.cnr.it/ontology/cnr/pubblicazioni.owl#note

• J. Jiménez Editor, Optoelectronic Properties of Semiconductors and Superlattices Series (Series Ed. O.M. Manasreh) (literal)

Http://www.cnr.it/ontology/cnr/pubblicazioni.owl#descrizioneSinteticaDelProdotto

• Presentazione di alcuni metodi fisici, quali Microscopia a Forza Atomica e Corrente Indotta da Fasci di Elettroni, nonché chimici, quali attacco chimico preferenziale, di più recente applicazione alla caratterizzazione e studio delle proprietà fisico strutturali di materiali semiconduttori composti da usarsi per applicazion optoelettroniche. Tali metodi usano sonde micro- o nano-metriche e possono essere applicati sia a semiconduttori massivi che epitassiali. Di tali metodi nel capitolo vengono discussi i meccanismi fisici e chimici che permettono l'osservazione e la determinazione della struttura atomica dei difetti estesi nei suddetti materiali. Particolare attenzione viene dedicata alla presentazione di come i metodi vengono applicati sperimentalmente con discussione di \"case examples\" tratti dall'attività di ricerca degli autori. Il capitolo é parte del Volume 17 (\"Microprobe Characterization of Semiconductors\", Editore J. Jiménez) della \"Optoelectronic Properties of Semiconductors and Superlattices Series\" (Series Ed. O.M. Manasreh). E' il capitolo 8, pp 595-689. (literal)

Note

• ISI Web of Science (WOS) (literal)
• Scopus (literal)
• Google Scholar (literal)

Http://www.cnr.it/ontology/cnr/pubblicazioni.owl#affiliazioni

• 1 High Pressure Research Center, Polish Academy of Sciences, Warszawa (PL) and University of Njimegen, RIM, Solid State Physics III, Njimegen (NL); 2 IMEM-CNR, Parma; 3 Fraunhofer IAF, Freiburg (Germania); (literal)

Titolo

• Selective etching and complementary microprobe techniques (literal)

Http://www.cnr.it/ontology/cnr/pubblicazioni.owl#inCollana

• Microprobe Characterization of Semiconductors (literal)

Http://www.cnr.it/ontology/cnr/pubblicazioni.owl#isbn

• 1-56032-941-6 (literal)

Http://www.cnr.it/ontology/cnr/pubblicazioni.owl#curatoriVolume

• Juan Jiménez (literal)

Editore

• Taylor & Francis Ltd. (Editore)

Prodotto di

• Istituto dei materiali per l'elettronica ed il magnetismo (IMEM) (Istituto)
• Sviluppo, caratterizzazione strutturale e modelling di strutture avanzate per elettronica (MD.P05.002.001) (Modulo)

Autore CNR

• CESARE FRIGERI (Persona)

Insieme di parole chiave

• Keywords of "Selective etching and complementary microprobe techniques" (Insieme di parole chiave)

Incoming links:

Prodotto

• Istituto dei materiali per l'elettronica ed il magnetismo (IMEM) (Istituto)
• Sviluppo, caratterizzazione strutturale e modelling di strutture avanzate per elettronica (MD.P05.002.001) (Modulo)

Autore CNR di

• CESARE FRIGERI (Persona)

Editore di

• Taylor & Francis Ltd. (Editore)

Insieme di parole chiave di

• Keywords of "Selective etching and complementary microprobe techniques" (Insieme di parole chiave)