Interferometric technique for characterization of ferroelectric crystals properties and microengineering process (Abstract/Poster in atti di convegno)

Type
Label
  • Interferometric technique for characterization of ferroelectric crystals properties and microengineering process (Abstract/Poster in atti di convegno) (literal)
Anno
  • 2005-01-01T00:00:00+01:00 (literal)
Alternative label
  • Grilli S., Ferraro P., Alfieri D., Paturzo M., Sansone L., De Nicola S., De Natale P. (2005)
    Interferometric technique for characterization of ferroelectric crystals properties and microengineering process
    in Fringe 2005 - The 5th International Workshop on Automatic Processing of Fringe Patterns, Stoccarda (Germania)
    (literal)
Http://www.cnr.it/ontology/cnr/pubblicazioni.owl#autori
  • Grilli S., Ferraro P., Alfieri D., Paturzo M., Sansone L., De Nicola S., De Natale P. (literal)
Http://www.cnr.it/ontology/cnr/pubblicazioni.owl#affiliazioni
  • CNR-INOA; CNR-ICIB (literal)
Titolo
  • Interferometric technique for characterization of ferroelectric crystals properties and microengineering process (literal)
Prodotto di
Autore CNR
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