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Detailed DF-TEM and X-ray diffraction investigations of interfaces in MOVPE grown InGaP/GaAs heterojunctions (Abstract/Poster in atti di convegno)
- Type
- Label
- Detailed DF-TEM and X-ray diffraction investigations of interfaces in MOVPE grown InGaP/GaAs heterojunctions (Abstract/Poster in atti di convegno) (literal)
- Anno
- 2006-01-01T00:00:00+01:00 (literal)
- Alternative label
Frigeri C., Attolini G., Bosi M., Germini F., Pelosi C., Calicchio M. (2006)
Detailed DF-TEM and X-ray diffraction investigations of interfaces in MOVPE grown InGaP/GaAs heterojunctions
in EXMATEC '06, 8th International Workshop on Expert Evaluation and Control of Compound Semiconductor Materials and Technologies, Cádiz (E), 14-17 maggio 2006
(literal)
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- Frigeri C., Attolini G., Bosi M., Germini F., Pelosi C., Calicchio M. (literal)
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- Note
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- CNR-IMEM Institute, Parco Area delle Scienze 37/A, 43100 Parma, Italy (literal)
- Titolo
- Detailed DF-TEM and X-ray diffraction investigations of interfaces in MOVPE grown InGaP/GaAs heterojunctions (literal)
- Prodotto di
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