Detailed DF-TEM and X-ray diffraction investigations of interfaces in MOVPE grown InGaP/GaAs heterojunctions (Abstract/Poster in atti di convegno)

Type
Label
  • Detailed DF-TEM and X-ray diffraction investigations of interfaces in MOVPE grown InGaP/GaAs heterojunctions (Abstract/Poster in atti di convegno) (literal)
Anno
  • 2006-01-01T00:00:00+01:00 (literal)
Alternative label
  • Frigeri C., Attolini G., Bosi M., Germini F., Pelosi C., Calicchio M. (2006)
    Detailed DF-TEM and X-ray diffraction investigations of interfaces in MOVPE grown InGaP/GaAs heterojunctions
    in EXMATEC '06, 8th International Workshop on Expert Evaluation and Control of Compound Semiconductor Materials and Technologies, Cádiz (E), 14-17 maggio 2006
    (literal)
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  • Frigeri C., Attolini G., Bosi M., Germini F., Pelosi C., Calicchio M. (literal)
Pagina inizio
  • 83 (literal)
Pagina fine
  • 83 (literal)
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  • abstract book (literal)
Note
  • Abstract (literal)
Http://www.cnr.it/ontology/cnr/pubblicazioni.owl#affiliazioni
  • CNR-IMEM Institute, Parco Area delle Scienze 37/A, 43100 Parma, Italy (literal)
Titolo
  • Detailed DF-TEM and X-ray diffraction investigations of interfaces in MOVPE grown InGaP/GaAs heterojunctions (literal)
Prodotto di
Autore CNR
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