Microscopia a Scansione di Sonda (MD.P03.044.002)

Type
Label
  • Microscopia a Scansione di Sonda (MD.P03.044.002) (literal)
Codice
  • MD.P03.044.002 (literal)
Anno di chiusura previsto
  • 2017-01-01T00:00:00+01:00 (literal)
Istituto esecutore
Abstract
  • Il modulo si occupa dello sviluppo di microscopie innovative a scansione di sonda. In particolare negli ultimi anni ci stiamo focalizzando sullo studio di materiali, in forma di film sottili ed eterostrutture, e di sistemi biologici, come cellule cresciute in vitro. Per il primo caso adoperiamo la microscopia AFM e i suoi derivati, come ad esempio la microscopia ad ultrasuoni (UFM) o la microscopia piezoelettrica (PFM). Possiamo perciò caratterizzare le proprietà morfologiche, meccaniche ed elettriche di una serie di campioni che vanno dai film ferroelettrici al Grafene, dai film polimerici sottili ai film organici per elettronica organica. Possiamo studiare le suddette proprietà anche in funzione della temperatura e di campi esterni applicati. Nel secondo caso utilizziamo principalmente la microscopia a conduttanza ionica (SICM). Essa è stata da noi con successo impiegata per la caratterizzazione dei processi di crescita guidata in sistemi neuronali. Al momento e nel prossimo futuro è di nostro interesse lo studio delle proprietà meccaniche di membrana. Queste infatti sono di interesse sia per la crescita guidata delle cellule che per l'individuazione di patologie. (literal)
Nome
  • Microscopia a Scansione di Sonda (literal)
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