MD.P06.031.001 Materiali ibridi organico-inorganico e materiali nanostrutturati per (opto)elettronica e sensoristica (MD.P06.031.002)
- Type
- Modulo (Classe)
- Label
- MD.P06.031.001 Materiali ibridi organico-inorganico e materiali nanostrutturati per (opto)elettronica e sensoristica (MD.P06.031.002) (literal)
- Prodotto
- Bias stress instability in organic transistors investigated by ac admittance measurements (Articolo in rivista) (http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/TIPO1101)
- Correlation between structural and opto-electronic properties of a-Si1-xCx:H films deposited by plasma enhanced chemical vapour deposition (Articolo in rivista) (http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/TIPO1101)
- Morphological and structural modifications induced in a-Si1-x C (x) :H films by excimer laser annealing (Articolo in rivista) (Prodotto della ricerca)
- Structural, Optical, and Electrical Characterization of ZnO and Al-doped ZnO Thin Films Deposited by MOCVD (Articolo in rivista) (Prodotto della ricerca)
- Realization of submicrometer structures by a confocal system on azopolymer films containing photoluminescent chromophores (Articolo in rivista) (Prodotto della ricerca)
- Codice
- MD.P06.031.002 (literal)
- Anno di chiusura previsto
- 2012-01-01T00:00:00+01:00 (literal)
- Istituto esecutore
- Primo anno di attività
- 2010-01-01T00:00:00+01:00 (literal)
- Abstract
- Il contesto in cui opera la Commessa è quello dello studio, a livello sia fondamentale che applicato, di materiali innovativi per la microelettronica, l'optoelettronica e la sensoristica. Gli obiettivi scientifici della Commessa sono legati al disegno, sintesi e caratterizzazione di proprietà fisiche fondamentali, soprattutto ottiche e di trasporto elettrico, di materiali innovativi organici, nanostrutture e sistemi ibridi organico-inorganico. Le tecniche di sintesi e diagnostiche adottate sono sia di tipo convenzionale (spettrofotometria, fotoluminescenza,spettroscopia di impedenza ,STM,AFM,XRD ) che avanzato (microscopia SNOM/confocale, tecniche pump-probe, generazione/rivelazione di seconda armonica ottica,misure elettriche a 3 terminali, misure di stress e rumore elettronico, EFM,spettroscopia di impedenza e STM in presenza di campi elettrici e magnetici ). (literal)
- Nome
- MD.P06.031.001 Materiali ibridi organico-inorganico e materiali nanostrutturati per (opto)elettronica e sensoristica (literal)
- Descrizione
- Descrizione del modulo "MD.P06.031.001 Materiali ibridi organico-inorganico e materiali nanostrutturati per (opto)elettronica e sensoristica (MD.P06.031.002)" (Descrizione modulo)
- Descrizione dello stato di avanzamento delle attività del modulo "MD.P06.031.001 Materiali ibridi organico-inorganico e materiali nanostrutturati per (opto)elettronica e sensoristica (MD.P06.031.002)" (Descrizione stato avanzamento attività)
- Descrizione collaborazioni del modulo "MD.P06.031.001 Materiali ibridi organico-inorganico e materiali nanostrutturati per (opto)elettronica e sensoristica (MD.P06.031.002)" (Descrizione collaborazioni)
- Modulo di
- Gestore
- ANTONIO CASSINESE (Persona)
- ANTONIO CASSINESE (Persona)
Incoming links:
- Modulo
- Gestore di
- ANTONIO CASSINESE (Persona)
- ANTONIO CASSINESE (Persona)
- Istituto esecutore di
- Descrizione di
- Descrizione del modulo "MD.P06.031.001 Materiali ibridi organico-inorganico e materiali nanostrutturati per (opto)elettronica e sensoristica (MD.P06.031.002)" (Descrizione modulo)
- Descrizione collaborazioni del modulo "MD.P06.031.001 Materiali ibridi organico-inorganico e materiali nanostrutturati per (opto)elettronica e sensoristica (MD.P06.031.002)" (Descrizione collaborazioni)
- Descrizione dello stato di avanzamento delle attività del modulo "MD.P06.031.001 Materiali ibridi organico-inorganico e materiali nanostrutturati per (opto)elettronica e sensoristica (MD.P06.031.002)" (Descrizione stato avanzamento attività)
- Prodotto di
- Structural, Optical, and Electrical Characterization of ZnO and Al-doped ZnO Thin Films Deposited by MOCVD (Articolo in rivista) (Prodotto della ricerca)
- Bias stress instability in organic transistors investigated by ac admittance measurements (Articolo in rivista) (http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/TIPO1101)
- Correlation between structural and opto-electronic properties of a-Si1-xCx:H films deposited by plasma enhanced chemical vapour deposition (Articolo in rivista) (http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/TIPO1101)
- Morphological and structural modifications induced in a-Si1-x C (x) :H films by excimer laser annealing (Articolo in rivista) (Prodotto della ricerca)
- Realization of submicrometer structures by a confocal system on azopolymer films containing photoluminescent chromophores (Articolo in rivista) (Prodotto della ricerca)
- http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID264827
- http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID265727
- http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID185073
- http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID185127
- http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID265731