Keywords of "Caratterizzazione e fabbricazione con tecnica RF-sputtering di strutture confinate dielettriche"
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- Parole chiave di "Caratterizzazione e fabbricazione con tecnica RF-sputtering di strutture confinate dielettriche" (literal)
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- Caratterizzazione e fabbricazione con tecnica RF-sputtering di strutture confinate dielettriche (Comunicazione a convegno) (http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/TIPO1303)
- Ha membro
- SiO2-HfO2 (Parola chiave)
- planar waveguides (Parola chiave)
- photoluminescence (Parola chiave)
- RF sputtering (Parola chiave)
- 1D microcavity (Parola chiave)
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- planar waveguides (Parola chiave)
- photoluminescence (Parola chiave)
- RF sputtering (Parola chiave)
- SiO2-HfO2 (Parola chiave)
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