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					<div id="navpath"><strong>http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/unitaDiPersonaleInterno/MATRICOLA12583</strong> </div>
					<div class="scheda"><h1>FRANCESCO LA VIA</h1>
<dl><dt>Type</dt><dd><ul><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/persone.owl#Persona' class = 'external' >Persona</a> (Classe)</li></ul></dd><dt>Label</dt><dd><ul><li>FRANCESCO LA VIA (literal)</li><li>FRANCESCO LA VIA (literal)</li></ul></dd><dt>Subject</dt><dd><ul><li><a href='http://dbpedia.org/resource/Category:Semiconductors' class = 'external' >Semiconductors</a> (Categoria DBpedia)</li><li><a href='http://dbpedia.org/resource/Category:Semiconductor_materials' class = 'external' >Semiconductor materials</a> (Categoria DBpedia)</li><li><a href='http://dbpedia.org/resource/Category:Semiconductor_device_fabrication' class = 'external' >Semiconductor device fabrication</a> (Categoria DBpedia)</li></ul></dd><dt>Gestore di</dt><dd><ul><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/modulo/ID5360'>Nuovi processi per la produzione di wafer di Carburo di Silicio e nuove applicazioni nell'ambito del fotovoltaico e dei MEMS (MD.P05.009.001)</a> (Modulo)</li></ul></dd><dt>Persona in rapporto</dt><dd><ul><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/rapportoConCNR/MATRICOLA12583'>Rapporto con CNR di DOTT. FRANCESCO LA VIA</a> (Rapporto con CNR)</li></ul></dd><dt>Autore CNR di</dt><dd><ul><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID36787'>Structural and electronic characterization of (2,3(3)) bar-shaped stacking fault in 4H-SiC epitaxial layers (Articolo in rivista)</a> (http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/TIPO1101)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID36788'>Defect Influence on Heteroepitaxial 3C-SiC Young's Modulus (Articolo in rivista)</a> (http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/TIPO1101)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID65785'>High Quality Single Crystal 3C-SiC(111) Films Grown on Si(111) (Articolo in rivista)</a> (Prodotto della ricerca)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID65817'>3C-SiC heteroepitaxial growth on Inverted Silicon Pyramids (ISP) (Articolo in rivista)</a> (Prodotto della ricerca)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID65393'>Carbonization Study of Different Silicon Orientations (Articolo in rivista)</a> (Prodotto della ricerca)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID65395'>Optimisation of Epitaxial Layer Growth with HCl Addition by Optical and Electrical Characterization (Articolo in rivista)</a> (Prodotto della ricerca)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID172907'>Thermal oxidation of As and Ge implanted Si(100) (Articolo in rivista)</a> (Prodotto della ricerca)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID221187'>Activation Study of Implanted N+ in 6H-SiC by Scanning Capacitance Microscopy (Articolo in rivista)</a> (http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/TIPO1101)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID221239'>Origin of the C49-C54 volume anomaly in TiSi2 thin films: An in-situ XRD and TEM analysis (Articolo in rivista)</a> (http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/TIPO1101)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID36795'>Advanced Residual Stress Analysis and FEM Simulation on Heteroepitaxial 3C-SiC for MEMS Application (Articolo in rivista)</a> (http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/TIPO1101)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID144892'>Procedimento per incrementare la stabilità  termica di siliciuri su silicio (Brevetto)</a> (http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/TIPO1601)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID144915'>Semiconductor substrate suitable for the realisation of electronic and/ or optoelectronic devices and relative manufacturing process (Brevetto)</a> (http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/TIPO1601)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID208019'>Large area optical characterization of 3 and 4 inches 4H-SiC wafers (Articolo in rivista)</a> (http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/TIPO1101)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID65820'>Raman characterization of doped 3C-SiC/Si for different silicon substrates and C/Si ratios (Articolo in rivista)</a> (Prodotto della ricerca)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID36586'>Stacking faults evolution during epitaxial growths: Role of surface the kinetics (Articolo in rivista)</a> (http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/TIPO1101)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID36587'>Extended study of the step-bunching mechanism during the homoepitaxial growth of SiC (Articolo in rivista)</a> (http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/TIPO1101)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID211184'>Schottky-Ohmic Transition in Nickel Sllicide/SiC System: Is it Really a Solved Problem? (Articolo in rivista)</a> (http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/TIPO1101)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID220714'>SiC-4H Epitaxial Layer Growth by Trichlorosilane (TCS) as Silicon Precursor at Very High Growth Rate. (Articolo in rivista)</a> (Prodotto della ricerca)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID221166'>SiC-4H epitaxial layer growth using trichlorosilane (TCS) as silicon precursor (Articolo in rivista)</a> (http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/TIPO1101)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID65786'>Defects in High Energy Ion Irradiated 4H-SiC (Articolo in rivista)</a> (Prodotto della ricerca)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID65788'>Atomistic and Continuum Simulations of the Homo-epitaxial           Growth of SiC (Articolo in rivista)</a> (Prodotto della ricerca)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID65783'>Towards Large Area (111)3C-SiC Films Grown on off-oriented (111)Si (Articolo in rivista)</a> (Prodotto della ricerca)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID221169'>Heteroepitaxial growth of 3C-SiC on Silicon-Porous Silicon-Silicon (SPS) substrates (Articolo in rivista)</a> (http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/TIPO1101)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID221175'>Optimisation of epitaxial layer growth by Schottky diodes electrical characterization (Articolo in rivista)</a> (http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/TIPO1101)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID221163'>3C-SiC hetero-epitaxial films for sensor fabrication (Contributo in atti di convegno)</a> (http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/TIPO1301)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID221177'>SiC growth rockets with hydrogen chloride addition (Articolo in rivista)</a> (Prodotto della ricerca)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID221173'>Epitaxial layers grown with HCl addition: A comparison with the standard process (Articolo in rivista)</a> (Prodotto della ricerca)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID220712'>Thin SiC-4H epitaxial layer growth by trichlorosilane (TCS) as silicon precursor with very abrupt junctions (Articolo in rivista)</a> (Prodotto della ricerca)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID220717'>Theoretical monte carlo study of the formation and evolution of defects in the homoepitaxial growth of SiC (Articolo in rivista)</a> (Prodotto della ricerca)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID170683'>High resolution investigation of atomic interdiffusion during Co/Ni/Si phase transition (Contributo in atti di convegno)</a> (Prodotto della ricerca)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID87007'>Optical characterization of bulk mobility in 3C-SiC films grown on different orientation of Si substrates (Contributo in atti di convegno)</a> (Prodotto della ricerca)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID220716'>3C-SiC heteroepitaxy on (100), (111) and (110) Si using Trichlorosilane (TCS) as the silicon precursor (Articolo in rivista)</a> (Prodotto della ricerca)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID86598'>Effect of Dopant Concentration on High Voltage 4H-SiC Schottky Diodes (Contributo in atti di convegno)</a> (Prodotto della ricerca)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID221185'>Comparison Between Different Schottky Diode Edge Termination Structures: Simulations and Experimental Results (Articolo in rivista)</a> (http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/TIPO1101)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID221189'>Low Power Dissipation SiC Schottky Rectifiers with a Dual-Metal Planar Structure (Articolo in rivista)</a> (http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/TIPO1101)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID251796'>On the \"Step Bunching\" Phenomena Observed on Etched and Homoepitaxially Grown 4H Silicon Carbide (Articolo in rivista)</a> (Prodotto della ricerca)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID222281'>Correlation between microstructure control, density and diffusion barrier properties of TiN(O) films (Articolo in rivista)</a> (Prodotto della ricerca)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID312104'>Mechanisms of growth and defect properties of epitaxial SiC (Articolo in rivista)</a> (Prodotto della ricerca)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID281142'>Theoretical and experimental study of the role of cell-cell dipole interaction in dielectrophoretic devices: application to polynomial electrodes (Articolo in rivista)</a> (http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/TIPO1101)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID151766'>Codice Montecarlo per la simulazione della crescita del SiC (3C e 4H) (Risultati di valorizzazione applicativa)</a> (http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/TIPO1724)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID202350'>Electron backscattering from stacking faults in SiC by means of ab initio quantum transport calculations (Articolo in rivista)</a> (http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/TIPO1101)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID216122'>Monte carlo study of the hetero-polytypical growth of cubic on hexagonal silicon carbide polytypes (Articolo in rivista)</a> (http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/TIPO1101)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID151765'>Realizzazzione di micro-strutture per la determinazione dello stress nell'etero-epitassia 3C-SiC/Si (Risultati di valorizzazione applicativa)</a> (http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/TIPO1724)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID211174'>Activation Study of Implanted N+ in 6H-SiC by Scanning Capacitance Microscopy (Articolo in rivista)</a> (http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/TIPO1101)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID272268'>Micro-Raman analysis and finite-element modeling of 3 C-SiC microstructures (Articolo in rivista)</a> (Prodotto della ricerca)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID272238'>A new position sensitive anode for plasmas diagnostic (Articolo in rivista)</a> (Prodotto della ricerca)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID273244'>High Growth Rate Process in a SiC Horizontal Reactor with HCl Addition: Structural and Electrical Characterization (Contributo in atti di convegno)</a> (Prodotto della ricerca)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID35209'>Effects of Ta interlayer on the titanium silicide reaction: C40 formation and scalability of the tisi2 process (Articolo in rivista)</a> (Prodotto della ricerca)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID35131'>C49-C54 phase transition in nanometric titanium disilicide nanograins (Articolo in rivista)</a> (Prodotto della ricerca)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID272290'>3C-SiC growth on (001) Si substrates by using a multilayer buffer (Articolo in rivista)</a> (Prodotto della ricerca)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID35262'>Quantitative high-resolution two-dimensional profiling of sic by scanning capacitance microscopy (Articolo in rivista)</a> (Prodotto della ricerca)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID35268'>Electrical characterization of nickel silicide contacts on silicon carbide (Articolo in rivista)</a> (Prodotto della ricerca)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID306902'>Study of the role of particle-particle dipole interaction in dielectrophoretic devices for biomarkers identification (Contributo in atti di convegno)</a> (Prodotto della ricerca)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID35299'>High-resolution investigation of atomic interdiffusion during Co/Ni/Si phase transition (Articolo in rivista)</a> (Prodotto della ricerca)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID35223'>Electrical resistivity and Hall coefficient of C49, C40, and C54 tisi2 thin-film phases (Articolo in rivista)</a> (Prodotto della ricerca)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID35300'>Time resolved study on Co/Ni/a-Si phase transition during isothermal annealing at 400 °C (Articolo in rivista)</a> (Prodotto della ricerca)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID35250'>Electrical properties of tisi2 clusters in poly-Si (Articolo in rivista)</a> (Prodotto della ricerca)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID35321'>First stages of silicidation in Ti/Si thin films (Articolo in rivista)</a> (Prodotto della ricerca)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID35424'>Richardson's constant in inhomogeneous silicon carbide Schottky contacts (Articolo in rivista)</a> (Prodotto della ricerca)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID35460'>Dual metal SiC Schottky rectifiers with low power dissipation (Articolo in rivista)</a> (Prodotto della ricerca)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID35667'>Defects in He+ irradiated 6H-SiC probed by DLTS and LTPL measurements (Articolo in rivista)</a> (Prodotto della ricerca)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID35676'>Effects of thermal treatments on the structural and electrical properties of Ni/Ti bilayers Schottky contacts on 6H-SiC (Articolo in rivista)</a> (Prodotto della ricerca)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID35259'>Direct measurement of the growth rate during the C49 to C54 transformation in tisi2: Activation energy (Articolo in rivista)</a> (Prodotto della ricerca)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID151751'>Processo di crescita omo-epitassiale di SiC ad altissima velocità di crescita (Risultati di valorizzazione applicativa)</a> (http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/TIPO1724)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID35831'>High growth rate process in a SiC horizontal CVD reactor using HCl (Articolo in rivista)</a> (Prodotto della ricerca)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID308811'>Strain evaluation and fracture properties of hetero-epitaxial single crystal 3C-SiC squared membrane (Articolo in rivista)</a> (http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/TIPO1101)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID35754'>Structural and electrical properties of Ni/Ti Schottky contacts on silicon carbide upon thermal annealing (Articolo in rivista)</a> (Prodotto della ricerca)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID35684'>Environment influence on Ti diffusion and layer degradation of a SiC/Ni2Si/TiW/Au contact structure (Articolo in rivista)</a> (Prodotto della ricerca)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID35764'>Tailoring the Ti/4H-SiC Schottky barrier by ion irradiation (Articolo in rivista)</a> (Prodotto della ricerca)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID35701'>Influence of defects on the kinetic of C49-C54TiSi(2) transformation (Articolo in rivista)</a> (Prodotto della ricerca)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID35756'>Structural characterization and oxygen concentration profiling of a Co/Si multilayer structure (Articolo in rivista)</a> (Prodotto della ricerca)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID35709'>Investigations of transient phase formation in Ti/Si thin film reaction (Articolo in rivista)</a> (Prodotto della ricerca)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID35760'>Study of TiW/Au thin films as metallization stack for high temperature and harsh environment devices on 6H Silicon Carbide (Articolo in rivista)</a> (Prodotto della ricerca)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID35785'>A kinetic Monte Carlo method on super-lattices for the study of the defect formation in the growth of close packed structures (Articolo in rivista)</a> (Prodotto della ricerca)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID272319'>High performance SiC detectors for MeV ion beams generated by intense pulsed laser plasmas (Articolo in rivista)</a> (Prodotto della ricerca)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID35775'>Time resolved COSi2 reaction in presence of Ti and TiN cap layers (Articolo in rivista)</a> (Prodotto della ricerca)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID35369'>C49 defect influence on the C49?C54 transition (Articolo in rivista)</a> (http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/TIPO1101)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID308756'>A novel micro-Raman technique to detect and characterize 4H-SiC stacking faults (Articolo in rivista)</a> (http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/TIPO1101)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID308776'>Monte Carlo study of the early growth stages of 3C-SiC on misoriented < 11-20 > and < 1-100 > 6H-SiC substrates (Articolo in rivista)</a> (http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/TIPO1101)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID308794'>MeV ion beams generated by intense pulsed laser monitored by Silicon Carbide detectors (Articolo in rivista)</a> (http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/TIPO1101)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID35423'>Highly reproducible ideal SiC Schottky rectifiers: effects of surface preparation and thermal annealing on the Ni/6H-SiC barrier height (Articolo in rivista)</a> (http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/TIPO1101)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID35422'>Temperature dependence of the c-axis mobility in 6H-SiC Schottky diodes (Articolo in rivista)</a> (http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/TIPO1101)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID35320'>Thermal expansion and stress development in the first stages of silicidation in Ti/Si thin films (Articolo in rivista)</a> (http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/TIPO1101)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID35824'>Temperature dependence of the c-axis drift mobility in 4H-SIC (Articolo in rivista)</a> (Prodotto della ricerca)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID35545'>Drift mobility in 4H-SiC Schottky diodes (Articolo in rivista)</a> (Prodotto della ricerca)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID308791'>Evaluation of mechanical and optical properties of hetero-epitaxial single crystal 3C-SiC squared-membrane (Articolo in rivista)</a> (Prodotto della ricerca)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID136952'>Ohmic contacts to SiC (Contributo in volume (capitolo o saggio))</a> (Prodotto della ricerca)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID308779'>Curvature evaluation of Si/3C-SiC/Si hetero-structure grown by Chemical Vapor Deposition (Articolo in rivista)</a> (Prodotto della ricerca)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID35546'>Effects of epitaxial layer growth parameters on the defect density and on the electrical characteristics of Schottky diodes (Articolo in rivista)</a> (http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/TIPO1101)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID35467'>Effects of N-induced heterogeneous nucleation and growth of cavities at the CoSi2/polycrystalline-silicon interface (Articolo in rivista)</a> (Prodotto della ricerca)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID35499'>Effects of annealing temperature on the degree of inhomogeneity of nickel-silicide/SiC Schottky barrier (Articolo in rivista)</a> (Prodotto della ricerca)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID65396'>Film Morphology and Process Conditions in Epitaxial Silicon Carbide Growth via Chlorides Route (Articolo in rivista)</a> (http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/TIPO1101)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID65543'>Ohmic Contact to SiC (Articolo in rivista)</a> (http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/TIPO1101)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID35509'>New achievements on CVD based methods for SIC epitaxial growth (Articolo in rivista)</a> (Prodotto della ricerca)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID144913'>Process for manufacturing a schottky contact on a semiconductor substrate (Brevetto)</a> (Prodotto della ricerca)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID144914'>Procedimento di formazione di contatti ohmici su carburo di silicio con migliorate caratteristiche morfologiche ed elettriche dell'interfaccia (Brevetto)</a> (Prodotto della ricerca)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID65784'>Residual Stress Measurement on Hetero-epitaxial 3C-SiC Films (Articolo in rivista)</a> (http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/TIPO1101)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID35477'>Effect of a Ti cap layer on the diffusion of Co atoms during CoSi2 reaction (Articolo in rivista)</a> (Prodotto della ricerca)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID65787'>Thick Epitaxial Layers Growth by Chlorine Addition (Articolo in rivista)</a> (http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/TIPO1101)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID65818'>Growth rate effect on 3C-SiC film residual stress on (100) Si substrates (Articolo in rivista)</a> (http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/TIPO1101)</li><li><a 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3C-SiC/Si for MEMS application (Articolo in rivista)</a> (Prodotto della ricerca)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID308812'>Analysis on 3C-SiC layer grown on pseudomorphic-Si/Si1-xGex/Si(001) heterostructures (Articolo in rivista)</a> (http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/TIPO1101)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID216185'>Stress relaxation study in 3C-SiC microstructures by micro-raman analysis and finite element modeling (Articolo in rivista)</a> (http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/TIPO1101)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID216202'>Patterned substrate with inverted silicon pyramids for 3C-SiC epitaxial growth: A comparison with conventional (001) Si substrate (Articolo in rivista)</a> (http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/TIPO1101)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID36789'>First Principles Investigation on the Modifications of the 4H-SiC Band Structure Due to the (4,4) and (3,5) Stacking Faults (Articolo in rivista)</a> (Prodotto della ricerca)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID308772'>4H-SiC epitaxial layer grown on 150 mm automatic horizontal hot wall reactor PE1O6 (Articolo in rivista)</a> (http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/TIPO1101)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID216838'>3C-SiC film growth on Si substrates (Articolo in rivista)</a> (http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/TIPO1101)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID149092'>Diodo Schottky da 600 V 4 A in carburo di silicio (Manufatti, prototipi d'arte e relativi progetti)</a> (Prodotto della ricerca)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID309451'>Electrically Tunable Ge2Sb2Te5 Resistors Independent of the Temperature for Reconfigurable High Precision Electronics (Comunicazione a convegno)</a> (Prodotto della ricerca)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID216894'>Reduction of the surface density of single Shockley faults by TCS growth process (Articolo in rivista)</a> (http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/TIPO1101)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID216917'>Evolution of extended defects during epitaxial growths: A Monte Carlo study (Articolo in rivista)</a> (http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/TIPO1101)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID36621'>Multiscale simulation for epitaxial silicon carbide growth by chlorides route (Articolo in rivista)</a> (http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/TIPO1101)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID216148'>Study of the effects of growth rate, miscut direction and postgrowth argon annealing on the surface morphology of homoepitaxially grown 4H silicon carbide films (Articolo in rivista)</a> (http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/TIPO1101)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID180682'>Residual stress measurement and simulation of 3C-SiC single and poly crystal cantilevers (Articolo in rivista)</a> (Prodotto della ricerca)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID217572'>SiC Films and Coatings: Amorphous, Polycrystalline, Single Crystal Forms (Contributo in volume (capitolo o saggio))</a> (Prodotto della ricerca)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID36550'>Structural defects in (100) 3C-SiC heteroepitaxy: Influence of the buffer layer morphology on generation and propagation of stacking faults and microtwins (Articolo in rivista)</a> (http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/TIPO1101)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID36548'>Effect of the miscut direction in (111) 3C-SiC film growth on off-axis (111)Si (Articolo in rivista)</a> (http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/TIPO1101)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID35639'>Ion irradiation of inhomogeneous Schottky barriers on silicon carbide (Articolo in rivista)</a> (Prodotto della ricerca)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID35637'>Silicon carbide: Defects and devices (Articolo in rivista)</a> (Prodotto della ricerca)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID35638'>Ion-beam induced modifications of titanium Schottky barrier on 4H-SiC (Articolo in rivista)</a> (Prodotto della ricerca)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID218313'>Focus Issue: Silicon Carbide - Materials, Processing and Devices (Curatela)</a> (http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/TIPO1501)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID36652'>High-quality 6 inch (111) 3C-SiC films grown on off-axis (111) Si substrates (Articolo in rivista)</a> (Prodotto della ricerca)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID36727'>Microtwin reduction in 3C-SiC heteroepitaxy (Articolo in rivista)</a> (http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/TIPO1101)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID36719'>Optical investigation of bulk electron mobility in 3C-SiC films on Si substrates (Articolo in rivista)</a> (http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/TIPO1101)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID172898'>Thermal oxidation of Si (001) single crystal implanted with Ge ions (Articolo in rivista)</a> (Prodotto della ricerca)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID35680'>Electrical characterization of inhomogeneous Ni2Si/SiC Schottky contacts (Articolo in rivista)</a> (Prodotto della ricerca)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID35734'>Schottky-Ohmic transition in nickel silicide/SiC-4H system: the effect of non uniform Schottky barrier (Articolo in rivista)</a> (Prodotto della ricerca)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID149108'>Processo di crescita omo-epitassiale di SiC ad altissima velocità di crescita (Progetti)</a> (Prodotto della ricerca)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID149109'>Processo di crescita etero-epitassiale di SiC mediante precursori innovativi (Progetti)</a> (Prodotto della ricerca)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID216863'>Raman stress characterization of hetero-epitaxial 3C-SiC free standing structures (Articolo in rivista)</a> (http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/TIPO1101)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID216905'>Raman study of bulk mobility in 3C-SiC heteroepitaxy (Articolo in rivista)</a> (http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/TIPO1101)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID216883'>Advanced stress analysis by micro-structures realization on high quality hetero-epitaxial 3C-SiC for MEMS application (Articolo in rivista)</a> (http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/TIPO1101)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID35267'>Reduction of the power dissipation in silicon carbide Schottky rectifiers by a dual-metal planar structure (Articolo in rivista)</a> (Prodotto della ricerca)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID217536'>Fast growth rate epitaxy by chloride precursors (Contributo in volume (capitolo o saggio))</a> (http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/TIPO1201)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID217576'>Silicon Carbide Epitaxy (Curatela)</a> (Prodotto della ricerca)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID302547'>Electrically Trimmable Phase Change Ge2Sb2Te5 Resistors With Tunable Temperature Coefficient of Resistance (Articolo in rivista)</a> (Prodotto della ricerca)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID35425'>Silicon carbide pinch rectifiers using a dual-metal Ti/Ni2Si Schottky barrier (Articolo in rivista)</a> (Prodotto della ricerca)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID35459'>Schottky ohmic transition in nickel silicide/SiC-4H system: is it really a solved problem? (Articolo in rivista)</a> (Prodotto della ricerca)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID36274'>Heteroepitaxial growth of (111) 3C-SiC on (110) Si substrate by second order twins (Articolo in rivista)</a> (Prodotto della ricerca)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID36275'>Defect formation and evolution in the step-flow growth of silicon carbide: A Monte Carlo study (Articolo in rivista)</a> (Prodotto della ricerca)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID302680'>Hetero-epitaxial Single Crystal 3C-SiC Opto-Mechanical Pressure Sensor (Abstract/Poster in convegno)</a> (Prodotto della ricerca)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID36391'>4H-SiC epitaxial layer growth by trichlorosilane (TCS) (Articolo in rivista)</a> (Prodotto della ricerca)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID87006'>Monte Carlo study of morphological surface instabilities during misoriented epitaxial growth of cubic and hexagonal polytypes (Contributo in atti di convegno)</a> (Prodotto della ricerca)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID206922'>Crystal recovery from Al-implantation induced damaging in 3C-SiC films (Articolo in rivista)</a> (http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/TIPO1101)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID35843'>Effects of implantation defects on the carrier concentration of 6H-SiC (Articolo in rivista)</a> (Prodotto della ricerca)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID35830'>4H SiC epitaxial growth with chlorine addition (Articolo in rivista)</a> (Prodotto della ricerca)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID206870'>Consideration on the thermal expansion of 3C-SiC epitaxial layer on Si substrates (Articolo in rivista)</a> (http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/TIPO1101)</li></ul></dd><dt>Coautore</dt><dd><ul><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/unitaDiPersonaleInterno/MATRICOLA10107'>FILIPPO GIANNAZZO</a> (Persona)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/unitaDiPersonaleInterno/MATRICOLA5544'>SEBANIA LIBERTINO</a> (Unità di personale interno)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/unitaDiPersonaleInterno/MATRICOLA8277'>GIUSEPPE ALESSIO MARIA D'ARRIGO</a> (Unità di personale interno)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/unitaDiPersonaleInterno/MATRICOLA11487'>FULVIO MANCARELLA</a> (Persona)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/unitaDiPersonaleEsterno/ID4947'>Viviana Scuderi</a> (Persona)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/unitaDiPersonaleInterno/MATRICOLA15344'>FRANCESCO PAOLO CAMMARATA</a> (Unità di personale interno)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/unitaDiPersonaleInterno/MATRICOLA15373'>VALENTINA BRAVATA'</a> (Persona)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/unitaDiPersonaleEsterno/ID17632'>ANDREA CANINO</a> (Unità di personale esterno)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/unitaDiPersonaleInterno/MATRICOLA19930'>ROSARIO CORRADO SPINELLA</a> (Persona)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/unitaDiPersonaleEsterno/ID8750'>PIETRO DAVIDE DELUGAS</a> (Unità di personale esterno)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/unitaDiPersonaleInterno/MATRICOLA8651'>ALBERTO RONCAGLIA</a> (Unità di personale interno)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/unitaDiPersonaleInterno/MATRICOLA8590'>CORRADO BONGIORNO</a> (Persona)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/unitaDiPersonaleInterno/MATRICOLA550'>ANTONIO DAMASO MARIA MARINO</a> (Persona)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/unitaDiPersonaleInterno/MATRICOLA6767'>SALVATORE PANNITTERI</a> (Unità di personale interno)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/unitaDiPersonaleEsterno/ID9714'>GRAZIA LITRICO</a> (Unità di personale esterno)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/unitaDiPersonaleInterno/MATRICOLA465'>VITO RAINERI</a> (Persona)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/unitaDiPersonaleInterno/MATRICOLA15616'>LUCA BELSITO</a> (Unità di personale interno)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/unitaDiPersonaleInterno/MATRICOLA5822'>STEFANO COLONNA</a> (Unità di personale interno)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/unitaDiPersonaleEsterno/ID2932'>IOANNIS DERETZIS</a> (Unità di personale esterno)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/unitaDiPersonaleEsterno/ID2778'>SALVATORE DI FRANCO</a> (Unità di personale esterno)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/unitaDiPersonaleInterno/MATRICOLA7391'>MARIA CARLA GILARDI</a> (Persona)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/unitaDiPersonaleInterno/MATRICOLA19933'>ALDO SPADA</a> (Persona)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/unitaDiPersonaleInterno/MATRICOLA14323'>GIUSI IRMA FORTE</a> (Persona)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/unitaDiPersonaleInterno/MATRICOLA14556'>PATRICK FIORENZA</a> (Persona)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/unitaDiPersonaleInterno/MATRICOLA9153'>FABIO SANTO IACONA</a> (Unità di personale interno)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/unitaDiPersonaleInterno/MATRICOLA11092'>GIORGIO RUSSO</a> (Unità di personale interno)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/unitaDiPersonaleInterno/MATRICOLA8848'>FABRIZIO ROCCAFORTE</a> (Persona)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/unitaDiPersonaleInterno/MATRICOLA6734'>ANTONINO LA MAGNA</a> (Unità di personale interno)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/unitaDiPersonaleInterno/MATRICOLA463'>VITTORIO PRIVITERA</a> (Persona)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/unitaDiPersonaleInterno/MATRICOLA286'>ANTONELLA POGGI</a> (Unità di personale interno)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/unitaDiPersonaleInterno/MATRICOLA29021'>GIAN CARLO CARDINALI</a> (Persona)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/unitaDiPersonaleInterno/MATRICOLA8851'>SILVIA SCALESE</a> (Persona)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/unitaDiPersonaleEsterno/ID2827'>PATRICK FIORENZA</a> (Unità di personale esterno)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/unitaDiPersonaleInterno/MATRICOLA11460'>FRANCESCO MOSCATELLI</a> (Unità di personale interno)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/unitaDiPersonaleEsterno/ID9744'>LUCIA CALCAGNO</a> (Unità di personale esterno)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/unitaDiPersonaleInterno/MATRICOLA14590'>LUIGI MINAFRA</a> (Unità di personale interno)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/unitaDiPersonaleInterno/MATRICOLA8584'>MARKUS ITALIA</a> (Persona)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/unitaDiPersonaleInterno/MATRICOLA11205'>SALVATORE DI FRANCO</a> (Persona)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/unitaDiPersonaleEsterno/ID4546'>Andrea Severino</a> (Unità di personale esterno)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/unitaDiPersonaleEsterno/ID17634'>NICOLO' PILUSO</a> (Unità di personale esterno)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/unitaDiPersonaleInterno/MATRICOLA8186'>ALESSANDRA ALBERTI</a> (Persona)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/unitaDiPersonaleEsterno/ID9710'>RUGGERO ANZALONE</a> (Unità di personale esterno)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/unitaDiPersonaleEsterno/ID9712'>STEPHEN EDWARD SADDOW</a> (Persona)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/unitaDiPersonaleEsterno/ID9713'>MASSIMO CAMARDA</a> (Persona)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/unitaDiPersonaleInterno/MATRICOLA14053'>ROBERTA NIPOTI</a> (Unità di personale interno)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/unitaDiPersonaleEsterno/ID17052'>SETTIMIO MOBILIO</a> (Unità di personale esterno)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/unitaDiPersonaleInterno/MATRICOLA14567'>STEFANIA MARIA SERENA PRIVITERA</a> (Persona)</li></ul></dd><dt>Responsabile di</dt><dd><ul><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/commessa/ID5346'>Nuovi processi per la produzione di wafer di Carburo di Silicio e nuove applicazioni nell'ambito del fotovoltaico e dei MEMS (MD.P05.009)</a> (Commessa)</li></ul></dd><dt>Nome</dt><dd><ul><li>FRANCESCO (literal)</li></ul></dd><dt>Cognome</dt><dd><ul><li>LA VIA (literal)</li></ul></dd><dt>Afferisce a</dt><dd><ul><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/istituto/CDS057'>Istituto per la microelettronica e microsistemi (IMM)</a> (Istituto)</li></ul></dd><dt>Ha pubblicazioni con</dt><dd><ul><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/unitaDiPersonaleInterno/MATRICOLA19930'>ROSARIO CORRADO SPINELLA</a> (Persona)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/unitaDiPersonaleInterno/MATRICOLA19933'>ALDO SPADA</a> (Persona)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/unitaDiPersonaleEsterno/ID2827'>PATRICK FIORENZA</a> (Unità di personale esterno)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/unitaDiPersonaleEsterno/ID9744'>LUCIA CALCAGNO</a> (Unità di personale esterno)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/unitaDiPersonaleEsterno/ID9712'>STEPHEN EDWARD SADDOW</a> (Persona)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/unitaDiPersonaleEsterno/ID9713'>MASSIMO CAMARDA</a> (Persona)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/unitaDiPersonaleEsterno/ID9710'>RUGGERO ANZALONE</a> (Unità di personale esterno)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/unitaDiPersonaleInterno/MATRICOLA8584'>MARKUS ITALIA</a> (Persona)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/unitaDiPersonaleEsterno/ID2778'>SALVATORE DI FRANCO</a> (Unità di personale esterno)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/unitaDiPersonaleInterno/MATRICOLA9153'>FABIO SANTO IACONA</a> (Unità di personale interno)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/unitaDiPersonaleInterno/MATRICOLA465'>VITO RAINERI</a> (Persona)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/unitaDiPersonaleInterno/MATRICOLA6734'>ANTONINO LA MAGNA</a> (Unità di personale interno)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/unitaDiPersonaleInterno/MATRICOLA8848'>FABRIZIO ROCCAFORTE</a> (Persona)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/unitaDiPersonaleInterno/MATRICOLA8851'>SILVIA SCALESE</a> (Persona)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/unitaDiPersonaleInterno/MATRICOLA5544'>SEBANIA LIBERTINO</a> (Unità di personale interno)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/unitaDiPersonaleInterno/MATRICOLA8277'>GIUSEPPE ALESSIO MARIA D'ARRIGO</a> (Unità di personale interno)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/unitaDiPersonaleEsterno/ID4546'>Andrea Severino</a> (Unità di personale esterno)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/unitaDiPersonaleInterno/MATRICOLA6767'>SALVATORE PANNITTERI</a> (Unità di personale interno)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/unitaDiPersonaleInterno/MATRICOLA8590'>CORRADO BONGIORNO</a> (Persona)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/unitaDiPersonaleEsterno/ID9714'>GRAZIA LITRICO</a> (Unità di personale esterno)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/unitaDiPersonaleInterno/MATRICOLA8186'>ALESSANDRA ALBERTI</a> (Persona)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/unitaDiPersonaleInterno/MATRICOLA10107'>FILIPPO GIANNAZZO</a> (Persona)</li></ul></dd><dt>Http://www.cnr.it/ontology/persone.owl#argomentoDiRicercaSimile</dt><dd><ul><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/unitaDiPersonaleEsterno/ID2808'>Ferdinando Iucolano</a> (Persona)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/unitaDiPersonaleInterno/MATRICOLA11244'>MATTEO BOSI</a> (Unità di personale interno)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/unitaDiPersonaleInterno/MATRICOLA6558'>CESARE FRIGERI</a> (Unità di personale interno)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/unitaDiPersonaleEsterno/ID8422'>Giuseppina Ambrosone</a> (Persona)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/unitaDiPersonaleEsterno/ID4546'>Andrea Severino</a> (Unità di personale esterno)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/unitaDiPersonaleInterno/MATRICOLA1307'>GIOVANNI ATTOLINI</a> (Persona)</li></ul></dd>

</dl>

<br/><h4>Incoming links:</h4><br/><dl><dt>Autore CNR</dt><dd><ul><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID86598'>Effect of Dopant Concentration on High Voltage 4H-SiC Schottky Diodes (Contributo in atti di convegno)</a> (Prodotto della ricerca)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID87007'>Optical characterization of bulk mobility in 3C-SiC films grown on different orientation of Si substrates (Contributo in atti di convegno)</a> (Prodotto della ricerca)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID87006'>Monte Carlo study of morphological surface instabilities during misoriented epitaxial growth of cubic and hexagonal polytypes (Contributo in atti di convegno)</a> (Prodotto della ricerca)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID35259'>Direct measurement of the growth rate during the C49 to C54 transformation in tisi2: Activation energy (Articolo in rivista)</a> (Prodotto della ricerca)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID35300'>Time resolved study on Co/Ni/a-Si phase transition during isothermal annealing at 400 °C (Articolo in rivista)</a> (Prodotto della ricerca)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID35321'>First stages of silicidation in Ti/Si thin films (Articolo in rivista)</a> (Prodotto della ricerca)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID35424'>Richardson's constant in inhomogeneous silicon carbide Schottky contacts (Articolo in rivista)</a> (Prodotto della ricerca)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID35460'>Dual metal SiC Schottky rectifiers with low power dissipation (Articolo in rivista)</a> (Prodotto della ricerca)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID35499'>Effects of annealing temperature on the degree of inhomogeneity of nickel-silicide/SiC Schottky barrier (Articolo in rivista)</a> (Prodotto della ricerca)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID35509'>New achievements on CVD based methods for SIC epitaxial growth (Articolo in rivista)</a> (Prodotto della ricerca)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID35545'>Drift mobility in 4H-SiC Schottky diodes (Articolo in rivista)</a> (Prodotto della ricerca)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID35609'>C49-C54 phase transition in nanometric titanium disilicide grains (Articolo in rivista)</a> (http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/TIPO1101)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID35623'>Temperature Stability of Breakdown Voltage on SiC Power Schottky Diodes with Different Barrier Heights (Articolo in rivista)</a> (http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/TIPO1101)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID35641'>Defect evolution in ion irradiated 6H-SiC epitaxial layers (Articolo in rivista)</a> (Prodotto della ricerca)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID35684'>Environment influence on Ti diffusion and layer degradation of a SiC/Ni2Si/TiW/Au contact structure (Articolo in rivista)</a> (Prodotto della ricerca)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID35701'>Influence of defects on the kinetic of C49-C54TiSi(2) transformation (Articolo in rivista)</a> (Prodotto della ricerca)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID35709'>Investigations of transient phase formation in Ti/Si thin film reaction (Articolo in rivista)</a> (Prodotto della ricerca)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID35754'>Structural and electrical properties of Ni/Ti Schottky contacts on silicon carbide upon thermal annealing (Articolo in rivista)</a> (Prodotto della ricerca)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID35824'>Temperature dependence of the c-axis drift mobility in 4H-SIC (Articolo in rivista)</a> (Prodotto della ricerca)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID35994'>Point defect production efficiency in ion irradiated 4H-SiC (Articolo in rivista)</a> (http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/TIPO1101)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID36056'>Thin crystalline 3C-SiC layer growth through carbonization of differently oriented Si substrates (Articolo in rivista)</a> (http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/TIPO1101)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID36466'>Heteroepitaxy of 3C-SiC on different on-axis oriented silicon substrates (Articolo in rivista)</a> (http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/TIPO1101)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID36474'>Monte Carlo study of the step flow to island nucleation transition for close packed structures (Articolo in rivista)</a> (http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/TIPO1101)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID36518'>Low temperature reaction of point defects in ion irradiated 4H-SiC (Articolo in rivista)</a> (Prodotto della ricerca)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID36549'>Preferential oxidation of stacking faults in epitaxial off-axis (111) 3C-SiC films (Articolo in rivista)</a> (Prodotto della ricerca)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID36578'>Low Stress Heteroepitaxial 3C-SiC Films Characterized by Microstructure Fabrication and Finite Elements Analysis (Articolo in rivista)</a> (http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/TIPO1101)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID36652'>High-quality 6 inch (111) 3C-SiC films grown on off-axis (111) Si substrates (Articolo in rivista)</a> (Prodotto della ricerca)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID35131'>C49-C54 phase transition in nanometric titanium disilicide nanograins (Articolo in rivista)</a> (Prodotto della ricerca)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID35209'>Effects of Ta interlayer on the titanium silicide reaction: C40 formation and scalability of the tisi2 process (Articolo in rivista)</a> (Prodotto della ricerca)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID35223'>Electrical resistivity and Hall coefficient of C49, C40, and C54 tisi2 thin-film phases (Articolo in rivista)</a> (Prodotto della ricerca)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID35250'>Electrical properties of tisi2 clusters in poly-Si (Articolo in rivista)</a> (Prodotto della ricerca)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID35262'>Quantitative high-resolution two-dimensional profiling of sic by scanning capacitance microscopy (Articolo in rivista)</a> (Prodotto della ricerca)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID35268'>Electrical characterization of nickel silicide contacts on silicon carbide (Articolo in rivista)</a> (Prodotto della ricerca)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID35299'>High-resolution investigation of atomic interdiffusion during Co/Ni/Si phase transition (Articolo in rivista)</a> (Prodotto della ricerca)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID35320'>Thermal expansion and stress development in the first stages of silicidation in Ti/Si thin films (Articolo in rivista)</a> (http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/TIPO1101)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID35369'>C49 defect influence on the C49?C54 transition (Articolo in rivista)</a> (http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/TIPO1101)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID35422'>Temperature dependence of the c-axis mobility in 6H-SiC Schottky diodes (Articolo in rivista)</a> (http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/TIPO1101)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID35423'>Highly reproducible ideal SiC Schottky rectifiers: effects of surface preparation and thermal annealing on the Ni/6H-SiC barrier height (Articolo in rivista)</a> (http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/TIPO1101)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID35467'>Effects of N-induced heterogeneous nucleation and growth of cavities at the CoSi2/polycrystalline-silicon interface (Articolo in rivista)</a> (Prodotto della ricerca)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID35477'>Effect of a Ti cap layer on the diffusion of Co atoms during CoSi2 reaction (Articolo in rivista)</a> (Prodotto della ricerca)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID35546'>Effects of epitaxial layer growth parameters on the defect density and on the electrical characteristics of Schottky diodes (Articolo in rivista)</a> (http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/TIPO1101)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID35667'>Defects in He+ irradiated 6H-SiC probed by DLTS and LTPL measurements (Articolo in rivista)</a> (Prodotto della ricerca)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID35676'>Effects of thermal treatments on the structural and electrical properties of Ni/Ti bilayers Schottky contacts on 6H-SiC (Articolo in rivista)</a> (Prodotto della ricerca)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID35756'>Structural characterization and oxygen concentration profiling of a Co/Si multilayer structure (Articolo in rivista)</a> (Prodotto della ricerca)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID35760'>Study of TiW/Au thin films as metallization stack for high temperature and harsh environment devices on 6H Silicon Carbide (Articolo in rivista)</a> (Prodotto della ricerca)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID35764'>Tailoring the Ti/4H-SiC Schottky barrier by ion irradiation (Articolo in rivista)</a> (Prodotto della ricerca)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID35775'>Time resolved COSi2 reaction in presence of Ti and TiN cap layers (Articolo in rivista)</a> (Prodotto della ricerca)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID35785'>A kinetic Monte Carlo method on super-lattices for the study of the defect formation in the growth of close packed structures (Articolo in rivista)</a> (Prodotto della ricerca)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID35831'>High growth rate process in a SiC horizontal CVD 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ricerca)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID151765'>Realizzazzione di micro-strutture per la determinazione dello stress nell'etero-epitassia 3C-SiC/Si (Risultati di valorizzazione applicativa)</a> (http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/TIPO1724)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID136952'>Ohmic contacts to SiC (Contributo in volume (capitolo o saggio))</a> (Prodotto della ricerca)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID144892'>Procedimento per incrementare la stabilità  termica di siliciuri su silicio (Brevetto)</a> (http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/TIPO1601)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID144915'>Semiconductor substrate suitable for the realisation of electronic and/ or optoelectronic devices and relative manufacturing process (Brevetto)</a> (http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/TIPO1601)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID149108'>Processo di crescita omo-epitassiale di SiC ad altissima velocità di crescita (Progetti)</a> (Prodotto della ricerca)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID149109'>Processo di crescita etero-epitassiale di SiC mediante precursori innovativi (Progetti)</a> (Prodotto della ricerca)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID151751'>Processo di crescita omo-epitassiale di SiC ad altissima velocità di crescita (Risultati di valorizzazione applicativa)</a> (http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/TIPO1724)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID144913'>Process for manufacturing a schottky contact on a semiconductor substrate (Brevetto)</a> (Prodotto della ricerca)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID144914'>Procedimento di formazione di contatti ohmici su carburo di silicio con migliorate caratteristiche morfologiche ed elettriche dell'interfaccia (Brevetto)</a> (Prodotto della ricerca)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID151766'>Codice Montecarlo per la simulazione della crescita del SiC (3C e 4H) (Risultati di valorizzazione applicativa)</a> (http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/TIPO1724)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID170683'>High resolution investigation of atomic interdiffusion during Co/Ni/Si phase transition (Contributo in atti di convegno)</a> (Prodotto della ricerca)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID172907'>Thermal oxidation of As and Ge implanted Si(100) (Articolo in rivista)</a> (Prodotto della ricerca)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID180682'>Residual stress measurement and simulation of 3C-SiC single and poly crystal cantilevers (Articolo in rivista)</a> (Prodotto della ricerca)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID208019'>Large area optical characterization of 3 and 4 inches 4H-SiC wafers (Articolo in rivista)</a> (http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/TIPO1101)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID172898'>Thermal oxidation of Si (001) single crystal implanted with Ge ions (Articolo in rivista)</a> (Prodotto della ricerca)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID202350'>Electron backscattering from stacking faults in SiC by means of ab initio quantum transport calculations (Articolo in rivista)</a> (http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/TIPO1101)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID206870'>Consideration on the thermal expansion of 3C-SiC epitaxial layer on Si substrates (Articolo in rivista)</a> (http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/TIPO1101)</li><li><a 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rivista)</a> (Prodotto della ricerca)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID272319'>High performance SiC detectors for MeV ion beams generated by intense pulsed laser plasmas (Articolo in rivista)</a> (Prodotto della ricerca)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID216104'>Post-growth process effect on hetero-epitxial 3C-SiC wafer bow and residual stress (Articolo in rivista)</a> (http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/TIPO1101)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID216165'>Effects of Al ion implantation on 3C-SiC crystal structure (Articolo in rivista)</a> (http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/TIPO1101)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID216181'>Fast growth rate epitaxy by chloride precursors (Articolo in rivista)</a> (http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/TIPO1101)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID216265'>Micro-Raman analysis of a micromachined 3C-SiC cantilever (Articolo in rivista)</a> (http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/TIPO1101)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID216268'>Stress evaluation on hetero-epitaxial 3C-SiC film on (100) Si substrates (Articolo in rivista)</a> (http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/TIPO1101)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID216625'>Strain field analysis of 3C-SiC free-standing microstructures by micro-Raman and theoretical modelling (Articolo in rivista)</a> (http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/TIPO1101)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID216726'>Study of the connection between stacking faults evolution and step kinetics in misoriented 4H-SiC epitaxial growths (Articolo in rivista)</a> (Prodotto della ricerca)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID216838'>3C-SiC film growth on Si substrates (Articolo in rivista)</a> (http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/TIPO1101)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID216894'>Reduction of the surface density of single Shockley faults by TCS growth process (Articolo in rivista)</a> (http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/TIPO1101)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID216917'>Evolution of extended defects during epitaxial growths: A Monte Carlo study (Articolo in rivista)</a> (http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/TIPO1101)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID220714'>SiC-4H Epitaxial Layer Growth by Trichlorosilane (TCS) as Silicon Precursor at Very High Growth Rate. (Articolo in rivista)</a> (Prodotto della ricerca)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID221187'>Activation Study of Implanted N+ in 6H-SiC by Scanning Capacitance Microscopy (Articolo in rivista)</a> (http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/TIPO1101)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID221239'>Origin of the C49-C54 volume anomaly in TiSi2 thin films: An in-situ XRD and TEM analysis (Articolo in rivista)</a> (http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/TIPO1101)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID222281'>Correlation between microstructure control, density and diffusion barrier properties of TiN(O) films (Articolo in rivista)</a> (Prodotto della ricerca)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID273244'>High Growth Rate Process in a SiC Horizontal Reactor with HCl Addition: Structural and Electrical Characterization (Contributo in atti di convegno)</a> (Prodotto della ricerca)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID216122'>Monte carlo study of the hetero-polytypical growth of cubic on hexagonal silicon carbide polytypes (Articolo in rivista)</a> (http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/TIPO1101)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID216185'>Stress relaxation study in 3C-SiC microstructures by micro-raman analysis and finite element modeling (Articolo in rivista)</a> (http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/TIPO1101)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID216202'>Patterned substrate with inverted silicon pyramids for 3C-SiC epitaxial growth: A comparison with conventional (001) Si substrate (Articolo in rivista)</a> (http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/TIPO1101)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID216248'>Stress nature investigation on heteroepitaxial 3C-SiC film on (100) Si substrates (Articolo in rivista)</a> (http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/TIPO1101)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID216639'>Structural characterization of heteroepitaxial 3C-SiC (Articolo in rivista)</a> (Prodotto della ricerca)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID216799'>High power density UV optical stress for quality evaluation of 4H-SiC epitaxial layers (Articolo in rivista)</a> (Prodotto della ricerca)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID217536'>Fast growth rate epitaxy by chloride precursors (Contributo in volume (capitolo o saggio))</a> (http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/TIPO1201)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID217576'>Silicon Carbide Epitaxy (Curatela)</a> (Prodotto della ricerca)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID218313'>Focus Issue: Silicon Carbide - Materials, Processing and Devices (Curatela)</a> (http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/TIPO1501)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID220712'>Thin SiC-4H epitaxial layer growth by trichlorosilane (TCS) as silicon precursor with very abrupt junctions (Articolo in rivista)</a> (Prodotto della ricerca)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID220717'>Theoretical monte carlo study of the formation and evolution of defects in the homoepitaxial growth of SiC (Articolo in rivista)</a> (Prodotto della ricerca)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID221166'>SiC-4H epitaxial layer growth using trichlorosilane (TCS) as silicon precursor (Articolo in rivista)</a> (http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/TIPO1101)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID221169'>Heteroepitaxial growth of 3C-SiC on Silicon-Porous Silicon-Silicon (SPS) substrates (Articolo in rivista)</a> (http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/TIPO1101)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID221175'>Optimisation of epitaxial layer growth by Schottky diodes electrical characterization (Articolo in rivista)</a> (http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/TIPO1101)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID221185'>Comparison Between Different Schottky Diode Edge Termination Structures: Simulations and Experimental Results (Articolo in rivista)</a> (http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/TIPO1101)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID221189'>Low Power Dissipation SiC Schottky Rectifiers with a Dual-Metal Planar Structure (Articolo in rivista)</a> (http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/TIPO1101)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID251796'>On the \"Step Bunching\" Phenomena Observed on Etched and Homoepitaxially Grown 4H Silicon Carbide (Articolo in rivista)</a> (Prodotto della ricerca)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID272238'>A new position sensitive anode for plasmas diagnostic (Articolo in rivista)</a> (Prodotto della ricerca)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID272268'>Micro-Raman analysis and finite-element modeling of 3 C-SiC microstructures (Articolo in rivista)</a> (Prodotto della ricerca)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID308772'>4H-SiC epitaxial layer grown on 150 mm automatic horizontal hot wall reactor PE1O6 (Articolo in rivista)</a> (http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/TIPO1101)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID308784'>Micro-Raman characterization of 4H-SiC stacking faults (Articolo in rivista)</a> (http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/TIPO1101)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID308806'>Three-dimensional epitaxial Si1-xGex, Ge and SiC crystals on deeply patterned Si substrates (Articolo in rivista)</a> (http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/TIPO1101)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID308809'>Manufacture of wafers of wide energy gap semiconductor material for the integration of electronic and/or optical and/or optoelectronic devices (Brevetto)</a> (http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/TIPO1601)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID308812'>Analysis on 3C-SiC layer grown on pseudomorphic-Si/Si1-xGex/Si(001) heterostructures (Articolo in rivista)</a> (http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/TIPO1101)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID312104'>Mechanisms of growth and defect properties of epitaxial SiC (Articolo in rivista)</a> (Prodotto della ricerca)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID302547'>Electrically Trimmable Phase Change Ge2Sb2Te5 Resistors With Tunable Temperature Coefficient of Resistance (Articolo in rivista)</a> (Prodotto della ricerca)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID302680'>Hetero-epitaxial Single Crystal 3C-SiC Opto-Mechanical Pressure Sensor (Abstract/Poster in convegno)</a> (Prodotto della ricerca)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID306902'>Study of the role of particle-particle dipole interaction in dielectrophoretic devices for biomarkers identification (Contributo in atti di convegno)</a> (Prodotto della ricerca)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID308779'>Curvature evaluation of Si/3C-SiC/Si hetero-structure grown by Chemical Vapor Deposition (Articolo in rivista)</a> (Prodotto della ricerca)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID308791'>Evaluation of mechanical and optical properties of hetero-epitaxial single crystal 3C-SiC squared-membrane (Articolo in rivista)</a> (Prodotto della ricerca)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID309451'>Electrically Tunable Ge2Sb2Te5 Resistors Independent of the Temperature for Reconfigurable High Precision Electronics (Comunicazione a convegno)</a> (Prodotto della ricerca)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID281142'>Theoretical and experimental study of the role of cell-cell dipole interaction in dielectrophoretic devices: application to polynomial electrodes (Articolo in rivista)</a> (http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/TIPO1101)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID308756'>A novel micro-Raman technique to detect and characterize 4H-SiC stacking faults (Articolo in rivista)</a> (http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/TIPO1101)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID308776'>Monte Carlo study of the early growth stages of 3C-SiC on misoriented < 11-20 > and < 1-100 > 6H-SiC substrates (Articolo in rivista)</a> (http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/TIPO1101)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID308794'>MeV ion beams generated by intense pulsed laser monitored by Silicon Carbide detectors (Articolo in rivista)</a> (http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/TIPO1101)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID308811'>Strain evaluation and fracture properties of hetero-epitaxial single crystal 3C-SiC squared membrane (Articolo in rivista)</a> (http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/TIPO1101)</li></ul></dd><dt>Coautore</dt><dd><ul><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/unitaDiPersonaleInterno/MATRICOLA8848'>FABRIZIO ROCCAFORTE</a> (Persona)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/unitaDiPersonaleInterno/MATRICOLA6734'>ANTONINO LA MAGNA</a> (Unità di personale interno)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/unitaDiPersonaleInterno/MATRICOLA463'>VITTORIO PRIVITERA</a> (Persona)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/unitaDiPersonaleInterno/MATRICOLA8584'>MARKUS ITALIA</a> (Persona)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/unitaDiPersonaleInterno/MATRICOLA465'>VITO RAINERI</a> (Persona)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/unitaDiPersonaleInterno/MATRICOLA5544'>SEBANIA LIBERTINO</a> (Unità di personale interno)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/unitaDiPersonaleInterno/MATRICOLA8277'>GIUSEPPE ALESSIO MARIA D'ARRIGO</a> (Unità di personale interno)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/unitaDiPersonaleInterno/MATRICOLA5822'>STEFANO COLONNA</a> (Unità di personale interno)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/unitaDiPersonaleInterno/MATRICOLA29021'>GIAN CARLO CARDINALI</a> (Persona)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/unitaDiPersonaleEsterno/ID17052'>SETTIMIO MOBILIO</a> (Unità di personale esterno)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/unitaDiPersonaleInterno/MATRICOLA286'>ANTONELLA POGGI</a> (Unità di personale interno)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/unitaDiPersonaleInterno/MATRICOLA8186'>ALESSANDRA ALBERTI</a> (Persona)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/unitaDiPersonaleInterno/MATRICOLA10107'>FILIPPO GIANNAZZO</a> (Persona)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/unitaDiPersonaleInterno/MATRICOLA19930'>ROSARIO CORRADO SPINELLA</a> (Persona)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/unitaDiPersonaleInterno/MATRICOLA6767'>SALVATORE PANNITTERI</a> (Unità di personale interno)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/unitaDiPersonaleInterno/MATRICOLA14053'>ROBERTA NIPOTI</a> (Unità di personale interno)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/unitaDiPersonaleInterno/MATRICOLA19933'>ALDO SPADA</a> (Persona)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/unitaDiPersonaleInterno/MATRICOLA8590'>CORRADO BONGIORNO</a> (Persona)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/unitaDiPersonaleInterno/MATRICOLA550'>ANTONIO DAMASO MARIA MARINO</a> (Persona)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/unitaDiPersonaleInterno/MATRICOLA8851'>SILVIA SCALESE</a> (Persona)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/unitaDiPersonaleInterno/MATRICOLA11092'>GIORGIO RUSSO</a> (Unità di personale interno)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/unitaDiPersonaleEsterno/ID4546'>Andrea Severino</a> (Unità di personale esterno)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/unitaDiPersonaleEsterno/ID17634'>NICOLO' PILUSO</a> (Unità di personale esterno)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/unitaDiPersonaleEsterno/ID4947'>Viviana Scuderi</a> (Persona)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/unitaDiPersonaleInterno/MATRICOLA11205'>SALVATORE DI FRANCO</a> (Persona)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/unitaDiPersonaleInterno/MATRICOLA8651'>ALBERTO RONCAGLIA</a> (Unità di personale interno)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/unitaDiPersonaleEsterno/ID2827'>PATRICK FIORENZA</a> (Unità di personale esterno)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/unitaDiPersonaleEsterno/ID9744'>LUCIA CALCAGNO</a> (Unità di personale esterno)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/unitaDiPersonaleEsterno/ID2778'>SALVATORE DI FRANCO</a> (Unità di personale esterno)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/unitaDiPersonaleEsterno/ID2932'>IOANNIS DERETZIS</a> (Unità di personale esterno)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/unitaDiPersonaleEsterno/ID9710'>RUGGERO ANZALONE</a> (Unità di personale esterno)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/unitaDiPersonaleEsterno/ID9714'>GRAZIA LITRICO</a> (Unità di personale esterno)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/unitaDiPersonaleEsterno/ID9712'>STEPHEN EDWARD SADDOW</a> (Persona)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/unitaDiPersonaleEsterno/ID9713'>MASSIMO CAMARDA</a> (Persona)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/unitaDiPersonaleEsterno/ID22742'>http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/unitaDiPersonaleEsterno/ID22742</a></li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/unitaDiPersonaleEsterno/ID17632'>ANDREA CANINO</a> (Unità di personale esterno)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/unitaDiPersonaleEsterno/ID8750'>PIETRO DAVIDE DELUGAS</a> (Unità di personale esterno)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/unitaDiPersonaleInterno/MATRICOLA7391'>MARIA CARLA GILARDI</a> (Persona)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/unitaDiPersonaleInterno/MATRICOLA11460'>FRANCESCO MOSCATELLI</a> (Unità di personale interno)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/unitaDiPersonaleInterno/MATRICOLA14567'>STEFANIA MARIA SERENA PRIVITERA</a> (Persona)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/unitaDiPersonaleInterno/MATRICOLA15373'>VALENTINA BRAVATA'</a> (Persona)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/unitaDiPersonaleEsterno/ID22802'>http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/unitaDiPersonaleEsterno/ID22802</a></li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/unitaDiPersonaleInterno/MATRICOLA14323'>GIUSI IRMA FORTE</a> (Persona)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/unitaDiPersonaleInterno/MATRICOLA14556'>PATRICK FIORENZA</a> (Persona)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/unitaDiPersonaleInterno/MATRICOLA15344'>FRANCESCO PAOLO CAMMARATA</a> (Unità di personale interno)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/unitaDiPersonaleInterno/MATRICOLA15616'>LUCA BELSITO</a> (Unità di personale interno)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/unitaDiPersonaleInterno/MATRICOLA9153'>FABIO SANTO IACONA</a> (Unità di personale interno)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/unitaDiPersonaleInterno/MATRICOLA11487'>FULVIO MANCARELLA</a> (Persona)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/unitaDiPersonaleInterno/MATRICOLA14590'>LUIGI MINAFRA</a> (Unità di personale interno)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/unitaDiPersonaleEsterno/ID22746'>http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/unitaDiPersonaleEsterno/ID22746</a></li></ul></dd><dt>Ha pubblicazioni con</dt><dd><ul><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/unitaDiPersonaleInterno/MATRICOLA8848'>FABRIZIO ROCCAFORTE</a> (Persona)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/unitaDiPersonaleInterno/MATRICOLA6734'>ANTONINO LA MAGNA</a> (Unità di personale interno)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/unitaDiPersonaleInterno/MATRICOLA8584'>MARKUS ITALIA</a> (Persona)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/unitaDiPersonaleInterno/MATRICOLA465'>VITO RAINERI</a> (Persona)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/unitaDiPersonaleInterno/MATRICOLA5544'>SEBANIA LIBERTINO</a> (Unità di personale interno)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/unitaDiPersonaleInterno/MATRICOLA8277'>GIUSEPPE ALESSIO MARIA D'ARRIGO</a> (Unità di personale interno)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/unitaDiPersonaleInterno/MATRICOLA8186'>ALESSANDRA ALBERTI</a> (Persona)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/unitaDiPersonaleInterno/MATRICOLA10107'>FILIPPO GIANNAZZO</a> (Persona)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/unitaDiPersonaleInterno/MATRICOLA19930'>ROSARIO CORRADO SPINELLA</a> (Persona)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/unitaDiPersonaleInterno/MATRICOLA6767'>SALVATORE PANNITTERI</a> (Unità di personale interno)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/unitaDiPersonaleInterno/MATRICOLA19933'>ALDO SPADA</a> (Persona)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/unitaDiPersonaleInterno/MATRICOLA8590'>CORRADO BONGIORNO</a> (Persona)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/unitaDiPersonaleInterno/MATRICOLA8851'>SILVIA SCALESE</a> (Persona)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/unitaDiPersonaleEsterno/ID4546'>Andrea Severino</a> (Unità di personale esterno)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/unitaDiPersonaleEsterno/ID2827'>PATRICK FIORENZA</a> (Unità di personale esterno)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/unitaDiPersonaleEsterno/ID9744'>LUCIA CALCAGNO</a> (Unità di personale esterno)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/unitaDiPersonaleEsterno/ID2778'>SALVATORE DI FRANCO</a> (Unità di personale esterno)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/unitaDiPersonaleEsterno/ID9710'>RUGGERO ANZALONE</a> (Unità di personale esterno)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/unitaDiPersonaleEsterno/ID9714'>GRAZIA LITRICO</a> (Unità di personale esterno)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/unitaDiPersonaleEsterno/ID9712'>STEPHEN EDWARD SADDOW</a> (Persona)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/unitaDiPersonaleEsterno/ID9713'>MASSIMO CAMARDA</a> (Persona)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/unitaDiPersonaleInterno/MATRICOLA9153'>FABIO SANTO IACONA</a> (Unità di personale interno)</li></ul></dd><dt>Ha afferente</dt><dd><ul><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/istituto/CDS057'>Istituto per la microelettronica e microsistemi (IMM)</a> (Istituto)</li></ul></dd><dt>Responsabile</dt><dd><ul><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/commessa/ID5346'>Nuovi processi per la produzione di wafer di Carburo di Silicio e nuove applicazioni nell'ambito del fotovoltaico e dei MEMS (MD.P05.009)</a> (Commessa)</li></ul></dd><dt>Http://www.cnr.it/ontology/persone.owl#argomentoDiRicercaSimile</dt><dd><ul><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/unitaDiPersonaleInterno/MATRICOLA1307'>GIOVANNI ATTOLINI</a> (Persona)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/unitaDiPersonaleInterno/MATRICOLA6558'>CESARE FRIGERI</a> (Unità di personale interno)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/unitaDiPersonaleEsterno/ID2808'>Ferdinando Iucolano</a> (Persona)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/unitaDiPersonaleEsterno/ID4546'>Andrea Severino</a> (Unità di personale esterno)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/unitaDiPersonaleEsterno/ID8422'>Giuseppina Ambrosone</a> (Persona)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/unitaDiPersonaleInterno/MATRICOLA11244'>MATTEO BOSI</a> (Unità di personale interno)</li></ul></dd><dt>Gestore</dt><dd><ul><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/modulo/ID5360'>Nuovi processi per la produzione di wafer di Carburo di Silicio e nuove applicazioni nell'ambito del fotovoltaico e dei MEMS (MD.P05.009.001)</a> (Modulo)</li></ul></dd><dt>Rapporto con persona</dt><dd><ul><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/rapportoConCNR/MATRICOLA12583'>Rapporto con CNR di DOTT. FRANCESCO LA VIA</a> (Rapporto con CNR)</li></ul></dd><dt>Http://www.w3.org/2004/02/skos/core#isSubjectOf</dt><dd><ul><li><a href='http://dbpedia.org/resource/Category:Semiconductors' class = 'external' >Semiconductors</a> (Categoria DBpedia)</li><li><a href='http://dbpedia.org/resource/Category:Semiconductor_materials' class = 'external' >Semiconductor materials</a> (Categoria DBpedia)</li><li><a href='http://dbpedia.org/resource/Category:Semiconductor_device_fabrication' class = 'external' >Semiconductor device fabrication</a> (Categoria DBpedia)</li></ul></dd>

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				<p>Copyright &copy; 2010 <a href="http://www.cnr.it" class="lang-dyn">Italian National Research Council</a> <br/> <br/>
				This work is licensed under a <a rel="license" href="http://creativecommons.org/licenses/by-nc-nd/3.0/">Creative Commons Attribution-NonCommercial-NoDerivs 3.0 Unported License</a><br/><br/>
				<a rel="license" href="http://creativecommons.org/licenses/by-nc-nd/3.0/"><img alt="Creative Commons License" style="border-width:0" src="http://i.creativecommons.org/l/by-nc-nd/3.0/88x31.png" /></a>
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