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					<div class="scheda"><h1>MASSIMO CAMARDA</h1>
<dl><dt>Type</dt><dd><ul><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/persone.owl#Persona' class = 'external' >Persona</a> (Classe)</li></ul></dd><dt>Label</dt><dd><ul><li>MASSIMO CAMARDA (literal)</li><li>MASSIMO CAMARDA (literal)</li></ul></dd><dt>Subject</dt><dd><ul><li><a href='http://dbpedia.org/resource/Category:Randomness' class = 'external' >Randomness</a> (Categoria DBpedia)</li></ul></dd><dt>Partecipa a commessa</dt><dd><ul><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/personale-partecipazioneacommessa/unitaDiPersonaleEsterno/ID9713-COMMESSA1278-ANNO2013'>Partecipazione a Commessa "Sviluppo di metodologie avanzate per dispositivi elettronici micro e nanostrutturati" (MD.P05.005) di MASSIMO CAMARDA nell'anno 2013</a> (Partecipazione a commessa)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/personale-partecipazioneacommessa/unitaDiPersonaleEsterno/ID9713-COMMESSA5346-ANNO2010'>Partecipazione a Commessa "Nuovi processi per la produzione di wafer di Carburo di Silicio e nuove applicazioni nell'ambito del fotovoltaico e dei MEMS" (MD.P05.009) di MASSIMO CAMARDA nell'anno 2010</a> (Partecipazione a commessa)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/personale-partecipazioneacommessa/unitaDiPersonaleEsterno/ID9713-COMMESSA5346-ANNO2008'>Partecipazione a Commessa "Nuovi processi per la produzione di wafer di Carburo di Silicio e nuove applicazioni nell'ambito del fotovoltaico e dei MEMS" (MD.P05.009) di MASSIMO CAMARDA nell'anno 2008</a> (Partecipazione a commessa)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/personale-partecipazioneacommessa/unitaDiPersonaleEsterno/ID9713-COMMESSA5346-ANNO2007'>Partecipazione a Commessa "Nuovi processi per la produzione di wafer di Carburo di Silicio e nuove applicazioni nell'ambito del fotovoltaico e dei MEMS" (MD.P05.009) di MASSIMO CAMARDA nell'anno 2007</a> (Partecipazione a commessa)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/personale-partecipazioneacommessa/unitaDiPersonaleEsterno/ID9713-COMMESSA5346-ANNO2012'>Partecipazione a Commessa "Nuovi processi per la produzione di wafer di Carburo di Silicio e nuove applicazioni nell'ambito del fotovoltaico e dei MEMS" (MD.P05.009) di MASSIMO CAMARDA nell'anno 2012</a> (Partecipazione a commessa)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/personale-partecipazioneacommessa/unitaDiPersonaleEsterno/ID9713-COMMESSA1278-ANNO2014'>Partecipazione a Commessa "Sviluppo di metodologie avanzate per dispositivi elettronici micro e nanostrutturati" (MD.P05.005) di MASSIMO CAMARDA nell'anno 2014</a> (Partecipazione a commessa)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/personale-partecipazioneacommessa/unitaDiPersonaleEsterno/ID9713-COMMESSA5346-ANNO2011'>Partecipazione a Commessa "Nuovi processi per la produzione di wafer di Carburo di Silicio e nuove applicazioni nell'ambito del fotovoltaico e dei MEMS" (MD.P05.009) di MASSIMO CAMARDA nell'anno 2011</a> (Partecipazione a commessa)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/personale-partecipazioneacommessa/unitaDiPersonaleEsterno/ID9713-COMMESSA5346-ANNO2006'>Partecipazione a Commessa "Nuovi processi per la produzione di wafer di Carburo di Silicio e nuove applicazioni nell'ambito del fotovoltaico e dei MEMS" (MD.P05.009) di MASSIMO CAMARDA nell'anno 2006</a> (Partecipazione a commessa)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/personale-partecipazioneacommessa/unitaDiPersonaleEsterno/ID9713-COMMESSA5346-ANNO2013'>Partecipazione a Commessa "Nuovi processi per la produzione di wafer di Carburo di Silicio e nuove applicazioni nell'ambito del fotovoltaico e dei MEMS" (MD.P05.009) di MASSIMO CAMARDA nell'anno 2013</a> (Partecipazione a commessa)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/personale-partecipazioneacommessa/unitaDiPersonaleEsterno/ID9713-COMMESSA5346-ANNO2009'>Partecipazione a Commessa "Nuovi processi per la produzione di wafer di Carburo di Silicio e nuove applicazioni nell'ambito del fotovoltaico e dei MEMS" (MD.P05.009) di MASSIMO CAMARDA nell'anno 2009</a> (Partecipazione a commessa)</li></ul></dd><dt>Persona in rapporto</dt><dd><ul><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/rapportoConCNR/ID9713'>Employment relationship with CNR of MASSIMO CAMARDA</a> (Rapporto con CNR)</li></ul></dd><dt>Autore CNR di</dt><dd><ul><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID180682'>Residual stress measurement and simulation of 3C-SiC single and poly crystal cantilevers (Articolo in rivista)</a> (Prodotto della ricerca)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID36621'>Multiscale simulation for epitaxial silicon carbide growth by chlorides route (Articolo in rivista)</a> (http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/TIPO1101)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID36548'>Effect of the miscut direction in (111) 3C-SiC film growth on off-axis (111)Si (Articolo in rivista)</a> (http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/TIPO1101)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID216799'>High power density UV optical stress for quality evaluation of 4H-SiC epitaxial layers (Articolo in rivista)</a> (http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/TIPO1101)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID36719'>Optical investigation of bulk electron mobility in 3C-SiC films on Si substrates (Articolo in rivista)</a> (http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/TIPO1101)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID206870'>Consideration on the thermal expansion of 3C-SiC epitaxial layer on Si substrates (Articolo in rivista)</a> (Prodotto della ricerca)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID308812'>Analysis on 3C-SiC layer grown on pseudomorphic-Si/Si1-xGex/Si(001) heterostructures (Articolo in rivista)</a> (http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/TIPO1101)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID216639'>Structural characterization of heteroepitaxial 3C-SiC (Articolo in rivista)</a> (http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/TIPO1101)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID308809'>Manufacture of wafers of wide energy gap semiconductor material for the integration of electronic and/or optical and/or optoelectronic devices (Brevetto)</a> (Prodotto della ricerca)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID308784'>Micro-Raman characterization of 4H-SiC stacking faults (Articolo in rivista)</a> (Prodotto della ricerca)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID308772'>4H-SiC epitaxial layer grown on 150 mm automatic horizontal hot wall reactor PE1O6 (Articolo in rivista)</a> (http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/TIPO1101)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID216268'>Stress evaluation on hetero-epitaxial 3C-SiC film on (100) Si substrates (Articolo in rivista)</a> (Prodotto della ricerca)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID36789'>First Principles Investigation on the Modifications of the 4H-SiC Band Structure Due to the (4,4) and (3,5) Stacking Faults (Articolo in rivista)</a> (Prodotto della ricerca)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID216265'>Micro-Raman analysis of a micromachined 3C-SiC cantilever (Articolo in rivista)</a> (Prodotto della ricerca)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID216181'>Fast growth rate epitaxy by chloride precursors (Articolo in rivista)</a> (Prodotto della ricerca)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID272268'>Micro-Raman analysis and finite-element modeling of 3 C-SiC microstructures (Articolo in rivista)</a> (Prodotto della ricerca)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID201983'>Coupled Monte Carlo-Poisson method for the simulation of particle-particle effects in dielectrophoretic devices (Articolo in rivista)</a> (http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/TIPO1101)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID216726'>Study of the connection between stacking faults evolution and step kinetics in misoriented 4H-SiC epitaxial growths (Articolo in rivista)</a> (http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/TIPO1101)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID216905'>Raman study of bulk mobility in 3C-SiC heteroepitaxy (Articolo in rivista)</a> (http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/TIPO1101)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID216883'>Advanced stress analysis by micro-structures realization on high quality hetero-epitaxial 3C-SiC for MEMS application (Articolo in rivista)</a> (http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/TIPO1101)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID216863'>Raman stress characterization of hetero-epitaxial 3C-SiC free standing structures (Articolo in rivista)</a> (http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/TIPO1101)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID312104'>Mechanisms of growth and defect properties of epitaxial SiC (Articolo in rivista)</a> (http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/TIPO1101)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID216625'>Strain field analysis of 3C-SiC free-standing microstructures by micro-Raman and theoretical modelling (Articolo in rivista)</a> (http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/TIPO1101)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID216122'>Monte carlo study of the hetero-polytypical growth of cubic on hexagonal silicon carbide polytypes (Articolo in rivista)</a> (http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/TIPO1101)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID65819'>Bow in 6 inch high-quality off-axis (111) 3C-SiC films (Articolo in rivista)</a> (http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/TIPO1101)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID65789'>Extended Study of the Step-bunching Mechanism During the  Homoepitaxial Growth of SiC (Articolo in rivista)</a> (http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/TIPO1101)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID65787'>Thick Epitaxial Layers Growth by Chlorine Addition (Articolo in rivista)</a> (http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/TIPO1101)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID202350'>Electron backscattering from stacking faults in SiC by means of ab initio quantum transport calculations (Articolo in rivista)</a> (Prodotto della ricerca)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID36652'>High-quality 6 inch (111) 3C-SiC films grown on off-axis (111) Si substrates (Articolo in rivista)</a> (http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/TIPO1101)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID216148'>Study of the effects of growth rate, miscut direction and postgrowth argon annealing on the surface morphology of homoepitaxially grown 4H silicon carbide films (Articolo in rivista)</a> (Prodotto della ricerca)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID87007'>Optical characterization of bulk mobility in 3C-SiC films grown on different orientation of Si substrates (Contributo in atti di convegno)</a> (http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/TIPO1301)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID216264'>Extended characterization of the stress fields in the heteroepitaxial growth of 3C-SiC on silicon for sensors and device applications (Articolo in rivista)</a> (Prodotto della ricerca)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID216259'>Stress fields analysis in 3C-SiC free-standing microstructures by micro-Raman spectroscopy (Articolo in rivista)</a> (Prodotto della ricerca)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID216260'>Study of microstructure deflections and film/substrate curvature under generalized stress fields and mechanical properties (Articolo in rivista)</a> (Prodotto della ricerca)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID216256'>Correlation between macroscopic and microscopic stress fields: Application to the 3C-SiC/Si heteroepitaxy (Articolo in rivista)</a> (Prodotto della ricerca)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID216817'>Advanced residual stress analysis on the heteroepitaxial growth of 3C-SiC/Si for MEMS application (Articolo in rivista)</a> (Prodotto della ricerca)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID216610'>Mechanical proprieties and residual stress evaluation on heteroepitaxial 3C-SiC/Si for MEMS application (Articolo in rivista)</a> (Prodotto della ricerca)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID306902'>Study of the role of particle-particle dipole interaction in dielectrophoretic devices for biomarkers identification (Contributo in atti di convegno)</a> (http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/TIPO1301)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID251796'>On the \"Step Bunching\" Phenomena Observed on Etched and Homoepitaxially Grown 4H Silicon Carbide (Articolo in rivista)</a> (Prodotto della ricerca)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID216917'>Evolution of extended defects during epitaxial growths: A Monte Carlo study (Articolo in rivista)</a> (http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/TIPO1101)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID216894'>Reduction of the surface density of single Shockley faults by TCS growth process (Articolo in rivista)</a> (http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/TIPO1101)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID216838'>3C-SiC film growth on Si substrates (Articolo in rivista)</a> (http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/TIPO1101)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID87006'>Monte Carlo study of morphological surface instabilities during misoriented epitaxial growth of cubic and hexagonal polytypes (Contributo in atti di convegno)</a> (Prodotto della ricerca)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID36586'>Stacking faults evolution during epitaxial growths: Role of surface the kinetics (Articolo in rivista)</a> (http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/TIPO1101)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID36587'>Extended study of the step-bunching mechanism during the homoepitaxial growth of SiC (Articolo in rivista)</a> (http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/TIPO1101)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID306831'>Theoretical and experimental study of the kinetics of particle chains near electrodes in dielectrophoretic devices (Contributo in atti di convegno)</a> (Prodotto della ricerca)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID36787'>Structural and electronic characterization of (2,3(3)) bar-shaped stacking fault in 4H-SiC epitaxial layers (Articolo in rivista)</a> (http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/TIPO1101)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID36788'>Defect Influence on Heteroepitaxial 3C-SiC Young's Modulus (Articolo in rivista)</a> (http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/TIPO1101)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID36474'>Monte Carlo study of the step flow to island nucleation transition for close packed structures (Articolo in rivista)</a> (http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/TIPO1101)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID36578'>Low Stress Heteroepitaxial 3C-SiC Films Characterized by Microstructure Fabrication and Finite Elements Analysis (Articolo in rivista)</a> (http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/TIPO1101)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID36549'>Preferential oxidation of stacking faults in epitaxial off-axis (111) 3C-SiC films (Articolo in rivista)</a> (http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/TIPO1101)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID36795'>Advanced Residual Stress Analysis and FEM Simulation on Heteroepitaxial 3C-SiC for MEMS Application (Articolo in rivista)</a> (Prodotto della ricerca)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID302680'>Hetero-epitaxial Single Crystal 3C-SiC Opto-Mechanical Pressure Sensor (Abstract/Poster in convegno)</a> (http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/TIPO1304)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID65820'>Raman characterization of doped 3C-SiC/Si for different silicon substrates and C/Si ratios (Articolo in rivista)</a> (Prodotto della ricerca)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID65788'>Atomistic and Continuum Simulations of the Homo-epitaxial           Growth of SiC (Articolo in rivista)</a> (Prodotto della ricerca)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID65783'>Towards Large Area (111)3C-SiC Films Grown on off-oriented (111)Si (Articolo in rivista)</a> (Prodotto della ricerca)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID35785'>A kinetic Monte Carlo method on super-lattices for the study of the defect formation in the growth of close packed structures (Articolo in rivista)</a> (Prodotto della ricerca)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID208905'>Stress fields analysis in 3C-SiC free-standing microstructures by micro-Raman spectroscopy (Articolo in rivista)</a> (http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/TIPO1101)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID36275'>Defect formation and evolution in the step-flow growth of silicon carbide: A Monte Carlo study (Articolo in rivista)</a> (Prodotto della ricerca)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID308811'>Strain evaluation and fracture properties of hetero-epitaxial single crystal 3C-SiC squared membrane (Articolo in rivista)</a> (http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/TIPO1101)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID308776'>Monte Carlo study of the early growth stages of 3C-SiC on misoriented < 11-20 > and < 1-100 > 6H-SiC substrates (Articolo in rivista)</a> (Prodotto della ricerca)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID308756'>A novel micro-Raman technique to detect and characterize 4H-SiC stacking faults (Articolo in rivista)</a> (Prodotto della ricerca)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID151766'>Codice Montecarlo per la simulazione della crescita del SiC (3C e 4H) (Risultati di valorizzazione applicativa)</a> (Prodotto della ricerca)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID308791'>Evaluation of mechanical and optical properties of hetero-epitaxial single crystal 3C-SiC squared-membrane (Articolo in rivista)</a> (Prodotto della ricerca)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID308779'>Curvature evaluation of Si/3C-SiC/Si hetero-structure grown by Chemical Vapor Deposition (Articolo in rivista)</a> (Prodotto della ricerca)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID281142'>Theoretical and experimental study of the role of cell-cell dipole interaction in dielectrophoretic devices: application to polynomial electrodes (Articolo in rivista)</a> (Prodotto della ricerca)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID216248'>Stress nature investigation on heteroepitaxial 3C-SiC film on (100) Si substrates (Articolo in rivista)</a> (http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/TIPO1101)</li></ul></dd><dt>Coautore</dt><dd><ul><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/unitaDiPersonaleInterno/MATRICOLA8584'>MARKUS ITALIA</a> (Persona)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/unitaDiPersonaleInterno/MATRICOLA6734'>ANTONINO LA MAGNA</a> (Persona)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/unitaDiPersonaleInterno/MATRICOLA8590'>CORRADO BONGIORNO</a> (Persona)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/unitaDiPersonaleInterno/MATRICOLA14323'>GIUSI IRMA FORTE</a> (Persona)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/unitaDiPersonaleInterno/MATRICOLA15344'>FRANCESCO PAOLO CAMMARATA</a> (Unità di personale interno)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/unitaDiPersonaleInterno/MATRICOLA10107'>FILIPPO GIANNAZZO</a> (Persona)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/unitaDiPersonaleEsterno/ID17634'>NICOLO' PILUSO</a> (Unità di personale esterno)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/unitaDiPersonaleEsterno/ID4546'>Andrea Severino</a> (Unità di personale esterno)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/unitaDiPersonaleEsterno/ID2932'>IOANNIS DERETZIS</a> (Unità di personale esterno)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/unitaDiPersonaleInterno/MATRICOLA14590'>LUIGI MINAFRA</a> (Unità di personale interno)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/unitaDiPersonaleInterno/MATRICOLA8651'>ALBERTO RONCAGLIA</a> (Unità di personale interno)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/unitaDiPersonaleInterno/MATRICOLA7391'>MARIA CARLA GILARDI</a> (Unità di personale interno)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/unitaDiPersonaleInterno/MATRICOLA15616'>LUCA BELSITO</a> (Unità di personale interno)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/unitaDiPersonaleInterno/MATRICOLA8851'>SILVIA SCALESE</a> (Unità di personale interno)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/unitaDiPersonaleInterno/MATRICOLA8186'>ALESSANDRA ALBERTI</a> (Unità di personale interno)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/unitaDiPersonaleInterno/MATRICOLA14567'>STEFANIA MARIA SERENA PRIVITERA</a> (Persona)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/unitaDiPersonaleInterno/MATRICOLA14053'>ROBERTA NIPOTI</a> (Unità di personale interno)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/unitaDiPersonaleEsterno/ID9710'>RUGGERO ANZALONE</a> (Unità di personale esterno)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/unitaDiPersonaleInterno/MATRICOLA12583'>FRANCESCO LA VIA</a> (Persona)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/unitaDiPersonaleInterno/MATRICOLA14556'>PATRICK FIORENZA</a> (Unità di personale interno)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/unitaDiPersonaleEsterno/ID8750'>PIETRO DAVIDE DELUGAS</a> (Persona)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/unitaDiPersonaleInterno/MATRICOLA11205'>SALVATORE DI FRANCO</a> (Unità di personale interno)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/unitaDiPersonaleInterno/MATRICOLA8277'>GIUSEPPE ALESSIO MARIA D'ARRIGO</a> (Persona)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/unitaDiPersonaleInterno/MATRICOLA11487'>FULVIO MANCARELLA</a> (Unità di personale interno)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/unitaDiPersonaleEsterno/ID2827'>PATRICK FIORENZA</a> (Unità di personale esterno)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/unitaDiPersonaleInterno/MATRICOLA15373'>VALENTINA BRAVATA'</a> (Persona)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/unitaDiPersonaleEsterno/ID17632'>ANDREA CANINO</a> (Persona)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/unitaDiPersonaleInterno/MATRICOLA11092'>GIORGIO RUSSO</a> (Persona)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/unitaDiPersonaleInterno/MATRICOLA286'>ANTONELLA POGGI</a> (Persona)</li></ul></dd><dt>Nome</dt><dd><ul><li>MASSIMO (literal)</li></ul></dd><dt>Cognome</dt><dd><ul><li>CAMARDA (literal)</li></ul></dd><dt>Afferisce a</dt><dd><ul><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/istituto/CDS057'>Istituto per la microelettronica e microsistemi (IMM)</a> (Istituto)</li></ul></dd><dt>Ha pubblicazioni con</dt><dd><ul><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/unitaDiPersonaleInterno/MATRICOLA8590'>CORRADO BONGIORNO</a> (Persona)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/unitaDiPersonaleEsterno/ID9710'>RUGGERO ANZALONE</a> (Unità di personale esterno)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/unitaDiPersonaleEsterno/ID2827'>PATRICK FIORENZA</a> (Unità di personale esterno)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/unitaDiPersonaleEsterno/ID4546'>Andrea Severino</a> (Unità di personale esterno)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/unitaDiPersonaleInterno/MATRICOLA6734'>ANTONINO LA MAGNA</a> (Persona)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/unitaDiPersonaleInterno/MATRICOLA12583'>FRANCESCO LA VIA</a> (Persona)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/unitaDiPersonaleInterno/MATRICOLA8584'>MARKUS ITALIA</a> (Persona)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/unitaDiPersonaleInterno/MATRICOLA10107'>FILIPPO GIANNAZZO</a> (Persona)</li></ul></dd>

</dl>

<br/><h4>Incoming links:</h4><br/><dl><dt>Autore CNR</dt><dd><ul><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID87007'>Optical characterization of bulk mobility in 3C-SiC films grown on different orientation of Si substrates (Contributo in atti di convegno)</a> (http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/TIPO1301)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID87006'>Monte Carlo study of morphological surface instabilities during misoriented epitaxial growth of cubic and hexagonal polytypes (Contributo in atti di convegno)</a> (Prodotto della ricerca)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID36474'>Monte Carlo study of the step flow to island nucleation transition for close packed structures (Articolo in rivista)</a> (http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/TIPO1101)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID36549'>Preferential oxidation of stacking faults in epitaxial off-axis (111) 3C-SiC films (Articolo in rivista)</a> (http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/TIPO1101)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID36578'>Low Stress Heteroepitaxial 3C-SiC Films Characterized by Microstructure Fabrication and Finite Elements Analysis (Articolo in rivista)</a> (http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/TIPO1101)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID36652'>High-quality 6 inch (111) 3C-SiC films grown on off-axis (111) Si substrates (Articolo in rivista)</a> (http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/TIPO1101)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID35785'>A kinetic Monte Carlo method on super-lattices for the study of the defect formation in the growth of close packed structures (Articolo in rivista)</a> (Prodotto della ricerca)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID36548'>Effect of the miscut direction in (111) 3C-SiC film growth on off-axis (111)Si (Articolo in rivista)</a> (http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/TIPO1101)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID36621'>Multiscale simulation for epitaxial silicon carbide growth by chlorides route (Articolo in rivista)</a> (http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/TIPO1101)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID36719'>Optical investigation of bulk electron mobility in 3C-SiC films on Si substrates (Articolo in rivista)</a> (http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/TIPO1101)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID36789'>First Principles Investigation on the Modifications of the 4H-SiC Band Structure Due to the (4,4) and (3,5) Stacking Faults (Articolo in rivista)</a> (Prodotto della ricerca)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID36275'>Defect formation and evolution in the step-flow growth of silicon carbide: A Monte Carlo study (Articolo in rivista)</a> (Prodotto della ricerca)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID36586'>Stacking faults evolution during epitaxial growths: Role of surface the kinetics (Articolo in rivista)</a> (http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/TIPO1101)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID36587'>Extended study of the step-bunching mechanism during the homoepitaxial growth of SiC (Articolo in rivista)</a> (http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/TIPO1101)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID36787'>Structural and electronic characterization of (2,3(3)) bar-shaped stacking fault in 4H-SiC epitaxial layers (Articolo in rivista)</a> (http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/TIPO1101)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID36788'>Defect Influence on Heteroepitaxial 3C-SiC Young's Modulus (Articolo in rivista)</a> (http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/TIPO1101)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID36795'>Advanced Residual Stress Analysis and FEM Simulation on Heteroepitaxial 3C-SiC for MEMS Application (Articolo in rivista)</a> (Prodotto della ricerca)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID65783'>Towards Large Area (111)3C-SiC Films Grown on off-oriented (111)Si (Articolo in rivista)</a> (Prodotto della ricerca)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID65788'>Atomistic and Continuum Simulations of the Homo-epitaxial           Growth of SiC (Articolo in rivista)</a> (Prodotto della ricerca)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID65820'>Raman characterization of doped 3C-SiC/Si for different silicon substrates and C/Si ratios (Articolo in rivista)</a> (Prodotto della ricerca)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID65787'>Thick Epitaxial Layers Growth by Chlorine Addition (Articolo in rivista)</a> (http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/TIPO1101)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID65789'>Extended Study of the Step-bunching Mechanism During the  Homoepitaxial Growth of SiC (Articolo in rivista)</a> (http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/TIPO1101)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID65819'>Bow in 6 inch high-quality off-axis (111) 3C-SiC films (Articolo in rivista)</a> (http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/TIPO1101)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID151766'>Codice Montecarlo per la simulazione della crescita del SiC (3C e 4H) (Risultati di valorizzazione applicativa)</a> (Prodotto della ricerca)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID180682'>Residual stress measurement and simulation of 3C-SiC single and poly crystal cantilevers (Articolo in rivista)</a> (Prodotto della ricerca)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID201983'>Coupled Monte Carlo-Poisson method for the simulation of particle-particle effects in dielectrophoretic devices (Articolo in rivista)</a> (http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/TIPO1101)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID202350'>Electron backscattering from stacking faults in SiC by means of ab initio quantum transport calculations (Articolo in rivista)</a> (Prodotto della ricerca)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID206870'>Consideration on the thermal expansion of 3C-SiC epitaxial layer on Si substrates (Articolo in rivista)</a> (Prodotto della ricerca)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID208905'>Stress fields analysis in 3C-SiC free-standing microstructures by micro-Raman spectroscopy (Articolo in rivista)</a> (http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/TIPO1101)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID216148'>Study of the effects of growth rate, miscut direction and postgrowth argon annealing on the surface morphology of homoepitaxially grown 4H silicon carbide films (Articolo in rivista)</a> (Prodotto della ricerca)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID216256'>Correlation between macroscopic and microscopic stress fields: Application to the 3C-SiC/Si heteroepitaxy (Articolo in rivista)</a> (Prodotto della ricerca)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID216259'>Stress fields analysis in 3C-SiC free-standing microstructures by micro-Raman spectroscopy (Articolo in rivista)</a> (Prodotto della ricerca)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID216260'>Study of microstructure deflections and film/substrate curvature under generalized stress fields and mechanical properties (Articolo in rivista)</a> (Prodotto della ricerca)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID216264'>Extended characterization of the stress fields in the heteroepitaxial growth of 3C-SiC on silicon for sensors and device applications (Articolo in rivista)</a> (Prodotto della ricerca)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID216610'>Mechanical proprieties and residual stress evaluation on heteroepitaxial 3C-SiC/Si for MEMS application (Articolo in rivista)</a> (Prodotto della ricerca)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID216817'>Advanced residual stress analysis on the heteroepitaxial growth of 3C-SiC/Si for MEMS application (Articolo in rivista)</a> (Prodotto della ricerca)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID216863'>Raman stress characterization of hetero-epitaxial 3C-SiC free standing structures (Articolo in rivista)</a> (http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/TIPO1101)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID216883'>Advanced stress analysis by micro-structures realization on high quality hetero-epitaxial 3C-SiC for MEMS application (Articolo in rivista)</a> (http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/TIPO1101)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID216905'>Raman study of bulk mobility in 3C-SiC heteroepitaxy (Articolo in rivista)</a> (http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/TIPO1101)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID216181'>Fast growth rate epitaxy by chloride precursors (Articolo in rivista)</a> (Prodotto della ricerca)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID216265'>Micro-Raman analysis of a micromachined 3C-SiC cantilever (Articolo in rivista)</a> (Prodotto della ricerca)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID216268'>Stress evaluation on hetero-epitaxial 3C-SiC film on (100) Si substrates (Articolo in rivista)</a> (Prodotto della ricerca)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID216625'>Strain field analysis of 3C-SiC free-standing microstructures by micro-Raman and theoretical modelling (Articolo in rivista)</a> (http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/TIPO1101)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID216726'>Study of the connection between stacking faults evolution and step kinetics in misoriented 4H-SiC epitaxial growths (Articolo in rivista)</a> (http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/TIPO1101)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID216838'>3C-SiC film growth on Si substrates (Articolo in rivista)</a> (http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/TIPO1101)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID216894'>Reduction of the surface density of single Shockley faults by TCS growth process (Articolo in rivista)</a> (http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/TIPO1101)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID216917'>Evolution of extended defects during epitaxial growths: A Monte Carlo study (Articolo in rivista)</a> (http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/TIPO1101)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID216122'>Monte carlo study of the hetero-polytypical growth of cubic on hexagonal silicon carbide polytypes (Articolo in rivista)</a> (http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/TIPO1101)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID216248'>Stress nature investigation on heteroepitaxial 3C-SiC film on (100) Si substrates (Articolo in rivista)</a> (http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/TIPO1101)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID216639'>Structural characterization of heteroepitaxial 3C-SiC (Articolo in rivista)</a> (http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/TIPO1101)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID216799'>High power density UV optical stress for quality evaluation of 4H-SiC epitaxial layers (Articolo in rivista)</a> (http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/TIPO1101)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID251796'>On the \"Step Bunching\" Phenomena Observed on Etched and Homoepitaxially Grown 4H Silicon Carbide (Articolo in rivista)</a> (Prodotto della ricerca)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID272268'>Micro-Raman analysis and finite-element modeling of 3 C-SiC microstructures (Articolo in rivista)</a> (Prodotto della ricerca)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID306831'>Theoretical and experimental study of the kinetics of particle chains near electrodes in dielectrophoretic devices (Contributo in atti di convegno)</a> (Prodotto della ricerca)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID308772'>4H-SiC epitaxial layer grown on 150 mm automatic horizontal hot wall reactor PE1O6 (Articolo in rivista)</a> (http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/TIPO1101)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID308784'>Micro-Raman characterization of 4H-SiC stacking faults (Articolo in rivista)</a> (Prodotto della ricerca)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID308809'>Manufacture of wafers of wide energy gap semiconductor material for the integration of electronic and/or optical and/or optoelectronic devices (Brevetto)</a> (Prodotto della ricerca)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID308812'>Analysis on 3C-SiC layer grown on pseudomorphic-Si/Si1-xGex/Si(001) heterostructures (Articolo in rivista)</a> (http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/TIPO1101)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID312104'>Mechanisms of growth and defect properties of epitaxial SiC (Articolo in rivista)</a> (http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/TIPO1101)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID302680'>Hetero-epitaxial Single Crystal 3C-SiC Opto-Mechanical Pressure Sensor (Abstract/Poster in convegno)</a> (http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/TIPO1304)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID306902'>Study of the role of particle-particle dipole interaction in dielectrophoretic devices for biomarkers identification (Contributo in atti di convegno)</a> (http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/TIPO1301)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID308779'>Curvature evaluation of Si/3C-SiC/Si hetero-structure grown by Chemical Vapor Deposition (Articolo in rivista)</a> (Prodotto della ricerca)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID308791'>Evaluation of mechanical and optical properties of hetero-epitaxial single crystal 3C-SiC squared-membrane (Articolo in rivista)</a> (Prodotto della ricerca)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID281142'>Theoretical and experimental study of the role of cell-cell dipole interaction in dielectrophoretic devices: application to polynomial electrodes (Articolo in rivista)</a> (Prodotto della ricerca)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID308756'>A novel micro-Raman technique to detect and characterize 4H-SiC stacking faults (Articolo in rivista)</a> (Prodotto della ricerca)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID308776'>Monte Carlo study of the early growth stages of 3C-SiC on misoriented < 11-20 > and < 1-100 > 6H-SiC substrates (Articolo in rivista)</a> (Prodotto della ricerca)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID308811'>Strain evaluation and fracture properties of hetero-epitaxial single crystal 3C-SiC squared membrane (Articolo in rivista)</a> (http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/TIPO1101)</li></ul></dd><dt>Coautore</dt><dd><ul><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/unitaDiPersonaleInterno/MATRICOLA6734'>ANTONINO LA MAGNA</a> (Persona)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/unitaDiPersonaleInterno/MATRICOLA8584'>MARKUS ITALIA</a> (Persona)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/unitaDiPersonaleInterno/MATRICOLA8277'>GIUSEPPE ALESSIO MARIA D'ARRIGO</a> (Persona)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/unitaDiPersonaleInterno/MATRICOLA286'>ANTONELLA POGGI</a> (Persona)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/unitaDiPersonaleInterno/MATRICOLA8186'>ALESSANDRA ALBERTI</a> (Unità di personale interno)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/unitaDiPersonaleInterno/MATRICOLA10107'>FILIPPO GIANNAZZO</a> (Persona)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/unitaDiPersonaleInterno/MATRICOLA12583'>FRANCESCO LA VIA</a> (Persona)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/unitaDiPersonaleInterno/MATRICOLA14053'>ROBERTA NIPOTI</a> (Unità di personale interno)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/unitaDiPersonaleInterno/MATRICOLA8590'>CORRADO BONGIORNO</a> (Persona)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/unitaDiPersonaleInterno/MATRICOLA8851'>SILVIA SCALESE</a> (Unità di personale interno)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/unitaDiPersonaleInterno/MATRICOLA11092'>GIORGIO RUSSO</a> (Persona)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/unitaDiPersonaleEsterno/ID4546'>Andrea Severino</a> (Unità di personale esterno)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/unitaDiPersonaleEsterno/ID17634'>NICOLO' PILUSO</a> (Unità di personale esterno)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/unitaDiPersonaleInterno/MATRICOLA11205'>SALVATORE DI FRANCO</a> (Unità di personale interno)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/unitaDiPersonaleInterno/MATRICOLA8651'>ALBERTO RONCAGLIA</a> (Unità di personale interno)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/unitaDiPersonaleEsterno/ID2827'>PATRICK FIORENZA</a> (Unità di personale esterno)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/unitaDiPersonaleEsterno/ID2932'>IOANNIS DERETZIS</a> (Unità di personale esterno)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/unitaDiPersonaleEsterno/ID9710'>RUGGERO ANZALONE</a> (Unità di personale esterno)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/unitaDiPersonaleEsterno/ID22742'>http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/unitaDiPersonaleEsterno/ID22742</a></li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/unitaDiPersonaleEsterno/ID17632'>ANDREA CANINO</a> (Persona)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/unitaDiPersonaleEsterno/ID8750'>PIETRO DAVIDE DELUGAS</a> (Persona)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/unitaDiPersonaleInterno/MATRICOLA7391'>MARIA CARLA GILARDI</a> (Unità di personale interno)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/unitaDiPersonaleInterno/MATRICOLA14567'>STEFANIA MARIA SERENA PRIVITERA</a> (Persona)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/unitaDiPersonaleInterno/MATRICOLA15373'>VALENTINA BRAVATA'</a> (Persona)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/unitaDiPersonaleInterno/MATRICOLA14323'>GIUSI IRMA FORTE</a> (Persona)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/unitaDiPersonaleInterno/MATRICOLA14556'>PATRICK FIORENZA</a> (Unità di personale interno)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/unitaDiPersonaleInterno/MATRICOLA15344'>FRANCESCO PAOLO CAMMARATA</a> (Unità di personale interno)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/unitaDiPersonaleInterno/MATRICOLA15616'>LUCA BELSITO</a> (Unità di personale interno)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/unitaDiPersonaleInterno/MATRICOLA11487'>FULVIO MANCARELLA</a> (Unità di personale interno)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/unitaDiPersonaleInterno/MATRICOLA14590'>LUIGI MINAFRA</a> (Unità di personale interno)</li></ul></dd><dt>Ha pubblicazioni con</dt><dd><ul><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/unitaDiPersonaleInterno/MATRICOLA6734'>ANTONINO LA MAGNA</a> (Persona)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/unitaDiPersonaleInterno/MATRICOLA8584'>MARKUS ITALIA</a> (Persona)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/unitaDiPersonaleInterno/MATRICOLA10107'>FILIPPO GIANNAZZO</a> (Persona)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/unitaDiPersonaleInterno/MATRICOLA12583'>FRANCESCO LA VIA</a> (Persona)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/unitaDiPersonaleInterno/MATRICOLA8590'>CORRADO BONGIORNO</a> (Persona)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/unitaDiPersonaleEsterno/ID4546'>Andrea Severino</a> (Unità di personale esterno)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/unitaDiPersonaleEsterno/ID2827'>PATRICK FIORENZA</a> (Unità di personale esterno)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/unitaDiPersonaleEsterno/ID9710'>RUGGERO ANZALONE</a> (Unità di personale esterno)</li></ul></dd><dt>Ha afferente</dt><dd><ul><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/istituto/CDS057'>Istituto per la microelettronica e microsistemi (IMM)</a> (Istituto)</li></ul></dd><dt>Partecipazione di</dt><dd><ul><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/personale-partecipazioneacommessa/unitaDiPersonaleEsterno/ID9713-COMMESSA5346-ANNO2008'>Partecipazione a Commessa "Nuovi processi per la produzione di wafer di Carburo di Silicio e nuove applicazioni nell'ambito del fotovoltaico e dei MEMS" (MD.P05.009) di MASSIMO CAMARDA nell'anno 2008</a> (Partecipazione a commessa)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/personale-partecipazioneacommessa/unitaDiPersonaleEsterno/ID9713-COMMESSA5346-ANNO2010'>Partecipazione a Commessa "Nuovi processi per la produzione di wafer di Carburo di Silicio e nuove applicazioni nell'ambito del fotovoltaico e dei MEMS" (MD.P05.009) di MASSIMO CAMARDA nell'anno 2010</a> (Partecipazione a commessa)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/personale-partecipazioneacommessa/unitaDiPersonaleEsterno/ID9713-COMMESSA1278-ANNO2013'>Partecipazione a Commessa "Sviluppo di metodologie avanzate per dispositivi elettronici micro e nanostrutturati" (MD.P05.005) di MASSIMO CAMARDA nell'anno 2013</a> (Partecipazione a commessa)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/personale-partecipazioneacommessa/unitaDiPersonaleEsterno/ID9713-COMMESSA5346-ANNO2006'>Partecipazione a Commessa "Nuovi processi per la produzione di wafer di Carburo di Silicio e nuove applicazioni nell'ambito del fotovoltaico e dei MEMS" (MD.P05.009) di MASSIMO CAMARDA nell'anno 2006</a> (Partecipazione a commessa)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/personale-partecipazioneacommessa/unitaDiPersonaleEsterno/ID9713-COMMESSA5346-ANNO2009'>Partecipazione a Commessa "Nuovi processi per la produzione di wafer di Carburo di Silicio e nuove applicazioni nell'ambito del fotovoltaico e dei MEMS" (MD.P05.009) di MASSIMO CAMARDA nell'anno 2009</a> (Partecipazione a commessa)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/personale-partecipazioneacommessa/unitaDiPersonaleEsterno/ID9713-COMMESSA5346-ANNO2011'>Partecipazione a Commessa "Nuovi processi per la produzione di wafer di Carburo di Silicio e nuove applicazioni nell'ambito del fotovoltaico e dei MEMS" (MD.P05.009) di MASSIMO CAMARDA nell'anno 2011</a> (Partecipazione a commessa)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/personale-partecipazioneacommessa/unitaDiPersonaleEsterno/ID9713-COMMESSA5346-ANNO2007'>Partecipazione a Commessa "Nuovi processi per la produzione di wafer di Carburo di Silicio e nuove applicazioni nell'ambito del fotovoltaico e dei MEMS" (MD.P05.009) di MASSIMO CAMARDA nell'anno 2007</a> (Partecipazione a commessa)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/personale-partecipazioneacommessa/unitaDiPersonaleEsterno/ID9713-COMMESSA5346-ANNO2012'>Partecipazione a Commessa "Nuovi processi per la produzione di wafer di Carburo di Silicio e nuove applicazioni nell'ambito del fotovoltaico e dei MEMS" (MD.P05.009) di MASSIMO CAMARDA nell'anno 2012</a> (Partecipazione a commessa)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/personale-partecipazioneacommessa/unitaDiPersonaleEsterno/ID9713-COMMESSA1278-ANNO2014'>Partecipazione a Commessa "Sviluppo di metodologie avanzate per dispositivi elettronici micro e nanostrutturati" (MD.P05.005) di MASSIMO CAMARDA nell'anno 2014</a> (Partecipazione a commessa)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/personale-partecipazioneacommessa/unitaDiPersonaleEsterno/ID9713-COMMESSA5346-ANNO2013'>Partecipazione a Commessa "Nuovi processi per la produzione di wafer di Carburo di Silicio e nuove applicazioni nell'ambito del fotovoltaico e dei MEMS" (MD.P05.009) di MASSIMO CAMARDA nell'anno 2013</a> (Partecipazione a commessa)</li></ul></dd><dt>Rapporto con persona</dt><dd><ul><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/rapportoConCNR/ID9713'>Employment relationship with CNR of MASSIMO CAMARDA</a> (Rapporto con CNR)</li></ul></dd><dt>Http://www.w3.org/2004/02/skos/core#isSubjectOf</dt><dd><ul><li><a href='http://dbpedia.org/resource/Category:Randomness' class = 'external' >Randomness</a> (Categoria DBpedia)</li></ul></dd>

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