RUGGERO ANZALONE
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- Persona (Classe)
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- RUGGERO ANZALONE (literal)
- RUGGERO ANZALONE (literal)
- Partecipa a commessa
- Partecipazione a Commessa "Nuovi processi per la produzione di wafer di Carburo di Silicio e nuove applicazioni nell'ambito del fotovoltaico e dei MEMS" (MD.P05.009) di RUGGERO ANZALONE nell'anno 2007 (Partecipazione a commessa)
- Partecipazione a Commessa "Nuovi processi per la produzione di wafer di Carburo di Silicio e nuove applicazioni nell'ambito del fotovoltaico e dei MEMS" (MD.P05.009) di RUGGERO ANZALONE nell'anno 2009 (Partecipazione a commessa)
- Partecipazione a Commessa "Nuovi processi per la produzione di wafer di Carburo di Silicio e nuove applicazioni nell'ambito del fotovoltaico e dei MEMS" (MD.P05.009) di RUGGERO ANZALONE nell'anno 2012 (Partecipazione a commessa)
- Partecipazione a Commessa "Nuovi processi per la produzione di wafer di Carburo di Silicio e nuove applicazioni nell'ambito del fotovoltaico e dei MEMS" (MD.P05.009) di RUGGERO ANZALONE nell'anno 2010 (Partecipazione a commessa)
- Partecipazione a Commessa "Nuovi processi per la produzione di wafer di Carburo di Silicio e nuove applicazioni nell'ambito del fotovoltaico e dei MEMS" (MD.P05.009) di RUGGERO ANZALONE nell'anno 2008 (Partecipazione a commessa)
- Partecipazione a Commessa "Nuovi processi per la produzione di wafer di Carburo di Silicio e nuove applicazioni nell'ambito del fotovoltaico e dei MEMS" (MD.P05.009) di RUGGERO ANZALONE nell'anno 2013 (Partecipazione a commessa)
- Partecipazione a Commessa "Nuovi processi per la produzione di wafer di Carburo di Silicio e nuove applicazioni nell'ambito del fotovoltaico e dei MEMS" (MD.P05.009) di RUGGERO ANZALONE nell'anno 2011 (Partecipazione a commessa)
- Partecipazione a Commessa "Nuovi processi per la produzione di wafer di Carburo di Silicio e nuove applicazioni nell'ambito del fotovoltaico e dei MEMS" (MD.P05.009) di RUGGERO ANZALONE nell'anno 2006 (Partecipazione a commessa)
- Persona in rapporto
- Employment relationship with CNR of RUGGERO ANZALONE (Rapporto con CNR)
- Autore CNR di
- Mechanical proprieties and residual stress evaluation on heteroepitaxial 3C-SiC/Si for MEMS application (Articolo in rivista) (http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/TIPO1101)
- Realizzazzione di micro-strutture per la determinazione dello stress nell'etero-epitassia 3C-SiC/Si (Risultati di valorizzazione applicativa) (http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/TIPO1724)
- Analysis on 3C-SiC layer grown on pseudomorphic-Si/Si1-xGex/Si(001) heterostructures (Articolo in rivista) (http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/TIPO1101)
- Three-dimensional epitaxial Si1-xGex, Ge and SiC crystals on deeply patterned Si substrates (Articolo in rivista) (http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/TIPO1101)
- Advanced residual stress analysis on the heteroepitaxial growth of 3C-SiC/Si for MEMS application (Articolo in rivista) (http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/TIPO1101)
- Heteroepitaxial growth of (111) 3C-SiC on (110) Si substrate by second order twins (Articolo in rivista) (http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/TIPO1101)
- Micro-Raman characterization of 4H-SiC stacking faults (Articolo in rivista) (http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/TIPO1101)
- Extended characterization of the stress fields in the heteroepitaxial growth of 3C-SiC on silicon for sensors and device applications (Articolo in rivista) (Prodotto della ricerca)
- Stress fields analysis in 3C-SiC free-standing microstructures by micro-Raman spectroscopy (Articolo in rivista) (http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/TIPO1101)
- Study of microstructure deflections and film/substrate curvature under generalized stress fields and mechanical properties (Articolo in rivista) (http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/TIPO1101)
- Correlation between macroscopic and microscopic stress fields: Application to the 3C-SiC/Si heteroepitaxy (Articolo in rivista) (http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/TIPO1101)
- Evaluation of mechanical and optical properties of hetero-epitaxial single crystal 3C-SiC squared-membrane (Articolo in rivista) (Prodotto della ricerca)
- Curvature evaluation of Si/3C-SiC/Si hetero-structure grown by Chemical Vapor Deposition (Articolo in rivista) (http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/TIPO1101)
- Processo di crescita etero-epitassiale di SiC mediante precursori innovativi (Progetti) (Prodotto della ricerca)
- Towards Large Area (111)3C-SiC Films Grown on off-oriented (111)Si (Articolo in rivista) (http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/TIPO1101)
- Advanced stress analysis by micro-structures realization on high quality hetero-epitaxial 3C-SiC for MEMS application (Articolo in rivista) (http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/TIPO1101)
- Advanced Residual Stress Analysis and FEM Simulation on Heteroepitaxial 3C-SiC for MEMS Application (Articolo in rivista) (Prodotto della ricerca)
- Raman stress characterization of hetero-epitaxial 3C-SiC free standing structures (Articolo in rivista) (http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/TIPO1101)
- Raman characterization of doped 3C-SiC/Si for different silicon substrates and C/Si ratios (Articolo in rivista) (http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/TIPO1101)
- Study of the role of particle-particle dipole interaction in dielectrophoretic devices for biomarkers identification (Contributo in atti di convegno) (Prodotto della ricerca)
- High Quality Single Crystal 3C-SiC(111) Films Grown on Si(111) (Articolo in rivista) (Prodotto della ricerca)
- Residual stress measurement and simulation of 3C-SiC single and poly crystal cantilevers (Articolo in rivista) (Prodotto della ricerca)
- Defect Influence on Heteroepitaxial 3C-SiC Young's Modulus (Articolo in rivista) (http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/TIPO1101)
- Micro-Raman analysis of a micromachined 3C-SiC cantilever (Articolo in rivista) (http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/TIPO1101)
- Stress relaxation study in 3C-SiC microstructures by micro-raman analysis and finite element modeling (Articolo in rivista) (Prodotto della ricerca)
- Stress evaluation on hetero-epitaxial 3C-SiC film on (100) Si substrates (Articolo in rivista) (http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/TIPO1101)
- A new position sensitive anode for plasmas diagnostic (Articolo in rivista) (http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/TIPO1101)
- Stress nature investigation on heteroepitaxial 3C-SiC film on (100) Si substrates (Articolo in rivista) (Prodotto della ricerca)
- Micro-Raman analysis and finite-element modeling of 3 C-SiC microstructures (Articolo in rivista) (Prodotto della ricerca)
- Structural defects in (100) 3C-SiC heteroepitaxy: Influence of the buffer layer morphology on generation and propagation of stacking faults and microtwins (Articolo in rivista) (http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/TIPO1101)
- Effect of the miscut direction in (111) 3C-SiC film growth on off-axis (111)Si (Articolo in rivista) (http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/TIPO1101)
- Strain field analysis of 3C-SiC free-standing microstructures by micro-Raman and theoretical modelling (Articolo in rivista) (Prodotto della ricerca)
- Theoretical and experimental study of the role of cell-cell dipole interaction in dielectrophoretic devices: application to polynomial electrodes (Articolo in rivista) (Prodotto della ricerca)
- Structural characterization of heteroepitaxial 3C-SiC (Articolo in rivista) (http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/TIPO1101)
- Low Stress Heteroepitaxial 3C-SiC Films Characterized by Microstructure Fabrication and Finite Elements Analysis (Articolo in rivista) (http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/TIPO1101)
- Stress fields analysis in 3C-SiC free-standing microstructures by micro-Raman spectroscopy (Articolo in rivista) (http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/TIPO1101)
- Strain evaluation and fracture properties of hetero-epitaxial single crystal 3C-SiC squared membrane (Articolo in rivista) (Prodotto della ricerca)
- Heteroepitaxy of 3C-SiC on different on-axis oriented silicon substrates (Articolo in rivista) (Prodotto della ricerca)
- Growth rate effect on 3C-SiC film residual stress on (100) Si substrates (Articolo in rivista) (http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/TIPO1101)
- Residual Stress Measurement on Hetero-epitaxial 3C-SiC Films (Articolo in rivista) (Prodotto della ricerca)
- 3C-SiC film growth on Si substrates (Articolo in rivista) (Prodotto della ricerca)
- Coautore
- SALVATORE DI FRANCO (Unità di personale interno)
- ALESSANDRA ALBERTI (Persona)
- GIUSEPPE ALESSIO MARIA D'ARRIGO (Unità di personale interno)
- NICOLO' PILUSO (Persona)
- Andrea Severino (Persona)
- MARKUS ITALIA (Unità di personale interno)
- CORRADO BONGIORNO (Persona)
- ANTONINO LA MAGNA (Persona)
- ANDREA CANINO (Persona)
- ALBERTO RONCAGLIA (Unità di personale interno)
- GIUSI IRMA FORTE (Persona)
- FRANCESCO PAOLO CAMMARATA (Persona)
- LUIGI MINAFRA (Persona)
- GIORGIO RUSSO (Persona)
- ANTONELLA POGGI (Persona)
- MARIA CARLA GILARDI (Unità di personale interno)
- FRANCESCO LA VIA (Unità di personale interno)
- GRAZIA LITRICO (Unità di personale esterno)
- FULVIO MANCARELLA (Persona)
- STEPHEN EDWARD SADDOW (Unità di personale esterno)
- MASSIMO CAMARDA (Unità di personale esterno)
- SILVIA SCALESE (Persona)
- VALENTINA BRAVATA' (Persona)
- Nome
- RUGGERO (literal)
- Cognome
- ANZALONE (literal)
- Afferisce a
- Ha pubblicazioni con
- GRAZIA LITRICO (Unità di personale esterno)
- Andrea Severino (Persona)
- FRANCESCO LA VIA (Unità di personale interno)
- STEPHEN EDWARD SADDOW (Unità di personale esterno)
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- ANTONINO LA MAGNA (Persona)
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- Ha afferente
- Partecipazione di
- Partecipazione a Commessa "Nuovi processi per la produzione di wafer di Carburo di Silicio e nuove applicazioni nell'ambito del fotovoltaico e dei MEMS" (MD.P05.009) di RUGGERO ANZALONE nell'anno 2012 (Partecipazione a commessa)
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- Rapporto con persona
- Employment relationship with CNR of RUGGERO ANZALONE (Rapporto con CNR)
- Autore CNR
- Heteroepitaxy of 3C-SiC on different on-axis oriented silicon substrates (Articolo in rivista) (Prodotto della ricerca)
- Low Stress Heteroepitaxial 3C-SiC Films Characterized by Microstructure Fabrication and Finite Elements Analysis (Articolo in rivista) (http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/TIPO1101)
- Effect of the miscut direction in (111) 3C-SiC film growth on off-axis (111)Si (Articolo in rivista) (http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/TIPO1101)
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- Defect Influence on Heteroepitaxial 3C-SiC Young's Modulus (Articolo in rivista) (http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/TIPO1101)
- Advanced Residual Stress Analysis and FEM Simulation on Heteroepitaxial 3C-SiC for MEMS Application (Articolo in rivista) (Prodotto della ricerca)
- High Quality Single Crystal 3C-SiC(111) Films Grown on Si(111) (Articolo in rivista) (Prodotto della ricerca)
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- Extended characterization of the stress fields in the heteroepitaxial growth of 3C-SiC on silicon for sensors and device applications (Articolo in rivista) (Prodotto della ricerca)
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