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					<div class="scheda"><h1>NICOLO' PILUSO</h1>
<dl><dt>Type</dt><dd><ul><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/persone.owl#Persona' class = 'external' >Persona</a> (Classe)</li></ul></dd><dt>Label</dt><dd><ul><li>NICOLO' PILUSO (literal)</li><li>NICOLO' PILUSO (literal)</li></ul></dd><dt>Partecipa a commessa</dt><dd><ul><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/personale-partecipazioneacommessa/unitaDiPersonaleEsterno/ID17634-COMMESSA5346-ANNO2011'>Partecipazione a Commessa "Nuovi processi per la produzione di wafer di Carburo di Silicio e nuove applicazioni nell'ambito del fotovoltaico e dei MEMS" (MD.P05.009) di NICOLO' PILUSO nell'anno 2011</a> (Partecipazione a commessa)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/personale-partecipazioneacommessa/unitaDiPersonaleEsterno/ID17634-COMMESSA5346-ANNO2012'>Partecipazione a Commessa "Nuovi processi per la produzione di wafer di Carburo di Silicio e nuove applicazioni nell'ambito del fotovoltaico e dei MEMS" (MD.P05.009) di NICOLO' PILUSO nell'anno 2012</a> (Partecipazione a commessa)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/personale-partecipazioneacommessa/unitaDiPersonaleEsterno/ID17634-COMMESSA5346-ANNO2013'>Partecipazione a Commessa "Nuovi processi per la produzione di wafer di Carburo di Silicio e nuove applicazioni nell'ambito del fotovoltaico e dei MEMS" (MD.P05.009) di NICOLO' PILUSO nell'anno 2013</a> (Partecipazione a commessa)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/personale-partecipazioneacommessa/unitaDiPersonaleEsterno/ID17634-COMMESSA5346-ANNO2010'>Partecipazione a Commessa "Nuovi processi per la produzione di wafer di Carburo di Silicio e nuove applicazioni nell'ambito del fotovoltaico e dei MEMS" (MD.P05.009) di NICOLO' PILUSO nell'anno 2010</a> (Partecipazione a commessa)</li></ul></dd><dt>Persona in rapporto</dt><dd><ul><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/rapportoConCNR/ID17634'>Rapporto con CNR di NICOLO' PILUSO</a> (Rapporto con CNR)</li></ul></dd><dt>Autore CNR di</dt><dd><ul><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID36719'>Optical investigation of bulk electron mobility in 3C-SiC films on Si substrates (Articolo in rivista)</a> (http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/TIPO1101)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID65819'>Bow in 6 inch high-quality off-axis (111) 3C-SiC films (Articolo in rivista)</a> (http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/TIPO1101)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID216248'>Stress nature investigation on heteroepitaxial 3C-SiC film on (100) Si substrates (Articolo in rivista)</a> (http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/TIPO1101)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID216202'>Patterned substrate with inverted silicon pyramids for 3C-SiC epitaxial growth: A comparison with conventional (001) Si substrate (Articolo in rivista)</a> (Prodotto della ricerca)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID206922'>Crystal recovery from Al-implantation induced damaging in 3C-SiC films (Articolo in rivista)</a> (Prodotto della ricerca)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID216185'>Stress relaxation study in 3C-SiC microstructures by micro-raman analysis and finite element modeling (Articolo in rivista)</a> (http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/TIPO1101)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID87007'>Optical characterization of bulk mobility in 3C-SiC films grown on different orientation of Si substrates (Contributo in atti di convegno)</a> (http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/TIPO1301)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID208019'>Large area optical characterization of 3 and 4 inches 4H-SiC wafers (Articolo in rivista)</a> (Prodotto della ricerca)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID216639'>Structural characterization of heteroepitaxial 3C-SiC (Articolo in rivista)</a> (http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/TIPO1101)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID308806'>Three-dimensional epitaxial Si1-xGex, Ge and SiC crystals on deeply patterned Si substrates (Articolo in rivista)</a> (Prodotto della ricerca)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID308784'>Micro-Raman characterization of 4H-SiC stacking faults (Articolo in rivista)</a> (Prodotto della ricerca)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID308812'>Analysis on 3C-SiC layer grown on pseudomorphic-Si/Si1-xGex/Si(001) heterostructures (Articolo in rivista)</a> (http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/TIPO1101)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID308772'>4H-SiC epitaxial layer grown on 150 mm automatic horizontal hot wall reactor PE1O6 (Articolo in rivista)</a> (http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/TIPO1101)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID272290'>3C-SiC growth on (001) Si substrates by using a multilayer buffer (Articolo in rivista)</a> (Prodotto della ricerca)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID272288'>Impact of substrate steps and of monolayer-bilayer junctions on the electronic transport in epitaxial graphene on 4H-SiC (0001) (Articolo in rivista)</a> (Prodotto della ricerca)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID36788'>Defect Influence on Heteroepitaxial 3C-SiC Young's Modulus (Articolo in rivista)</a> (http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/TIPO1101)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID216838'>3C-SiC film growth on Si substrates (Articolo in rivista)</a> (http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/TIPO1101)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID308791'>Evaluation of mechanical and optical properties of hetero-epitaxial single crystal 3C-SiC squared-membrane (Articolo in rivista)</a> (Prodotto della ricerca)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID308779'>Curvature evaluation of Si/3C-SiC/Si hetero-structure grown by Chemical Vapor Deposition (Articolo in rivista)</a> (Prodotto della ricerca)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID309451'>Electrically Tunable Ge2Sb2Te5 Resistors Independent of the Temperature for Reconfigurable High Precision Electronics (Comunicazione a convegno)</a> (Prodotto della ricerca)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID212928'>Matrix role in Ge nanoclusters embedded in Si3N4 or SiO2 (Articolo in rivista)</a> (Prodotto della ricerca)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID216268'>Stress evaluation on hetero-epitaxial 3C-SiC film on (100) Si substrates (Articolo in rivista)</a> (Prodotto della ricerca)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID216265'>Micro-Raman analysis of a micromachined 3C-SiC cantilever (Articolo in rivista)</a> (Prodotto della ricerca)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID216165'>Effects of Al ion implantation on 3C-SiC crystal structure (Articolo in rivista)</a> (Prodotto della ricerca)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID208236'>Morphology and distribution of carbon nanostructures in a deposit produced by arc discharge in liquid nitrogen (Articolo in rivista)</a> (Prodotto della ricerca)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID308811'>Strain evaluation and fracture properties of hetero-epitaxial single crystal 3C-SiC squared membrane (Articolo in rivista)</a> (http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/TIPO1101)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID308756'>A novel micro-Raman technique to detect and characterize 4H-SiC stacking faults (Articolo in rivista)</a> (Prodotto della ricerca)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID216625'>Strain field analysis of 3C-SiC free-standing microstructures by micro-Raman and theoretical modelling (Articolo in rivista)</a> (http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/TIPO1101)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID251804'>On the determination of diameter distribution in multi-wall carbon nanotubes by Raman spectroscopy: issues related to excitation laser energy (Articolo in rivista)</a> (http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/TIPO1101)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID210322'>Micro and nanoscale electrical characterization of large-area graphene transferred to functional substrates (Articolo in rivista)</a> (http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/TIPO1101)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID216259'>Stress fields analysis in 3C-SiC free-standing microstructures by micro-Raman spectroscopy (Articolo in rivista)</a> (Prodotto della ricerca)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID216256'>Correlation between macroscopic and microscopic stress fields: Application to the 3C-SiC/Si heteroepitaxy (Articolo in rivista)</a> (Prodotto della ricerca)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID216264'>Extended characterization of the stress fields in the heteroepitaxial growth of 3C-SiC on silicon for sensors and device applications (Articolo in rivista)</a> (Prodotto della ricerca)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID216817'>Advanced residual stress analysis on the heteroepitaxial growth of 3C-SiC/Si for MEMS application (Articolo in rivista)</a> (Prodotto della ricerca)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID302547'>Electrically Trimmable Phase Change Ge2Sb2Te5 Resistors With Tunable Temperature Coefficient of Resistance (Articolo in rivista)</a> (http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/TIPO1101)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID216610'>Mechanical proprieties and residual stress evaluation on heteroepitaxial 3C-SiC/Si for MEMS application (Articolo in rivista)</a> (Prodotto della ricerca)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID208905'>Stress fields analysis in 3C-SiC free-standing microstructures by micro-Raman spectroscopy (Articolo in rivista)</a> (http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/TIPO1101)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID302680'>Hetero-epitaxial Single Crystal 3C-SiC Opto-Mechanical Pressure Sensor (Abstract/Poster in convegno)</a> (http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/TIPO1304)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID296613'>Current-induced defect formation in multi-walled carbon nanotubes (Articolo in rivista)</a> (Prodotto della ricerca)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID216863'>Raman stress characterization of hetero-epitaxial 3C-SiC free standing structures (Articolo in rivista)</a> (http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/TIPO1101)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID65820'>Raman characterization of doped 3C-SiC/Si for different silicon substrates and C/Si ratios (Articolo in rivista)</a> (Prodotto della ricerca)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID216905'>Raman study of bulk mobility in 3C-SiC heteroepitaxy (Articolo in rivista)</a> (http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/TIPO1101)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID216883'>Advanced stress analysis by micro-structures realization on high quality hetero-epitaxial 3C-SiC for MEMS application (Articolo in rivista)</a> (http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/TIPO1101)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID272277'>Scanning probe microscopy investigation of the mechanisms limiting electronic transport in substrate-supported graphene (Articolo in rivista)</a> (http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/TIPO1101)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID272268'>Micro-Raman analysis and finite-element modeling of 3 C-SiC microstructures (Articolo in rivista)</a> (Prodotto della ricerca)</li></ul></dd><dt>Coautore</dt><dd><ul><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/unitaDiPersonaleInterno/MATRICOLA8584'>MARKUS ITALIA</a> (Persona)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/unitaDiPersonaleEsterno/ID2778'>SALVATORE DI FRANCO</a> (Persona)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/unitaDiPersonaleInterno/MATRICOLA27906'>SALVATORE MIRABELLA</a> (Unità di personale interno)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/unitaDiPersonaleEsterno/ID17487'>ANTONIO TERRASI</a> (Persona)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/unitaDiPersonaleInterno/MATRICOLA14999'>IOANNIS DERETZIS</a> (Persona)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/unitaDiPersonaleInterno/MATRICOLA8651'>ALBERTO RONCAGLIA</a> (Unità di personale interno)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/unitaDiPersonaleInterno/MATRICOLA9222'>RAFFAELLA LO NIGRO</a> (Unità di personale interno)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/unitaDiPersonaleInterno/MATRICOLA11205'>SALVATORE DI FRANCO</a> (Unità di personale interno)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/unitaDiPersonaleEsterno/ID17582'>Salvatore Cosentino</a> (Unità di personale esterno)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/unitaDiPersonaleInterno/MATRICOLA8851'>SILVIA SCALESE</a> (Unità di personale interno)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/unitaDiPersonaleInterno/MATRICOLA8277'>GIUSEPPE ALESSIO MARIA D'ARRIGO</a> (Persona)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/unitaDiPersonaleInterno/MATRICOLA11487'>FULVIO MANCARELLA</a> (Unità di personale interno)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/unitaDiPersonaleEsterno/ID4546'>Andrea Severino</a> (Unità di personale esterno)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/unitaDiPersonaleEsterno/ID19188'>Gabriele Fisichella</a> (Unità di personale esterno)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/unitaDiPersonaleInterno/MATRICOLA15291'>VIVIANA SCUDERI</a> (Persona)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/unitaDiPersonaleEsterno/ID9713'>MASSIMO CAMARDA</a> (Unità di personale esterno)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/unitaDiPersonaleInterno/MATRICOLA14567'>STEFANIA MARIA SERENA PRIVITERA</a> (Persona)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/unitaDiPersonaleInterno/MATRICOLA14053'>ROBERTA NIPOTI</a> (Unità di personale interno)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/unitaDiPersonaleEsterno/ID9710'>RUGGERO ANZALONE</a> (Unità di personale esterno)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/unitaDiPersonaleInterno/MATRICOLA12583'>FRANCESCO LA VIA</a> (Persona)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/unitaDiPersonaleInterno/MATRICOLA15157'>GIUSEPPE NICOTRA</a> (Persona)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/unitaDiPersonaleInterno/MATRICOLA15616'>LUCA BELSITO</a> (Unità di personale interno)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/unitaDiPersonaleInterno/MATRICOLA8848'>FABRIZIO ROCCAFORTE</a> (Persona)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/unitaDiPersonaleInterno/MATRICOLA6734'>ANTONINO LA MAGNA</a> (Persona)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/unitaDiPersonaleInterno/MATRICOLA463'>VITTORIO PRIVITERA</a> (Persona)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/unitaDiPersonaleInterno/MATRICOLA10107'>FILIPPO GIANNAZZO</a> (Persona)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/unitaDiPersonaleInterno/MATRICOLA19930'>ROSARIO CORRADO SPINELLA</a> (Persona)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/unitaDiPersonaleEsterno/ID17632'>ANDREA CANINO</a> (Persona)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/unitaDiPersonaleEsterno/ID19849'>CRISTINA TUDISCO</a> (Persona)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/unitaDiPersonaleInterno/MATRICOLA8186'>ALESSANDRA ALBERTI</a> (Unità di personale interno)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/unitaDiPersonaleInterno/MATRICOLA8590'>CORRADO BONGIORNO</a> (Persona)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/unitaDiPersonaleInterno/MATRICOLA550'>ANTONIO DAMASO MARIA MARINO</a> (Persona)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/unitaDiPersonaleEsterno/ID4947'>Viviana Scuderi</a> (Persona)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/unitaDiPersonaleInterno/MATRICOLA14556'>PATRICK FIORENZA</a> (Unità di personale interno)</li></ul></dd><dt>Nome</dt><dd><ul><li>NICOLO' (literal)</li></ul></dd><dt>Cognome</dt><dd><ul><li>PILUSO (literal)</li></ul></dd><dt>Afferisce a</dt><dd><ul><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/istituto/CDS057'>Istituto per la microelettronica e microsistemi (IMM)</a> (Istituto)</li></ul></dd>

</dl>

<br/><h4>Incoming links:</h4><br/><dl><dt>Autore CNR</dt><dd><ul><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID87007'>Optical characterization of bulk mobility in 3C-SiC films grown on different orientation of Si substrates (Contributo in atti di convegno)</a> (http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/TIPO1301)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID36719'>Optical investigation of bulk electron mobility in 3C-SiC films on Si substrates (Articolo in rivista)</a> (http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/TIPO1101)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID36788'>Defect Influence on Heteroepitaxial 3C-SiC Young's Modulus (Articolo in rivista)</a> (http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/TIPO1101)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID65820'>Raman characterization of doped 3C-SiC/Si for different silicon substrates and C/Si ratios (Articolo in rivista)</a> (Prodotto della ricerca)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID65819'>Bow in 6 inch high-quality off-axis (111) 3C-SiC films (Articolo in rivista)</a> (http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/TIPO1101)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID208019'>Large area optical characterization of 3 and 4 inches 4H-SiC wafers (Articolo in rivista)</a> (Prodotto della ricerca)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID206922'>Crystal recovery from Al-implantation induced damaging in 3C-SiC films (Articolo in rivista)</a> (Prodotto della ricerca)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID210322'>Micro and nanoscale electrical characterization of large-area graphene transferred to functional substrates (Articolo in rivista)</a> (http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/TIPO1101)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID208236'>Morphology and distribution of carbon nanostructures in a deposit produced by arc discharge in liquid nitrogen (Articolo in rivista)</a> (Prodotto della ricerca)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID208905'>Stress fields analysis in 3C-SiC free-standing microstructures by micro-Raman spectroscopy (Articolo in rivista)</a> (http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/TIPO1101)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID216256'>Correlation between macroscopic and microscopic stress fields: Application to the 3C-SiC/Si heteroepitaxy (Articolo in rivista)</a> (Prodotto della ricerca)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID216259'>Stress fields analysis in 3C-SiC free-standing microstructures by micro-Raman spectroscopy (Articolo in rivista)</a> (Prodotto della ricerca)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID216264'>Extended characterization of the stress fields in the heteroepitaxial growth of 3C-SiC on silicon for sensors and device applications (Articolo in rivista)</a> (Prodotto della ricerca)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID216610'>Mechanical proprieties and residual stress evaluation on heteroepitaxial 3C-SiC/Si for MEMS application (Articolo in rivista)</a> (Prodotto della ricerca)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID216817'>Advanced residual stress analysis on the heteroepitaxial growth of 3C-SiC/Si for MEMS application (Articolo in rivista)</a> (Prodotto della ricerca)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID216863'>Raman stress characterization of hetero-epitaxial 3C-SiC free standing structures (Articolo in rivista)</a> (http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/TIPO1101)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID216883'>Advanced stress analysis by micro-structures realization on high quality hetero-epitaxial 3C-SiC for MEMS application (Articolo in rivista)</a> (http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/TIPO1101)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID216905'>Raman study of bulk mobility in 3C-SiC heteroepitaxy (Articolo in rivista)</a> (http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/TIPO1101)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID272288'>Impact of substrate steps and of monolayer-bilayer junctions on the electronic transport in epitaxial graphene on 4H-SiC (0001) (Articolo in rivista)</a> (Prodotto della ricerca)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID272290'>3C-SiC growth on (001) Si substrates by using a multilayer buffer (Articolo in rivista)</a> (Prodotto della ricerca)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID216165'>Effects of Al ion implantation on 3C-SiC crystal structure (Articolo in rivista)</a> (Prodotto della ricerca)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID216265'>Micro-Raman analysis of a micromachined 3C-SiC cantilever (Articolo in rivista)</a> (Prodotto della ricerca)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID216268'>Stress evaluation on hetero-epitaxial 3C-SiC film on (100) Si substrates (Articolo in rivista)</a> (Prodotto della ricerca)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID216625'>Strain field analysis of 3C-SiC free-standing microstructures by micro-Raman and theoretical modelling (Articolo in rivista)</a> (http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/TIPO1101)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID216838'>3C-SiC film growth on Si substrates (Articolo in rivista)</a> (http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/TIPO1101)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID251804'>On the determination of diameter distribution in multi-wall carbon nanotubes by Raman spectroscopy: issues related to excitation laser energy (Articolo in rivista)</a> (http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/TIPO1101)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID212928'>Matrix role in Ge nanoclusters embedded in Si3N4 or SiO2 (Articolo in rivista)</a> (Prodotto della ricerca)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID216185'>Stress relaxation study in 3C-SiC microstructures by micro-raman analysis and finite element modeling (Articolo in rivista)</a> (http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/TIPO1101)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID216202'>Patterned substrate with inverted silicon pyramids for 3C-SiC epitaxial growth: A comparison with conventional (001) Si substrate (Articolo in rivista)</a> (Prodotto della ricerca)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID216248'>Stress nature investigation on heteroepitaxial 3C-SiC film on (100) Si substrates (Articolo in rivista)</a> (http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/TIPO1101)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID216639'>Structural characterization of heteroepitaxial 3C-SiC (Articolo in rivista)</a> (http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/TIPO1101)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID272268'>Micro-Raman analysis and finite-element modeling of 3 C-SiC microstructures (Articolo in rivista)</a> (Prodotto della ricerca)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID272277'>Scanning probe microscopy investigation of the mechanisms limiting electronic transport in substrate-supported graphene (Articolo in rivista)</a> (http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/TIPO1101)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID308772'>4H-SiC epitaxial layer grown on 150 mm automatic horizontal hot wall reactor PE1O6 (Articolo in rivista)</a> (http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/TIPO1101)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID308784'>Micro-Raman characterization of 4H-SiC stacking faults (Articolo in rivista)</a> (Prodotto della ricerca)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID308806'>Three-dimensional epitaxial Si1-xGex, Ge and SiC crystals on deeply patterned Si substrates (Articolo in rivista)</a> (Prodotto della ricerca)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID308812'>Analysis on 3C-SiC layer grown on pseudomorphic-Si/Si1-xGex/Si(001) heterostructures (Articolo in rivista)</a> (http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/TIPO1101)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID302547'>Electrically Trimmable Phase Change Ge2Sb2Te5 Resistors With Tunable Temperature Coefficient of Resistance (Articolo in rivista)</a> (http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/TIPO1101)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID302680'>Hetero-epitaxial Single Crystal 3C-SiC Opto-Mechanical Pressure Sensor (Abstract/Poster in convegno)</a> (http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/TIPO1304)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID308779'>Curvature evaluation of Si/3C-SiC/Si hetero-structure grown by Chemical Vapor Deposition (Articolo in rivista)</a> (Prodotto della ricerca)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID308791'>Evaluation of mechanical and optical properties of hetero-epitaxial single crystal 3C-SiC squared-membrane (Articolo in rivista)</a> (Prodotto della ricerca)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID309451'>Electrically Tunable Ge2Sb2Te5 Resistors Independent of the Temperature for Reconfigurable High Precision Electronics (Comunicazione a convegno)</a> (Prodotto della ricerca)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID296613'>Current-induced defect formation in multi-walled carbon nanotubes (Articolo in rivista)</a> (Prodotto della ricerca)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID308756'>A novel micro-Raman technique to detect and characterize 4H-SiC stacking faults (Articolo in rivista)</a> (Prodotto della ricerca)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID308811'>Strain evaluation and fracture properties of hetero-epitaxial single crystal 3C-SiC squared membrane (Articolo in rivista)</a> (http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/TIPO1101)</li></ul></dd><dt>Coautore</dt><dd><ul><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/unitaDiPersonaleInterno/MATRICOLA8848'>FABRIZIO ROCCAFORTE</a> (Persona)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/unitaDiPersonaleInterno/MATRICOLA6734'>ANTONINO LA MAGNA</a> (Persona)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/unitaDiPersonaleInterno/MATRICOLA463'>VITTORIO PRIVITERA</a> (Persona)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/unitaDiPersonaleInterno/MATRICOLA8584'>MARKUS ITALIA</a> (Persona)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/unitaDiPersonaleInterno/MATRICOLA8277'>GIUSEPPE ALESSIO MARIA D'ARRIGO</a> (Persona)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/unitaDiPersonaleInterno/MATRICOLA8186'>ALESSANDRA ALBERTI</a> (Unità di personale interno)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/unitaDiPersonaleInterno/MATRICOLA27906'>SALVATORE MIRABELLA</a> (Unità di personale interno)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/unitaDiPersonaleInterno/MATRICOLA10107'>FILIPPO GIANNAZZO</a> (Persona)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/unitaDiPersonaleInterno/MATRICOLA12583'>FRANCESCO LA VIA</a> (Persona)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/unitaDiPersonaleInterno/MATRICOLA19930'>ROSARIO CORRADO SPINELLA</a> (Persona)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/unitaDiPersonaleInterno/MATRICOLA9222'>RAFFAELLA LO NIGRO</a> (Unità di personale interno)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/unitaDiPersonaleInterno/MATRICOLA14053'>ROBERTA NIPOTI</a> (Unità di personale interno)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/unitaDiPersonaleInterno/MATRICOLA8590'>CORRADO BONGIORNO</a> (Persona)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/unitaDiPersonaleInterno/MATRICOLA550'>ANTONIO DAMASO MARIA MARINO</a> (Persona)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/unitaDiPersonaleInterno/MATRICOLA8851'>SILVIA SCALESE</a> (Unità di personale interno)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/unitaDiPersonaleEsterno/ID4546'>Andrea Severino</a> (Unità di personale esterno)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/unitaDiPersonaleEsterno/ID4947'>Viviana Scuderi</a> (Persona)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/unitaDiPersonaleInterno/MATRICOLA11205'>SALVATORE DI FRANCO</a> (Unità di personale interno)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/unitaDiPersonaleInterno/MATRICOLA8651'>ALBERTO RONCAGLIA</a> (Unità di personale interno)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/unitaDiPersonaleEsterno/ID2778'>SALVATORE DI FRANCO</a> (Persona)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/unitaDiPersonaleEsterno/ID9710'>RUGGERO ANZALONE</a> (Unità di personale esterno)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/unitaDiPersonaleEsterno/ID9713'>MASSIMO CAMARDA</a> (Unità di personale esterno)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/unitaDiPersonaleEsterno/ID17487'>ANTONIO TERRASI</a> (Persona)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/unitaDiPersonaleEsterno/ID19188'>Gabriele Fisichella</a> (Unità di personale esterno)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/unitaDiPersonaleEsterno/ID17582'>Salvatore Cosentino</a> (Unità di personale esterno)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/unitaDiPersonaleEsterno/ID17632'>ANDREA CANINO</a> (Persona)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/unitaDiPersonaleInterno/MATRICOLA14567'>STEFANIA MARIA SERENA PRIVITERA</a> (Persona)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/unitaDiPersonaleInterno/MATRICOLA15157'>GIUSEPPE NICOTRA</a> (Persona)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/unitaDiPersonaleEsterno/ID22802'>http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/unitaDiPersonaleEsterno/ID22802</a></li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/unitaDiPersonaleInterno/MATRICOLA14556'>PATRICK FIORENZA</a> (Unità di personale interno)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/unitaDiPersonaleInterno/MATRICOLA15291'>VIVIANA SCUDERI</a> (Persona)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/unitaDiPersonaleInterno/MATRICOLA15616'>LUCA BELSITO</a> (Unità di personale interno)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/unitaDiPersonaleInterno/MATRICOLA11487'>FULVIO MANCARELLA</a> (Unità di personale interno)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/unitaDiPersonaleInterno/MATRICOLA14999'>IOANNIS DERETZIS</a> (Persona)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/unitaDiPersonaleEsterno/ID19849'>CRISTINA TUDISCO</a> (Persona)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/unitaDiPersonaleEsterno/ID22746'>http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/unitaDiPersonaleEsterno/ID22746</a></li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/unitaDiPersonaleEsterno/ID25789'>http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/unitaDiPersonaleEsterno/ID25789</a></li></ul></dd><dt>Ha afferente</dt><dd><ul><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/istituto/CDS057'>Istituto per la microelettronica e microsistemi (IMM)</a> (Istituto)</li></ul></dd><dt>Partecipazione di</dt><dd><ul><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/personale-partecipazioneacommessa/unitaDiPersonaleEsterno/ID17634-COMMESSA5346-ANNO2011'>Partecipazione a Commessa "Nuovi processi per la produzione di wafer di Carburo di Silicio e nuove applicazioni nell'ambito del fotovoltaico e dei MEMS" (MD.P05.009) di NICOLO' PILUSO nell'anno 2011</a> (Partecipazione a commessa)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/personale-partecipazioneacommessa/unitaDiPersonaleEsterno/ID17634-COMMESSA5346-ANNO2013'>Partecipazione a Commessa "Nuovi processi per la produzione di wafer di Carburo di Silicio e nuove applicazioni nell'ambito del fotovoltaico e dei MEMS" (MD.P05.009) di NICOLO' PILUSO nell'anno 2013</a> (Partecipazione a commessa)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/personale-partecipazioneacommessa/unitaDiPersonaleEsterno/ID17634-COMMESSA5346-ANNO2010'>Partecipazione a Commessa "Nuovi processi per la produzione di wafer di Carburo di Silicio e nuove applicazioni nell'ambito del fotovoltaico e dei MEMS" (MD.P05.009) di NICOLO' PILUSO nell'anno 2010</a> (Partecipazione a commessa)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/personale-partecipazioneacommessa/unitaDiPersonaleEsterno/ID17634-COMMESSA5346-ANNO2012'>Partecipazione a Commessa "Nuovi processi per la produzione di wafer di Carburo di Silicio e nuove applicazioni nell'ambito del fotovoltaico e dei MEMS" (MD.P05.009) di NICOLO' PILUSO nell'anno 2012</a> (Partecipazione a commessa)</li></ul></dd><dt>Rapporto con persona</dt><dd><ul><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/rapportoConCNR/ID17634'>Rapporto con CNR di NICOLO' PILUSO</a> (Rapporto con CNR)</li></ul></dd>

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					data.CNR.it
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					<dt>DATA.CNR.IT</dt>
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								<a href="/site">data.CNR.it</a>
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								<a href="http://www.w3.org/DesignIssues/LinkedData.html"><img src="http://lab.linkeddata.deri.ie/2010/lod-badges/img/data-badge-5.png" alt="five star open Web data" /></a>
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				<p>Copyright &copy; 2010 <a href="http://www.cnr.it" class="lang-dyn">Italian National Research Council</a> <br/> <br/>
				This work is licensed under a <a rel="license" href="http://creativecommons.org/licenses/by-nc-nd/3.0/">Creative Commons Attribution-NonCommercial-NoDerivs 3.0 Unported License</a><br/><br/>
				<a rel="license" href="http://creativecommons.org/licenses/by-nc-nd/3.0/"><img alt="Creative Commons License" style="border-width:0" src="http://i.creativecommons.org/l/by-nc-nd/3.0/88x31.png" /></a>
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