SILVIO MODESTI

Type

• Persona (Classe)

Label

• SILVIO MODESTI (literal)
• SILVIO MODESTI (literal)

Persona in rapporto

• Employment relationship with CNR of SILVIO MODESTI (Rapporto con CNR)

Autore CNR di

• Anisotropic ordered planar growth of ?-Sexithienyl thin films (Articolo in rivista) (Prodotto della ricerca)
• Microscopic Mechanisms of Self-Compensation in Si delta-doped GaAs (Articolo in rivista) (Prodotto della ricerca)
• Photoelectron diffraction study of the (3x3)-Sn/Ge(111) structure (Articolo in rivista) (Prodotto della ricerca)
• Correction of systematic errors in scanning tunneling spectra on semiconductor surfaces: The energy gap of Si(111)- 7×7 at 0.3 K (Articolo in rivista) (Prodotto della ricerca)
• Determination of the (3x3)-Sn/Ge(111) structure by photoelectron diffraction (Articolo in rivista) (Prodotto della ricerca)
• High spatial resolution studies of microscopic capacitors in GaAs (Contributo in atti di convegno) (Prodotto della ricerca)
• Cross-sectional imaging of sharp Si interlayers embedded in gallium arsenide (Articolo in rivista) (Prodotto della ricerca)
• In-N and N-N correlation in InxGa1-xAs1-yNy/GaAs quasi-lattice-matched quantum wells: A cross-sectional scanning tunneling microscopy study (Articolo in rivista) (Prodotto della ricerca)
• Order-disorder character of the (3 x 3) to (sqrt3 x sqrt3)R30° phase transition of Sn on Ge(111) (Articolo in rivista) (Prodotto della ricerca)

Coautore

• ALBERTO MORGANTE (Persona)
• STEFANO BARONI (Persona)
• ROBERTO ZAMBONI (Persona)
• FAUSTINO MARTELLI (Persona)
• FABIO BISCARINI (Unità di personale interno)
• ALBERTO VERDINI (Persona)
• MARIA PERESSI (Persona)
• ROBERTO GOTTER (Persona)
• ELVIO CARLINO (Unità di personale interno)
• LUCA FLOREANO (Unità di personale interno)
• GIOVANNI COMELLI (Unità di personale esterno)
• SILVIA RUBINI (Persona)
• ALFONSO FRANCIOSI (Persona)

Nome

• SILVIO (literal)

Cognome

• MODESTI (literal)

Afferisce a

• Institute of materials (IOM) (Istituto)

Incoming links:

Ha afferente

• Institute of materials (IOM) (Istituto)

Coautore

• ROBERTO ZAMBONI (Persona)
• LUCA FLOREANO (Unità di personale interno)
• ALBERTO VERDINI (Persona)
• ELVIO CARLINO (Unità di personale interno)
• ROBERTO GOTTER (Persona)
• FAUSTINO MARTELLI (Persona)
• SILVIA RUBINI (Persona)
• STEFANO BARONI (Persona)
• GIOVANNI COMELLI (Unità di personale esterno)
• MARIA PERESSI (Persona)
• ALBERTO MORGANTE (Persona)
• FABIO BISCARINI (Unità di personale interno)
• ALFONSO FRANCIOSI (Persona)

Rapporto con persona

• Employment relationship with CNR of SILVIO MODESTI (Rapporto con CNR)

Autore CNR

• Microscopic Mechanisms of Self-Compensation in Si delta-doped GaAs (Articolo in rivista) (Prodotto della ricerca)
• Cross-sectional imaging of sharp Si interlayers embedded in gallium arsenide (Articolo in rivista) (Prodotto della ricerca)
• High spatial resolution studies of microscopic capacitors in GaAs (Contributo in atti di convegno) (Prodotto della ricerca)
• In-N and N-N correlation in InxGa1-xAs1-yNy/GaAs quasi-lattice-matched quantum wells: A cross-sectional scanning tunneling microscopy study (Articolo in rivista) (Prodotto della ricerca)
• Correction of systematic errors in scanning tunneling spectra on semiconductor surfaces: The energy gap of Si(111)- 7×7 at 0.3 K (Articolo in rivista) (Prodotto della ricerca)
• Order-disorder character of the (3 x 3) to (sqrt3 x sqrt3)R30° phase transition of Sn on Ge(111) (Articolo in rivista) (Prodotto della ricerca)
• Photoelectron diffraction study of the (3x3)-Sn/Ge(111) structure (Articolo in rivista) (Prodotto della ricerca)
• Determination of the (3x3)-Sn/Ge(111) structure by photoelectron diffraction (Articolo in rivista) (Prodotto della ricerca)
• Anisotropic ordered planar growth of ?-Sexithienyl thin films (Articolo in rivista) (Prodotto della ricerca)