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					<div id="navpath"><strong>http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/rivista/ID498903</strong> </div>
					<div class="scheda"><h1>Diffusion and defect data, solid state data. Part B, Solid state phenomena</h1>
<dl><dt>Label</dt><dd><ul><li>Diffusion and defect data, solid state data. Part B, Solid state phenomena (literal)</li></ul></dd><dt>Http://www.cnr.it/ontology/cnr/pubblicazioni.owl#rivistaDi</dt><dd><ul><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID209622'>Nanocrystal MOS with silicon-rich oxide (Contributo in atti di convegno)</a> (http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/TIPO1301)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID52325'>L10 FePt-filled carbon nanotubes by wet chemical synthesis (Articolo in rivista)</a> (Prodotto della ricerca)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID209630'>Nanocrystal MOS memories obtained by LPCVD deposition of Si nanograins (Contributo in atti di convegno)</a> (http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/TIPO1301)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID62924'>Synthesis improvement of Yb3+-activated SnO2 nanocrystals (Articolo in rivista)</a> (http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/TIPO1101)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID25400'>L1° FePt-filled Carbon Nanotubes by Wet Chemical Synthesis (Articolo in rivista)</a> (Prodotto della ricerca)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID35273'>Ultra low-level ion implantation damage detected by p-n junctions biased above breakdown (Articolo in rivista)</a> (Prodotto della ricerca)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID35199'>Luminescence from Si nanocrystals and Er3+ ions embedded in resonant cavities (Articolo in rivista)</a> (http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/TIPO1101)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID171312'>Clustering of gold on 6H-SiC and local nanoscale electrical properties (Articolo in rivista)</a> (Prodotto della ricerca)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID35280'>Dependence of the transient enhanced diffusion of B in Si upon B concentration and ion implanted dose (Articolo in rivista)</a> (Prodotto della ricerca)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID65345'>From point to extended defects in silicon: A theoretical study (Articolo in rivista)</a> (http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/TIPO1101)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID171100'>Characterization of sic Grown on Si(111) by Supersonic C60 Beams (Articolo in rivista)</a> (http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/TIPO1101)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID36736'>Study of Morphology, Electrical Activation and Contact formation of Ion Implanted 4H-SiC (Articolo in rivista)</a> (http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/TIPO1101)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID35239'>Suppression of boron transient enhanced diffusion by C trapping (Articolo in rivista)</a> (http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/TIPO1101)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID35132'>Atomistic study of boron clustering in silicon (Articolo in rivista)</a> (http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/TIPO1101)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID168081'>IRON CHEMICAL STATE AND STRUCTURAL PROPERTIES OF Fe-Zn MANGANITES AND THEIR CARBONATE PRECURSORS (Articolo in rivista)</a> (Prodotto della ricerca)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID18161'>Characterization of the Chitosan/layered silicate nanocomposites (Articolo in rivista)</a> (http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/TIPO1101)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID32466'>First principles simulations of extended defects at cubic SiC surfaces and interfaces (Articolo in rivista)</a> (Prodotto della ricerca)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID32479'>Internal gettering efficiency in p/p+ and p/p- silicon epistructures (Contributo in atti di convegno)</a> (http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/TIPO1301)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID220266'>Luminescence properties of a multi-component glass Co-implanted with Si and Er (Articolo in rivista)</a> (Prodotto della ricerca)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID35923'>Dislocation generation in device fabrication process (Articolo in rivista)</a> (Prodotto della ricerca)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID36457'>Diffusion and activation of ultra shallow boron implants in silicon in proximity of voids (Articolo in rivista)</a> (Prodotto della ricerca)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID230002'>Two dimensional interstitial diffusion in mesoscopic structures (Contributo in atti di convegno)</a> (Prodotto della ricerca)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID286216'>Electrical and Optical Characterisation of Silicon Nanocrystals Embedded in SiC (Articolo in rivista)</a> (http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/TIPO1101)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID212202'>Surface corrugation and stacking misorientation in multilayers of graphene on Nickel (Articolo in rivista)</a> (Prodotto della ricerca)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID230163'>Effect of self-interstitials - nanovoids interaction on two-dimensional diffusion and activation of implanted B in Si (Contributo in atti di convegno)</a> (Prodotto della ricerca)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID36358'>Two dimensional interstitial diffusion in mesoscopic structures (Articolo in rivista)</a> (http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/TIPO1101)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID35628'>Cobalt contamination in silicon (Articolo in rivista)</a> (Prodotto della ricerca)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID36735'>Demonstration of defect-induced limitations on the properties of Au/3CSiC Schottky barrier diodes (Articolo in rivista)</a> (http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/TIPO1101)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID173365'>Nanoscale imaging of CaCu3Ti4O12 dielectric properties: the role of surface defects (Articolo in rivista)</a> (Prodotto della ricerca)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID173362'>Nanocrystals MOS with silicon-rich oxide (Articolo in rivista)</a> (http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/TIPO1101)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID28981'>Iron chemical and structural properties of Fe-Zn manganites and their carbonate precursor. (Articolo in rivista)</a> (http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/TIPO1101)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID315262'>Shape Memory Effect in Microsized Samples of Rapidly Quenched Ferromagnetic Alloy Ni-Mn-Ga (Articolo in rivista)</a> (http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/TIPO1101)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID43314'>Influence of alpha and beta SiC seeds on microstructure development and mechanical properties of liquid phase sintered SiC with RE2O3 and AlN additives (Articolo in rivista)</a> (http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/TIPO1101)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID32167'>Passivation of Al/Si interface by chemical treatment: Schottky barrier height and plasma etch induced defects (Articolo in rivista)</a> (Prodotto della ricerca)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID106974'>EXPO2006: a tool for powder crystallography (Comunicazione a convegno)</a> (Prodotto della ricerca)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID32168'>Defect-related current instabilities in InAs/GaAs and AlGaAs/GaAs structures (Articolo in rivista)</a> (Prodotto della ricerca)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID35263'>Void shrinkage during thermal oxidation od silicon (Articolo in rivista)</a> (Prodotto della ricerca)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID229023'>Self Interstitial kinetics and transient phenomena in Si crystals (Articolo in rivista)</a> (http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/TIPO1101)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID18162'>Nanocomposites Based on Montmorillonite/Acrylic Copolymer for Aqueous Coating of Soft Surface (Articolo in rivista)</a> (Prodotto della ricerca)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID19647'>The main strategies and tools in EXPO2009 (Articolo in rivista)</a> (Prodotto della ricerca)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID35190'>Interstitial diffusion influence upon two-dimensional boron profiles (Articolo in rivista)</a> (http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/TIPO1101)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID35637'>Silicon carbide: Defects and devices (Articolo in rivista)</a> (http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/TIPO1101)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID35201'>Electroluminescence of Si quantum dots in MOS structures (Articolo in rivista)</a> (http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/TIPO1101)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID35207'>Self-interstitials kinetics and transient phenomena in Si crystals (Articolo in rivista)</a> (Prodotto della ricerca)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID35214'>Room temperature point defect migration in crystalline Si (Articolo in rivista)</a> (Prodotto della ricerca)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID170769'>Electrical activation and carrier compensation in Si and Mg implanted GaN by scanning capacitance microscopy (Articolo in rivista)</a> (http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/TIPO1101)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID35135'>Strain characterization at the nm scale of deep sub-micron devices by convergent beam electron diffraction (Articolo in rivista)</a> (Prodotto della ricerca)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID240543'>Cathodoluminescence study of the Y-0 emission from ZnSe films (Articolo in rivista)</a> (http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/TIPO1101)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID35157'>Memory effects in single-electron nanostructures (Articolo in rivista)</a> (Prodotto della ricerca)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID312876'>Synthesis and light absorption mechanism in Si or Ge nanoclusters for photovoltaics applications (Articolo in rivista)</a> (http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/TIPO1101)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID35528'>Current transport by defects in Pr2O3 high k films (Articolo in rivista)</a> (http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/TIPO1101)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID35534'>Impact of hydrogen implantation on helium implantation induced defects (Articolo in rivista)</a> (http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/TIPO1101)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID35536'>Effect of self-interstitials - nanovoids interaction on two-dimensional diffusion and activation of implanted B in Si (Articolo in rivista)</a> (http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/TIPO1101)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID220389'>Erbium doped materials for a Si-based microphotonics (Articolo in rivista)</a> (Prodotto della ricerca)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID50398'>Nucleation of nanostructures from surface defects on silicon (Articolo in rivista)</a> (Prodotto della ricerca)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID32927'>Influence of Hydrogen on the Structural Stability of Annealed Ultrathin Si/Ge Amorphous Layers (Articolo in rivista)</a> (http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/TIPO1101)</li></ul></dd><dt>Alternative label</dt><dd><ul><li>Diffus. defect data solid state data, Pt. B Solid state phenom. (literal)</li><li>Solid state phenomena (literal)</li><li>Diffusion and defect data, solid state data. (literal)</li></ul></dd><dt>Language</dt><dd><ul><li>eng (literal)</li></ul></dd><dt>Http://www.cnr.it/ontology/cnr/pubblicazioni.owl#issn</dt><dd><ul><li>1012-0394 (literal)</li></ul></dd><dt>Preferred label</dt><dd><ul><li>Diffusion and defect data, solid state data. Part B, Solid state phenomena (literal)</li></ul></dd><dt>Publisher</dt><dd><ul><li>distributed by Trans Tech Publications, Zürich : CHE (literal)</li></ul></dd>

</dl>

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