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					<div class="scheda"><h1>IEEE electron device letters</h1>
<dl><dt>Label</dt><dd><ul><li>IEEE electron device letters (literal)</li></ul></dd><dt>Http://www.cnr.it/ontology/cnr/pubblicazioni.owl#rivistaDi</dt><dd><ul><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID25272'>Voltage-controlled relaxation oscillations in phase-change memory devices (Articolo in rivista)</a> (Prodotto della ricerca)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID25279'>Investigation of the electron-injection spread in barrier-engineered NAND Flash memories (Articolo in rivista)</a> (Prodotto della ricerca)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID25105'>Experimental study of data retention in nitride memories by temperature and field acceleration (Articolo in rivista)</a> (Prodotto della ricerca)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID24461'>Equivalent cell approach for extraction of the SILC distribution in Flash EEPROM cells (Articolo in rivista)</a> (http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/TIPO1101)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID311295'>A temperature transducer based on a low-voltage organic thin-film transistor detecting pyroelectric effect (Articolo in rivista)</a> (http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/TIPO1101)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID25541'>Impact of neutral threshold-voltage spread and electron-emission statistics on data retention of nanoscale NAND Flash (Articolo in rivista)</a> (http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/TIPO1101)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID296939'>On the Crossing-Point of 4H-SiC Power Diodes Characteristics (Articolo in rivista)</a> (Prodotto della ricerca)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID35270'>The impact of gate-oxide breakdown on SRAM stability (Articolo in rivista)</a> (Prodotto della ricerca)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID24719'>Parasitic reset in the programming transient of PCMs (Articolo in rivista)</a> (http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/TIPO1101)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID25376'>Random telegraph noise effect on the programmed threshold-voltage distribution of Flash memories (Articolo in rivista)</a> (Prodotto della ricerca)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID32557'>Stress-induced local trap levels in Au/n-GaAs Schottky diodes with embedded InAs quantum dots (Articolo in rivista)</a> (http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/TIPO1101)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID36806'>Reset Instability in Pulsed-Operated Unipolar Resistive-Switching Random Access Memory Devices (Articolo in rivista)</a> (http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/TIPO1101)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID24813'>Analysis of phase distribution in phase-change non-volatile memories (Articolo in rivista)</a> (http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/TIPO1101)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID35216'>Voltage dependence of hard breakdown growth and the reliability implication in thin devices (Articolo in rivista)</a> (Prodotto della ricerca)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID304859'>Evidence of Correlated Mobility Fluctuations in p-type Organic Thin Film Transistors (Articolo in rivista)</a> (Prodotto della ricerca)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID211027'>Edge Effects in Self-Heating-Related Instabilities in p-Channel Polycrystalline-Silicon Thin-Film Transistors (Articolo in rivista)</a> (Prodotto della ricerca)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID191506'>Very Fast and Priming-less Single-Crystal Diamond X-ray Dosimeters (Articolo in rivista)</a> (Prodotto della ricerca)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID182236'>Analysis of Self-Heating-Related Instability in Self-Aligned p-Channel Polycrystalline-Silicon Thin-Film Transistors (Articolo in rivista)</a> (http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/TIPO1101)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID24817'>Electronic switching effect and phase-change transition in chalcogenide materials (Articolo in rivista)</a> (http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/TIPO1101)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID273042'>Al+ Implanted 4H-SiC p(+)-i-n Diodes: Forward Current Negative Temperature Coefficient (Articolo in rivista)</a> (Prodotto della ricerca)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID25540'>Impact of control-gate and floating-gate design on the electron-injection spread of decananometer NAND Flash memories (Articolo in rivista)</a> (http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/TIPO1101)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID25539'>Effect of floating-gate polysilicon depletion on the erase efficiency of NAND Flash memories (Articolo in rivista)</a> (http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/TIPO1101)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID35317'>Role of fron contact work function on amorphous silicon/crystalline silicon heterojunction solar cell performance (Articolo in rivista)</a> (http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/TIPO1101)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID35319'>An AlGaAs-GaAs-based RCE MSM photodetector with delta modulation doping (Articolo in rivista)</a> (http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/TIPO1101)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID36291'>Crosstalk characterization in Geiger-mode avalanche photodiode arrays (Articolo in rivista)</a> (Prodotto della ricerca)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID191510'>Diamond Detectors for UV and X-ray Source Imaging (Articolo in rivista)</a> (Prodotto della ricerca)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID200270'>Strain Sensitivity and Transport Properties in Organic Field-Effect Transistors (Articolo in rivista)</a> (Prodotto della ricerca)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID825'>A CMOS, fully integrated sensor for electronic detection of DNA hybridization (Articolo in rivista)</a> (Prodotto della ricerca)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID35815'>Optically modulated high-sensitivity heterostructure varactor (Articolo in rivista)</a> (Prodotto della ricerca)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID25251'>A reliable technique for experimental evaluation of crystallization activation energy in PCMs (Articolo in rivista)</a> (Prodotto della ricerca)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID20585'>Simulation of Graphene Nanoribbon Field-Effect Transistors (Articolo in rivista)</a> (Prodotto della ricerca)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID25268'>The Transverse Field Detector (TFD): a novel color sensitive CMOS device (Articolo in rivista)</a> (Prodotto della ricerca)</li></ul></dd><dt>Alternative label</dt><dd><ul><li>I.E.E.E. electron device letters (literal)</li><li>Electron device letters (literal)</li><li>Institute of Electrical and Electronics Engineers electron device letters (literal)</li><li>IEEE electron device letters (literal)</li><li>IEEE electron device lett. (literal)</li></ul></dd><dt>Language</dt><dd><ul><li>eng (literal)</li></ul></dd><dt>Http://www.cnr.it/ontology/cnr/pubblicazioni.owl#issn</dt><dd><ul><li>0741-3106 (literal)</li></ul></dd><dt>Preferred label</dt><dd><ul><li>IEEE electron device letters (literal)</li></ul></dd><dt>Publisher</dt><dd><ul><li>Institute of Electrical and Electronics Engineers, New York, NY : USA (literal)</li></ul></dd>

</dl>

<br/><h4>Incoming links:</h4><br/><dl><dt>Rivista</dt><dd><ul><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID825'>A CMOS, fully integrated sensor for electronic detection of DNA hybridization (Articolo in rivista)</a> (Prodotto della ricerca)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID24461'>Equivalent cell approach for extraction of the SILC distribution in Flash EEPROM cells (Articolo in rivista)</a> (http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/TIPO1101)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID24817'>Electronic switching effect and phase-change transition in chalcogenide materials (Articolo in rivista)</a> (http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/TIPO1101)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID25105'>Experimental study of data retention in nitride memories by temperature and field acceleration (Articolo in rivista)</a> (Prodotto della ricerca)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID25251'>A reliable technique for experimental evaluation of crystallization activation energy in PCMs (Articolo in rivista)</a> (Prodotto della ricerca)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID25268'>The Transverse Field Detector (TFD): a novel color sensitive CMOS device (Articolo in rivista)</a> (Prodotto della ricerca)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID25272'>Voltage-controlled relaxation oscillations in phase-change memory devices (Articolo in rivista)</a> (Prodotto della ricerca)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID25279'>Investigation of the electron-injection spread in barrier-engineered NAND Flash memories (Articolo in rivista)</a> (Prodotto della ricerca)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID25539'>Effect of floating-gate polysilicon depletion on the erase efficiency of NAND Flash memories (Articolo in rivista)</a> (http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/TIPO1101)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID35270'>The impact of gate-oxide breakdown on SRAM stability (Articolo in rivista)</a> (Prodotto della ricerca)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID35815'>Optically modulated high-sensitivity heterostructure varactor (Articolo in rivista)</a> (Prodotto della ricerca)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID36806'>Reset Instability in Pulsed-Operated Unipolar Resistive-Switching Random Access Memory Devices (Articolo in rivista)</a> (http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/TIPO1101)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID20585'>Simulation of Graphene Nanoribbon Field-Effect Transistors (Articolo in rivista)</a> (Prodotto della ricerca)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID24813'>Analysis of phase distribution in phase-change non-volatile memories (Articolo in rivista)</a> (http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/TIPO1101)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID25540'>Impact of control-gate and floating-gate design on the electron-injection spread of decananometer NAND Flash memories (Articolo in rivista)</a> (http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/TIPO1101)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID35216'>Voltage dependence of hard breakdown growth and the reliability implication in thin devices (Articolo in rivista)</a> (Prodotto della ricerca)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID35317'>Role of fron contact work function on amorphous silicon/crystalline silicon heterojunction solar cell performance (Articolo in rivista)</a> (http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/TIPO1101)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID35319'>An AlGaAs-GaAs-based RCE MSM photodetector with delta modulation doping (Articolo in rivista)</a> (http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/TIPO1101)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID36291'>Crosstalk characterization in Geiger-mode avalanche photodiode arrays (Articolo in rivista)</a> (Prodotto della ricerca)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID24719'>Parasitic reset in the programming transient of PCMs (Articolo in rivista)</a> (http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/TIPO1101)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID25376'>Random telegraph noise effect on the programmed threshold-voltage distribution of Flash memories (Articolo in rivista)</a> (Prodotto della ricerca)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID25541'>Impact of neutral threshold-voltage spread and electron-emission statistics on data retention of nanoscale NAND Flash (Articolo in 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detecting pyroelectric effect (Articolo in rivista)</a> (http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/TIPO1101)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID304859'>Evidence of Correlated Mobility Fluctuations in p-type Organic Thin Film Transistors (Articolo in rivista)</a> (Prodotto della ricerca)</li></ul></dd>

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