Pitfalls in crystallographic analysis of doped skutterudite materials (Contributo in atti di convegno)

Type

• Prodotto della ricerca (Classe)
• Contributo in atti di convegno (Classe)

Label

• Pitfalls in crystallographic analysis of doped skutterudite materials (Contributo in atti di convegno) (literal)

Anno

• 2003-01-01T00:00:00+01:00 (literal)

Http://www.cnr.it/ontology/cnr/pubblicazioni.owl#doi

• 10.1109/ICT.2003.1287451 (literal)

Alternative label

• Bertini L., Billquist K., Christensen M., Gatti C., Holmgren L., Iversen B., Mueller E., Muhammed M., Noriega G., Palmqvist A., Platzek D., Rowe D.M., Saramat A., Stiewe C., Toprak M., Williams S.G., Zhang Y. (2003)
  Pitfalls in crystallographic analysis of doped skutterudite materials
  in XXII Int. Conf. on Thermoelectrics (2003), la Grande Motte, Francia, 17-21 Aug. 2003
  (literal)

Http://www.cnr.it/ontology/cnr/pubblicazioni.owl#autori

• Bertini L., Billquist K., Christensen M., Gatti C., Holmgren L., Iversen B., Mueller E., Muhammed M., Noriega G., Palmqvist A., Platzek D., Rowe D.M., Saramat A., Stiewe C., Toprak M., Williams S.G., Zhang Y. (literal)

Pagina inizio

• 68 (literal)

Pagina fine

• 71 (literal)

Http://www.cnr.it/ontology/cnr/pubblicazioni.owl#titoloVolume

• Source: Proceedings ICT'03. 22nd International Conference on Thermoelectrics (IEEE Cat. No.03TH8726) (literal)

Http://www.cnr.it/ontology/cnr/pubblicazioni.owl#volumeInCollana

• IEEE Cat. No.03TH8726 (literal)

Rivista

• Proceedings of the IEEE (Rivista)

Http://www.cnr.it/ontology/cnr/pubblicazioni.owl#note

• Proceedings, pages 68-71, IEEE Catalog Number 03TH8726, ISBN 0-7803-8301-X, ISSN 1094-2734. (literal)

Http://www.cnr.it/ontology/cnr/pubblicazioni.owl#pagineTotali

• 4 (literal)

Note

• INSPEC (literal)

Http://www.cnr.it/ontology/cnr/pubblicazioni.owl#affiliazioni

• L. Bertini,1 G. Borot,3 K. Billquist,2 M. Christensen,4 C. Gatti,1 L. Holmgren,5 B. Iversen,4 E. Mueller,6 M. Muhammed,2 G. Noriega,7 A. Palmqvist,8 D. Platzek,6 D.M. Rowe,9 A. Saramat,8 C. Stiewe,6 M. Toprak,2 S.G. Williams,9 Y. Zhang.2 1 Istituto di Scienze e Tecnologie Molecolari (ISTM), Via Camillo Golgi 19, 20133 Milano, Italy 2 Royal Institute of Technology, Materials Chemistry Division, SE-10044 Stockholm, Sweden 3 Ecole Polytechnique de l'Université de Grenoble Département SciGMa, Grenoble, France 4 University of Aarhus, Department of Chemistry, DK-8000 C Aarhus, Denmark 5 LEGELAB, SE-451 44 Uddevalla, Sweden 6 German Aerospace Center (DLR), Institute of Materials Research, D-51170 Cologne, Germany 7 CIDETE Ingenieros SL, E-08800 Vilanova (Barcelona), Spain 8 Chalmers University of Technology, Dept. Applied Surface Chemistry, Goteborg, Sweden 9 NEDO Laboratory for Thermoelectric Engineering (NEDO), Cardiff, UK (literal)

Titolo

• Pitfalls in crystallographic analysis of doped skutterudite materials (literal)

Http://www.cnr.it/ontology/cnr/pubblicazioni.owl#curatoriVolume

• IEEE (literal)

Abstract

• In this paper the versatility and pitfalls of powder diffraction are exemplified by a combined. conventional, synchrotron and neutron powder diffraction study of Ni doped skutterudites (Co (l-x)Ni xSb 3) (literal)

Prodotto di

• Istituto di scienze e tecnologie molecolari (ISTM) (Istituto)

Autore CNR

• CARLO EDOARDO GATTI (Persona)

Insieme di parole chiave

• Keywords of "Pitfalls in crystallographic analysis of doped skutterudite materials" (Insieme di parole chiave)

Incoming links:

Prodotto

• Istituto di scienze e tecnologie molecolari (ISTM) (Istituto)

Autore CNR di

• CARLO EDOARDO GATTI (Persona)

Http://www.cnr.it/ontology/cnr/pubblicazioni.owl#rivistaDi

• Proceedings of the IEEE (Rivista)

Insieme di parole chiave di

• Keywords of "Pitfalls in crystallographic analysis of doped skutterudite materials" (Insieme di parole chiave)