Atomic resolution stem-HAADF imaging in the study of interfaces (Articolo in rivista)

Type

• Articolo in rivista (Classe)
• Prodotto della ricerca (Classe)

Label

• Atomic resolution stem-HAADF imaging in the study of interfaces (Articolo in rivista) (literal)

Anno

• 2006-01-01T00:00:00+01:00 (literal)

Alternative label

• Carlino, E; Grillo, V (2006)
  Atomic resolution stem-HAADF imaging in the study of interfaces
  in Archives of Metallurgy and Materials
  (literal)

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• Carlino, E; Grillo, V (literal)

Pagina inizio

• 23 (literal)

Pagina fine

• 32 (literal)

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• 51 (literal)

Rivista

• Archives of Metallurgy and Materials (Rivista)

Note

• ISI Web of Science (WOS) (literal)

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• CNR, INFM, Lab Nazl TASC, Ctr Electron Microscopy, I-34012 Trieste, Italy (literal)

Titolo

• Atomic resolution stem-HAADF imaging in the study of interfaces (literal)

Abstract

• Current efforts to develop nanostructured materials and devices are stimulating the implementation of new experimental probes of the structure and chemical composition of solids on the atomic scale. High-resolution transmission electron microscopy (HRTEM) has been widely used in the last decades to study the structure and the properties of materials at the highest spatial resolution. More recently high angle annular dark field (HAADF) scanning transmission electron microscopy (STEM) imaging has demonstrated sub-Angstrom resolution together with high sensitivity to the chemical composition of the material allowing to study both the structure and the chemistry of interfaces at atomic resolution without the uncertainty related to the phase problem in HRTEM. Here, basic principles of HAADF imaging will be illustrated together with recent applications to the study at atomic resolution of interfaces of materials. It will be shown how HAADF can be used to probe the distribution of guest chemical species in a host matrix. Furthermore, a new approach to the simulation of HAADF images will be introduced together with a new approach to the determination of important experimental parameters as defocus values and specimen thickness. (literal)

Prodotto di

• Sintesi e studio delle proprieta' strutturali, ottiche ed elettroniche di sistemi aventi almeno una dimensione nanometrica (MD.P06.018.001) (Modulo)
• Transizioni di fase e proprietà magnetiche in ossidi fortemente correlati, interfacce metallo-semiconduttore, metalli anomali e superconduttori (MD.P04.006.001) (Modulo)
• Sviluppo di metodologie di microscopia elettronica per lo studio a risoluzione atomica delle proprieta' strutturali, elettroniche e magnetiche dei materiali (MD.P04.006.003) (Modulo)

Autore CNR

• ELVIO CARLINO (Unità di personale interno)

Insieme di parole chiave

• Keywords of "Atomic resolution stem-HAADF imaging in the study of interfaces" (Insieme di parole chiave)

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Autore CNR di

• ELVIO CARLINO (Unità di personale interno)

Prodotto

• Transizioni di fase e proprietà magnetiche in ossidi fortemente correlati, interfacce metallo-semiconduttore, metalli anomali e superconduttori (MD.P04.006.001) (Modulo)
• Sviluppo di metodologie di microscopia elettronica per lo studio a risoluzione atomica delle proprieta' strutturali, elettroniche e magnetiche dei materiali (MD.P04.006.003) (Modulo)
• Sintesi e studio delle proprieta' strutturali, ottiche ed elettroniche di sistemi aventi almeno una dimensione nanometrica (MD.P06.018.001) (Modulo)

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• Archives of Metallurgy and Materials (Rivista)

Insieme di parole chiave di

• Keywords of "Atomic resolution stem-HAADF imaging in the study of interfaces" (Insieme di parole chiave)