A novel method for focus assessment in atomic resolution STEM HAADF experiments (Articolo in rivista)

Type

• Prodotto della ricerca (Classe)
• Articolo in rivista (Classe)

Label

• A novel method for focus assessment in atomic resolution STEM HAADF experiments (Articolo in rivista) (literal)

Anno

• 2006-01-01T00:00:00+01:00 (literal)

Alternative label

• Grillo, V; Carlino, E (2006)
  A novel method for focus assessment in atomic resolution STEM HAADF experiments
  in Ultramicroscopy (Amst.)
  (literal)

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• Grillo, V; Carlino, E (literal)

Pagina inizio

• 603 (literal)

Pagina fine

• 613 (literal)

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• 106 (literal)

Rivista

• Ultramicroscopy (Rivista)

Note

• ISI Web of Science (WOS) (literal)

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• INFM, Lab Nazl TASC, I-34012 Trieste, Italy (literal)

Titolo

• A novel method for focus assessment in atomic resolution STEM HAADF experiments (literal)

Abstract

• Analysis of the Fourier components of through-focal images in scanning transmission electron microscopy with a high angle annular dark field detector is used to assess illumination defocus values. The method is based on a least squares fitting of the peculiar dependence of Fourier components of the high angle annular dark field image on defocus. The validity of the method has been checked against simulations and experiments obtaining a good level of accuracy on the defocus measurement (delta f = 2 nm) for simulated specimen thickness up to 40 nm. The difference between simulated and experimental Fourier coefficients for large defoci can be used to estimate the specimen thickness at least up to 30 nm but with decreasing precision for larger thickness. (c) 2006 Elsevier B.V. All rights reserved. (literal)

Prodotto di

• Transizioni di fase e proprietà magnetiche in ossidi fortemente correlati, interfacce metallo-semiconduttore, metalli anomali e superconduttori (MD.P04.006.001) (Modulo)
• Sviluppo di metodologie di microscopia elettronica per lo studio a risoluzione atomica delle proprieta' strutturali, elettroniche e magnetiche dei materiali (MD.P04.006.003) (Modulo)
• Sintesi e studio delle proprieta' strutturali, ottiche ed elettroniche di sistemi aventi almeno una dimensione nanometrica (MD.P06.018.001) (Modulo)

Autore CNR

• ELVIO CARLINO (Unità di personale interno)
• VINCENZO GRILLO (Persona)

Insieme di parole chiave

• Keywords of "A novel method for focus assessment in atomic resolution STEM HAADF experiments" (Insieme di parole chiave)

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Autore CNR di

• VINCENZO GRILLO (Persona)
• ELVIO CARLINO (Unità di personale interno)

Prodotto

• Transizioni di fase e proprietà magnetiche in ossidi fortemente correlati, interfacce metallo-semiconduttore, metalli anomali e superconduttori (MD.P04.006.001) (Modulo)
• Sviluppo di metodologie di microscopia elettronica per lo studio a risoluzione atomica delle proprieta' strutturali, elettroniche e magnetiche dei materiali (MD.P04.006.003) (Modulo)
• Sintesi e studio delle proprieta' strutturali, ottiche ed elettroniche di sistemi aventi almeno una dimensione nanometrica (MD.P06.018.001) (Modulo)

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• Ultramicroscopy (Rivista)

Insieme di parole chiave di

• Keywords of "A novel method for focus assessment in atomic resolution STEM HAADF experiments" (Insieme di parole chiave)