Optical subsystem characterization in laboratory (Contributo in atti di convegno)

Type
Label
  • Optical subsystem characterization in laboratory (Contributo in atti di convegno) (literal)
Anno
  • 2011-01-01T00:00:00+01:00 (literal)
Alternative label
  • P. Nicolosi, P. Zuppella, A.J. Corso, V. Polito, M.G. Pelizzo, J.F. Mariscal, N. Rouanet, P.O. Mine, E. Quémerais, J.L. Maria (2011)
    Optical subsystem characterization in laboratory
    in SPIE EUV and X-Ray Optics: Synergy between Laboratory and Space II, Praga
    (literal)
Http://www.cnr.it/ontology/cnr/pubblicazioni.owl#autori
  • P. Nicolosi, P. Zuppella, A.J. Corso, V. Polito, M.G. Pelizzo, J.F. Mariscal, N. Rouanet, P.O. Mine, E. Quémerais, J.L. Maria (literal)
Pagina inizio
  • 80760B (literal)
Http://www.cnr.it/ontology/cnr/pubblicazioni.owl#titoloVolume
  • SPIE Proc. EUV and X-Ray Optics: Synergy between Laboratory and Space II (literal)
Http://www.cnr.it/ontology/cnr/pubblicazioni.owl#numeroVolume
  • 8076 (literal)
Rivista
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  • P. Nicolosi, P. Zuppella, A. J. Corso, Institute for Photonics and Nanotechnologies, CNR (Italy) and Univ. degli Studi di Padova (Italy); V. Polito, Institute for Photonics and Nanotechnologies, CNR (Italy); M. G. Pelizzo, Institute for Photonics and Nanotechnologies, CNR (Italy) and Univ. degli Studi di Padova (Italy); J. F. Mariscal, N. Rouanet, P. O. Mine, E. Quémerais, J. L. Maria, CNES-Latmos (France) (literal)
Titolo
  • Optical subsystem characterization in laboratory (literal)
Prodotto di
Autore CNR

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