http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID81976
Accelerated testing of rf-mems contact degradation through radiation sources (Contributo in atti di convegno)
- Type
- Label
- Accelerated testing of rf-mems contact degradation through radiation sources (Contributo in atti di convegno) (literal)
- Anno
- 2010-01-01T00:00:00+01:00 (literal)
- Alternative label
A. Tazzoli, M. Barbato, V. Giliberto, G. Monaco, S. Gerardin, P. Nicolosi, A. Paccagnella, G. Meneghesso (2010)
Accelerated testing of rf-mems contact degradation through radiation sources
in IEEE International Reliability Physics Symposium, Anaheim, California
(literal)
- Http://www.cnr.it/ontology/cnr/pubblicazioni.owl#autori
- A. Tazzoli, M. Barbato, V. Giliberto, G. Monaco, S. Gerardin, P. Nicolosi, A. Paccagnella, G. Meneghesso (literal)
- Note
- ISI Web of Science (WOS) (literal)
- Titolo
- Accelerated testing of rf-mems contact degradation through radiation sources (literal)
- Prodotto di
- Autore CNR
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