Accurate and Fast Multi-slice Simulations of HAADF Image Contrast by Parallel Computing (Contributo in atti di convegno)

Type

• Contributo in atti di convegno (Classe)
• Prodotto della ricerca (Classe)

Label

• Accurate and Fast Multi-slice Simulations of HAADF Image Contrast by Parallel Computing (Contributo in atti di convegno) (literal)

Anno

• 2008-01-01T00:00:00+01:00 (literal)

Http://www.cnr.it/ontology/cnr/pubblicazioni.owl#doi

• 10.1007/978-1-4020-8615-1_38 (literal)

Alternative label

• E Carlino, V. Grillo, P. Palazzari (2008)
  Accurate and Fast Multi-slice Simulations of HAADF Image Contrast by Parallel Computing
  in Microscopy of Semiconducting Materials, Cambridge, Inghilterra., APR 02-05, 2007
  (literal)

Http://www.cnr.it/ontology/cnr/pubblicazioni.owl#autori

• E Carlino, V. Grillo, P. Palazzari (literal)

Http://www.cnr.it/ontology/cnr/pubblicazioni.owl#titoloVolume

• Microscopy of Semiconducting Materials 2007 (literal)

Http://www.cnr.it/ontology/cnr/pubblicazioni.owl#volumeInCollana

• 120 (literal)

Note

• ISI Web of Science (WOS) (literal)

Http://www.cnr.it/ontology/cnr/pubblicazioni.owl#affiliazioni

• CNr-INFM Lab. Naz. TASC (literal)

Titolo

• Accurate and Fast Multi-slice Simulations of HAADF Image Contrast by Parallel Computing (literal)

Http://www.cnr.it/ontology/cnr/pubblicazioni.owl#curatoriVolume

• A. Cullis, P. Midgley (literal)

Abstract

• A new method for fast and accurate multislice calculation, in the frozen-phonon approximation for high angle annular dark field scanning transmission electron microscopy images, is presented. The improvement with respect to the existing approaches is in a strong reduction of the time necessary for image contrast simulation, without losing accuracy. The method is based on the development of optimized parallel computer codes for the multislice calculations in the frozen-phonon approximation. (literal)

Prodotto di

• Sintesi e studio delle proprieta' strutturali, ottiche ed elettroniche di sistemi aventi almeno una dimensione nanometrica (MD.P06.018.001) (Modulo)
• Sviluppo di metodologie di microscopia elettronica per lo studio a risoluzione atomica delle proprieta' strutturali, elettroniche e magnetiche dei materiali (MD.P04.006.003) (Modulo)
• Transizioni di fase e proprietà magnetiche in ossidi fortemente correlati, interfacce metallo-semiconduttore, metalli anomali e superconduttori (MD.P04.006.001) (Modulo)

Autore CNR

• ELVIO CARLINO (Unità di personale interno)
• VINCENZO GRILLO (Persona)

Incoming links:

Autore CNR di

• VINCENZO GRILLO (Persona)
• ELVIO CARLINO (Unità di personale interno)

Prodotto

• Transizioni di fase e proprietà magnetiche in ossidi fortemente correlati, interfacce metallo-semiconduttore, metalli anomali e superconduttori (MD.P04.006.001) (Modulo)
• Sviluppo di metodologie di microscopia elettronica per lo studio a risoluzione atomica delle proprieta' strutturali, elettroniche e magnetiche dei materiali (MD.P04.006.003) (Modulo)
• Sintesi e studio delle proprieta' strutturali, ottiche ed elettroniche di sistemi aventi almeno una dimensione nanometrica (MD.P06.018.001) (Modulo)