La microanalisi a Raggi X in microscopia elettronica TEM e SEM (Articolo in rivista)

Type

• Articolo in rivista (Classe)
• Prodotto della ricerca (Classe)

Label

• La microanalisi a Raggi X in microscopia elettronica TEM e SEM (Articolo in rivista) (literal)

Anno

• 2006-01-01T00:00:00+01:00 (literal)

Alternative label

• Armigliato A. (2006)
  La microanalisi a Raggi X in microscopia elettronica TEM e SEM
  
  (literal)

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• Armigliato A. (literal)

Pagina inizio

• 19 (literal)

Pagina fine

• 22 (literal)

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• 2 (literal)

Titolo

• La microanalisi a Raggi X in microscopia elettronica TEM e SEM (literal)

Prodotto di

• Institute for microelectronics and microsystems (IMM) (Istituto)
• Sviluppo di Modelli Fisici, Simulazioni e Tecniche di Caratterizzazione per le Nanoscienze (MD.P05.004.001) (Modulo)

Autore CNR

• ALDO ARMIGLIATO (Unità di personale interno)

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Prodotto

• Institute for microelectronics and microsystems (IMM) (Istituto)
• Sviluppo di Modelli Fisici, Simulazioni e Tecniche di Caratterizzazione per le Nanoscienze (MD.P05.004.001) (Modulo)

Autore CNR di

• ALDO ARMIGLIATO (Unità di personale interno)