From point to extended defects in silicon: A theoretical study (Articolo in rivista)

Type

• Prodotto della ricerca (Classe)
• Articolo in rivista (Classe)

Label

• From point to extended defects in silicon: A theoretical study (Articolo in rivista) (literal)

Anno

• 2002-01-01T00:00:00+01:00 (literal)

Alternative label

• Alippi P., Coffa S., Colombo L., La Magna A. (2002)
  From point to extended defects in silicon: A theoretical study
  in Diffusion and defect data, solid state data. Part B, Solid state phenomena
  (literal)

Http://www.cnr.it/ontology/cnr/pubblicazioni.owl#autori

• Alippi P., Coffa S., Colombo L., La Magna A. (literal)

Pagina inizio

• 177 (literal)

Pagina fine

• 201 (literal)

Http://www.cnr.it/ontology/cnr/pubblicazioni.owl#numeroVolume

• 85-86 (literal)

Rivista

• Diffusion and defect data, solid state data. Part B, Solid state phenomena (Rivista)

Note

• ISI Web of Science (WOS) (literal)

Http://www.cnr.it/ontology/cnr/pubblicazioni.owl#affiliazioni

• Univ Cagliari, INFM, IT-09042 Monserrato, CA, Italy Univ Cagliari, Dipartimento Fis, IT-09042 Monserrato, CA, Italy CNR, Ist Nazl Metodol & Tecnol Microelettron, IMETEM, IT-95121 Catania, Italy (literal)

Titolo

• From point to extended defects in silicon: A theoretical study (literal)

Prodotto di

• Institute for microelectronics and microsystems (IMM) (Istituto)

Autore CNR

• PAOLA ALIPPI (Unità di personale interno)
• ANTONINO LA MAGNA (Unità di personale interno)

Incoming links:

Autore CNR di

• ANTONINO LA MAGNA (Unità di personale interno)
• PAOLA ALIPPI (Unità di personale interno)

Prodotto

• Institute for microelectronics and microsystems (IMM) (Istituto)

Http://www.cnr.it/ontology/cnr/pubblicazioni.owl#rivistaDi

• Diffusion and defect data, solid state data. Part B, Solid state phenomena (Rivista)