http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID58524
X-ray scattering study of interfacial roughness in Nb/PdNi multilayers (Articolo in rivista)
- Type
- Label
- X-ray scattering study of interfacial roughness in Nb/PdNi multilayers (Articolo in rivista) (literal)
- Anno
- 2011-01-01T00:00:00+01:00 (literal)
- Alternative label
Vecchione, A; Fittipaldi, R; Cirillo, C; Hesselberth, M; Aarts, J; Prischepa, SL; Kushnir, VN; Kupriyanov, MY; Attanasio, C (2011)
X-ray scattering study of interfacial roughness in Nb/PdNi multilayers
in Surface science
(literal)
- Http://www.cnr.it/ontology/cnr/pubblicazioni.owl#autori
- Vecchione, A; Fittipaldi, R; Cirillo, C; Hesselberth, M; Aarts, J; Prischepa, SL; Kushnir, VN; Kupriyanov, MY; Attanasio, C (literal)
- Pagina inizio
- Pagina fine
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- Rivista
- Note
- ISI Web of Science (WOS) (literal)
- Titolo
- X-ray scattering study of interfacial roughness in Nb/PdNi multilayers (literal)
- Prodotto di
- Autore CNR
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