X-ray scattering study of interfacial roughness in Nb/PdNi multilayers (Articolo in rivista)

Type
Label
  • X-ray scattering study of interfacial roughness in Nb/PdNi multilayers (Articolo in rivista) (literal)
Anno
  • 2011-01-01T00:00:00+01:00 (literal)
Alternative label
  • Vecchione, A; Fittipaldi, R; Cirillo, C; Hesselberth, M; Aarts, J; Prischepa, SL; Kushnir, VN; Kupriyanov, MY; Attanasio, C (2011)
    X-ray scattering study of interfacial roughness in Nb/PdNi multilayers
    in Surface science
    (literal)
Http://www.cnr.it/ontology/cnr/pubblicazioni.owl#autori
  • Vecchione, A; Fittipaldi, R; Cirillo, C; Hesselberth, M; Aarts, J; Prischepa, SL; Kushnir, VN; Kupriyanov, MY; Attanasio, C (literal)
Pagina inizio
  • 1791 (literal)
Pagina fine
  • 1796 (literal)
Http://www.cnr.it/ontology/cnr/pubblicazioni.owl#numeroVolume
  • 605 (literal)
Rivista
Note
  • ISI Web of Science (WOS) (literal)
Titolo
  • X-ray scattering study of interfacial roughness in Nb/PdNi multilayers (literal)
Prodotto di
Autore CNR

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