An integrated approach for photonic crystal inspection and characterization (Contributo in atti di convegno)

Type

• Prodotto della ricerca (Classe)
• Contributo in atti di convegno (Classe)

Label

• An integrated approach for photonic crystal inspection and characterization (Contributo in atti di convegno) (literal)

Anno

• 2006-01-01T00:00:00+01:00 (literal)

Http://www.cnr.it/ontology/cnr/pubblicazioni.owl#doi

• 10.1117/12.664930 (literal)

Alternative label

• B. Tiribilli (1); P. Ferraro (2); S. Grilli (2); G. Molesini (2); M. Vannoni (2); M. Vassalli (1) (2006)
  An integrated approach for photonic crystal inspection and characterization
  in Photonics Europe, Strasbourg, France, 27 April 2006
  (literal)

Http://www.cnr.it/ontology/cnr/pubblicazioni.owl#autori

• B. Tiribilli (1); P. Ferraro (2); S. Grilli (2); G. Molesini (2); M. Vannoni (2); M. Vassalli (1) (literal)

Pagina inizio

• 61880A (literal)

Pagina fine

• 61880A (literal)

Http://www.cnr.it/ontology/cnr/pubblicazioni.owl#url

• http://dx.doi.org/10.1117/12.664930 (literal)

Http://www.cnr.it/ontology/cnr/pubblicazioni.owl#titoloVolume

• Optical Micro- and Nanometrology in Microsystems Technology (literal)

Http://www.cnr.it/ontology/cnr/pubblicazioni.owl#volumeInCollana

• 6188 (literal)

Http://www.cnr.it/ontology/cnr/pubblicazioni.owl#pagineTotali

• 8 (literal)

Note

• ISI Web of Science (WOS) (literal)

Http://www.cnr.it/ontology/cnr/pubblicazioni.owl#affiliazioni

• (1) Istituto dei Sistemi Complessi, CNR, via Madonna del Piano 10, 50019 Sesto Fiorentino (FI), Italy; (2) CNR - Istituto Nazionale di Ottica Applicata, Largo E. Fermi 6, 50125, Firenze, Italy; CNR - Istituto Nazionale di Ottica Applicata, Via Campi Flegrei 34, 80078 Pozzuoli (NA), Italy (literal)

Titolo

• An integrated approach for photonic crystal inspection and characterization (literal)

Http://www.cnr.it/ontology/cnr/pubblicazioni.owl#isbn

• 0819462446 (literal)

Http://www.cnr.it/ontology/cnr/pubblicazioni.owl#curatoriVolume

• Christophe Gorecki, Anand K. Asundi, Wolfgang Osten (eds.) (literal)

Abstract

• Photonic crystals are attractive optical materials for controlling and manipulating light. They are of great interest for both fundamental and applied research, and are expected to find commercial applications soon. In this work digital holography, white light interferometry and atomic force microscopy have been applied to the inspection and characterization of 1D and 2D nanofabricated LiN photonic crystals. Periodic pattern with periods ranging from several microns to a fraction of micron have been accurately analysed. Optical methods allow exploring relatively large areas while atomic force microscopy is well suited for high-resolution inspection of the small features. (literal)

Prodotto di

• comportamento dinamico di sistemi complessi (MD.P02.017.001) (Modulo)
• Sviluppo di tecniche di diagnostica ottica, microscopia ed interferometria (MD.P03.022.001) (Modulo)
• Sviluppo e caratterizzazione di dispositivi ottici per metrologia e sorgenti laser (MD.P03.020.001) (Modulo)

Autore CNR

• SIMONETTA GRILLI (Persona)
• PIETRO FERRARO (Unità di personale interno)
• BRUNO TIRIBILLI (Persona)
• GIUSEPPE MOLESINI (Persona)
• MASSIMO VASSALLI (Unità di personale interno)
• MAURIZIO VANNONI (Unità di personale interno)

Insieme di parole chiave

• Keywords of "An integrated approach for photonic crystal inspection and characterization" (Insieme di parole chiave)

Incoming links:

Autore CNR di

• GIUSEPPE MOLESINI (Persona)
• PIETRO FERRARO (Unità di personale interno)
• MAURIZIO VANNONI (Unità di personale interno)
• SIMONETTA GRILLI (Persona)
• MASSIMO VASSALLI (Unità di personale interno)
• BRUNO TIRIBILLI (Persona)

Prodotto

• Sviluppo e caratterizzazione di dispositivi ottici per metrologia e sorgenti laser (MD.P03.020.001) (Modulo)
• comportamento dinamico di sistemi complessi (MD.P02.017.001) (Modulo)
• Sviluppo di tecniche di diagnostica ottica, microscopia ed interferometria (MD.P03.022.001) (Modulo)

Insieme di parole chiave di

• Keywords of "An integrated approach for photonic crystal inspection and characterization" (Insieme di parole chiave)