A study of the degradation of poly(3-octylthiophene)- based light emitting diodes by Surface Enhanced Raman Scattering (Articolo in rivista)

Type

• Prodotto della ricerca (Classe)
• Articolo in rivista (Classe)

Label

• A study of the degradation of poly(3-octylthiophene)- based light emitting diodes by Surface Enhanced Raman Scattering (Articolo in rivista) (literal)

Anno

• 2004-01-01T00:00:00+01:00 (literal)

Http://www.cnr.it/ontology/cnr/pubblicazioni.owl#doi

• 10.1007/s00340-004-1592-5 (literal)

Alternative label

• E. Giorgetti (1); G. Margheri (2); T. Del Rosso (2); S. Sottini (1); M. Muniz-Miranda (3); M. Innocenti (3) (2004)
  A study of the degradation of poly(3-octylthiophene)- based light emitting diodes by Surface Enhanced Raman Scattering
  in Applied physics. B, Lasers and optics (Print)
  (literal)

Http://www.cnr.it/ontology/cnr/pubblicazioni.owl#autori

• E. Giorgetti (1); G. Margheri (2); T. Del Rosso (2); S. Sottini (1); M. Muniz-Miranda (3); M. Innocenti (3) (literal)

Pagina inizio

• 603 (literal)

Pagina fine

• 609 (literal)

Http://www.cnr.it/ontology/cnr/pubblicazioni.owl#numeroVolume

• 79 (literal)

Rivista

• Applied physics. B, Lasers and optics (Rivista)

Http://www.cnr.it/ontology/cnr/pubblicazioni.owl#numeroFascicolo

• 5 (literal)

Note

• ISI Web of Science (WOS) (literal)

Http://www.cnr.it/ontology/cnr/pubblicazioni.owl#affiliazioni

• (1) INSTM e Istituto di Fisica Applicata \"Nello Carrara\"- CNR, Via Panciatichi 64, 50127 Firenze, Italy (2) Istituto di Fisica Applicata \"Nello Carrara\"- CNR, Via Panciatichi 64, 50127 Firenze, Italy (3) Dipartimento di Chimica, Università di Firenze, Sesto Fiorentino, Italy (literal)

Titolo

• A study of the degradation of poly(3-octylthiophene)- based light emitting diodes by Surface Enhanced Raman Scattering (literal)

Abstract

• Organic light emitting diodes (OLED) based on poly(3-octylthiophene) (P3OT) were studied by on-line Surface Enhanced Raman Scattering (SERS) experiments. A simultaneous reduction of the emitted power and an increase of the SERS signal was observed above an 8 V bias voltage in the case of ITO/P3OT/Al structures. On-line measurements of the temperature and independent tests with an atomic force microscope, performed on the Al cathode before and after current flow, demonstrated that the observed enhancement of the Raman signal was partly thermal and partly electromagnetic in origin, with clear evidence of cathode roughening induced by current flow. In contrast, analogous tests performed on P3OT based OLEDs containing a composite Al+Ag cathode showed that the breakdown was related to electrode delamination. (literal)

Prodotto di

• Realizzazione e studio di sistemi complessi Organico/Inorganico (MD.P02.007.001) (Modulo)
• Institute of applied physics \"Nello Carrara\" (IFAC) (Istituto)

Autore CNR

• STEFANO SOTTINI (Unità di personale interno)
• TOMMASO DEL ROSSO (Unità di personale esterno)
• GIANCARLO MARGHERI (Unità di personale interno)
• EMILIA GIORGETTI (Unità di personale interno)

Incoming links:

Prodotto

• Institute of applied physics \"Nello Carrara\" (IFAC) (Istituto)
• Realizzazione e studio di sistemi complessi Organico/Inorganico (MD.P02.007.001) (Modulo)

Autore CNR di

• STEFANO SOTTINI (Unità di personale interno)
• GIANCARLO MARGHERI (Unità di personale interno)
• EMILIA GIORGETTI (Unità di personale interno)
• TOMMASO DEL ROSSO (Unità di personale esterno)

Http://www.cnr.it/ontology/cnr/pubblicazioni.owl#rivistaDi

• Applied physics. B, Lasers and optics (Rivista)