Layered Distribution of Charge Carriers in Organic Thin Film Transistors (Articolo in rivista)

Type

• Prodotto della ricerca (Classe)
• Articolo in rivista (Classe)

Label

• Layered Distribution of Charge Carriers in Organic Thin Film Transistors (Articolo in rivista) (literal)

Anno

• 2010-01-01T00:00:00+01:00 (literal)

Http://www.cnr.it/ontology/cnr/pubblicazioni.owl#doi

• 10.1103/PhysRevLett.104.246602 (literal)

Alternative label

• A. Shehu, S.D. Quiroga, P. D'Angelo, C. Albonetti, F. Borgatti, M. Murgia, A. Scorzoni, P. Stoliar, F. Biscarini (2010)
  Layered Distribution of Charge Carriers in Organic Thin Film Transistors
  in Physical review letters (Print)
  (literal)

Http://www.cnr.it/ontology/cnr/pubblicazioni.owl#autori

• A. Shehu, S.D. Quiroga, P. D'Angelo, C. Albonetti, F. Borgatti, M. Murgia, A. Scorzoni, P. Stoliar, F. Biscarini (literal)

Pagina inizio

• 246602 (literal)

Pagina fine

• 246605 (literal)

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• http://prl.aps.org/abstract/PRL/v104/i24/e246602 (literal)

Http://www.cnr.it/ontology/cnr/pubblicazioni.owl#numeroVolume

• 104 (literal)

Rivista

• Physical review letters (Rivista)

Http://www.cnr.it/ontology/cnr/pubblicazioni.owl#pagineTotali

• 4 (literal)

Http://www.cnr.it/ontology/cnr/pubblicazioni.owl#numeroFascicolo

• 4 (literal)

Note

• ISI Web of Science (WOS) (literal)

Http://www.cnr.it/ontology/cnr/pubblicazioni.owl#affiliazioni

• A. Shehu, S.D. Quiroga, P. D'Angelo, C. Albonetti, F. Borgatti, M. Murgia, A. Scorzoni, P. Stoliar, F. Biscarini Istituto per lo studio dei materiali nanostruttrurati -ISMN Consiglio Nazionale delle Ricerche-CNR via P.Gobetti 101, 40129 Bologna ITALY (literal)

Titolo

• Layered Distribution of Charge Carriers in Organic Thin Film Transistors (literal)

Abstract

• Drain-source current in organic thin-film transistors has been monitored in situ and in real time during the deposition of pentacene. The current starts to flow when percolation of the first monolayer (ML) occurs and, depending on the deposition rate, saturates at a coverage in the range 2-7 MLs. The number of active layers contributing to the current and the spatial distribution of charge carriers are modulated by the growth mode. The thickness of the accumulation layer, represented by an effective Debye length, scales as the morphological correlation length. These results show that the effective Debye length is not just a material parameter, but depends on the multiscale morphology. Earlier controversial results can be unified within this framework. (literal)

Prodotto di

• Nanotecnologie di materiali multifunzionali e sistemi biologici (PM.P05.010.001) (Modulo)
• dispositivi multifunzionali avanzati basati su nanostrutture organiche e ibride e loro investigazione mediante sonde ottiche non convenzionali (DIMO) (PM.P04.007.001) (Modulo)
• Istituto per lo studio dei materiali nanostrutturati (ISMN) (Istituto)

Autore CNR

• ARIAN SHEHU (Unità di personale esterno)
• FABIO BISCARINI (Unità di personale interno)
• CRISTIANO ALBONETTI (Persona)
• FRANCESCO BORGATTI (Unità di personale interno)
• PASQUALE D'ANGELO (Persona)
• PABLO ALBERTO STOLIAR (Unità di personale interno)
• Santiago David Quiroga (Persona)
• MAURO MURGIA (Persona)

Incoming links:

Prodotto

• Istituto per lo studio dei materiali nanostrutturati (ISMN) (Istituto)
• dispositivi multifunzionali avanzati basati su nanostrutture organiche e ibride e loro investigazione mediante sonde ottiche non convenzionali (DIMO) (PM.P04.007.001) (Modulo)
• Nanotecnologie di materiali multifunzionali e sistemi biologici (PM.P05.010.001) (Modulo)

Autore CNR di

• FRANCESCO BORGATTI (Unità di personale interno)
• Santiago David Quiroga (Persona)
• PASQUALE D'ANGELO (Persona)
• MAURO MURGIA (Persona)
• CRISTIANO ALBONETTI (Persona)
• PABLO ALBERTO STOLIAR (Unità di personale interno)
• FABIO BISCARINI (Unità di personale interno)
• ARIAN SHEHU (Unità di personale esterno)

Http://www.cnr.it/ontology/cnr/pubblicazioni.owl#rivistaDi

• Physical review letters (Rivista)