Molecular scale energy dissipation in oligothiophene monolayers measured by dynamic force microscopy (Articolo in rivista)

Type

• Articolo in rivista (Classe)
• Prodotto della ricerca (Classe)

Label

• Molecular scale energy dissipation in oligothiophene monolayers measured by dynamic force microscopy (Articolo in rivista) (literal)

Anno

• 2009-01-01T00:00:00+01:00 (literal)

Http://www.cnr.it/ontology/cnr/pubblicazioni.owl#doi

• 10.1088/0957-4484/20/43/434021 (literal)

Alternative label

• Nicolas Martinez, Waichek Kaminski, Carlos Gomez, Cristiano Albonetti, Fabio Biscarini, Ruben Perez, Ricardo Garcia (2009)
  Molecular scale energy dissipation in oligothiophene monolayers measured by dynamic force microscopy
  in Nanotechnology (Bristol. Print)
  (literal)

Http://www.cnr.it/ontology/cnr/pubblicazioni.owl#autori

• Nicolas Martinez, Waichek Kaminski, Carlos Gomez, Cristiano Albonetti, Fabio Biscarini, Ruben Perez, Ricardo Garcia (literal)

Pagina inizio

• 434021 (literal)

Http://www.cnr.it/ontology/cnr/pubblicazioni.owl#url

• http://stacks.iop.org/0957-4484/20/i=43/a=434021 (literal)

Http://www.cnr.it/ontology/cnr/pubblicazioni.owl#numeroVolume

• 20 (literal)

Rivista

• Nanotechnology (Rivista)

Http://www.cnr.it/ontology/cnr/pubblicazioni.owl#pagineTotali

• 7 (literal)

Http://www.cnr.it/ontology/cnr/pubblicazioni.owl#numeroFascicolo

• 43 (literal)

Note

• ISI Web of Science (WOS) (literal)

Http://www.cnr.it/ontology/cnr/pubblicazioni.owl#affiliazioni

• [Kaminski, Wojciech; Perez, Ruben] Univ Autonoma Madrid, Dept Fis Teor Mat Condensada, E-28049 Madrid, Spain. [Martinez, Nicolas F.; Gomez, Carlos J.; Garcia, Ricardo] CSIC, IMM, E-28760 Madrid, Spain. [Kaminski, Wojciech] Univ Wroclaw, Inst Expt Phys, PL-50204 Wroclaw, Poland. [Albonetti, Cristiano; Biscarini, Fabio] CNR, ISMN, I-40129 Bologna, Italy. (literal)

Titolo

• Molecular scale energy dissipation in oligothiophene monolayers measured by dynamic force microscopy (literal)

Abstract

• We perform a combined experimental and theoretical approach to establish the atomistic origin of energy dissipation occurring while imaging a molecular surface with an amplitude modulation atomic force microscope. We show that the energy transferred by a single nano-asperity to a sexithiophene monolayer is about 0.15 eV/cycle. The configuration space sampled by the tip depends on whether it approaches or withdraws from the surface. The asymmetry arises because of the presence of energy barriers among different deformations of the molecular geometry. This is the source of the material contrast provided by the phase-shift images. (literal)

Prodotto di

• Istituto per lo studio dei materiali nanostrutturati (ISMN) (Istituto)
• Sintesi e crescita di film e superfici nanostrutturate (PM.P05.004.001) (Modulo)
• Microscopia a Scansione a Sonda Locale su sistemi nanostrutturati e materiali biologici (MD.P06.006.001) (Modulo)

Autore CNR

• FABIO BISCARINI (Unità di personale interno)
• CRISTIANO ALBONETTI (Persona)

Insieme di parole chiave

• Keywords of "Molecular scale energy dissipation in oligothiophene monolayers measured by dynamic force microscopy" (Insieme di parole chiave)

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Prodotto

• Istituto per lo studio dei materiali nanostrutturati (ISMN) (Istituto)
• Microscopia a Scansione a Sonda Locale su sistemi nanostrutturati e materiali biologici (MD.P06.006.001) (Modulo)
• Sintesi e crescita di film e superfici nanostrutturate (PM.P05.004.001) (Modulo)

Autore CNR di

• CRISTIANO ALBONETTI (Persona)
• FABIO BISCARINI (Unità di personale interno)

Http://www.cnr.it/ontology/cnr/pubblicazioni.owl#rivistaDi

• Nanotechnology (Rivista)

Insieme di parole chiave di

• Keywords of "Molecular scale energy dissipation in oligothiophene monolayers measured by dynamic force microscopy" (Insieme di parole chiave)