Infrared Near-Field Microscopy with the Vanderbilt Free Electron Laser: Overview and Perspectives (Articolo in rivista)

Type

• Articolo in rivista (Classe)
• Prodotto della ricerca (Classe)

Label

• Infrared Near-Field Microscopy with the Vanderbilt Free Electron Laser: Overview and Perspectives (Articolo in rivista) (literal)

Anno

• 2004-01-01T00:00:00+01:00 (literal)

Http://www.cnr.it/ontology/cnr/pubblicazioni.owl#doi

• 10.1016/j.infrared.2004.01.007 (literal)

Alternative label

• Vobornik D., Margaritondo G., Sanghera J.S., .., Tolk N.H., Congiu-Castellano A., Rizzo M.A., Piston D.W., Somma F., Baldacchini G., Bonfigli F., Marolo T., Flora F., Montereali R.M., Longo G., Mussi V., Generosi R., Luce M., Perfetti P., Cricenti A. (2004)
  Infrared Near-Field Microscopy with the Vanderbilt Free Electron Laser: Overview and Perspectives
  in Infrared physics & technology
  (literal)

Http://www.cnr.it/ontology/cnr/pubblicazioni.owl#autori

• Vobornik D., Margaritondo G., Sanghera J.S., .., Tolk N.H., Congiu-Castellano A., Rizzo M.A., Piston D.W., Somma F., Baldacchini G., Bonfigli F., Marolo T., Flora F., Montereali R.M., Longo G., Mussi V., Generosi R., Luce M., Perfetti P., Cricenti A. (literal)

Pagina inizio

• 409 (literal)

Http://www.cnr.it/ontology/cnr/pubblicazioni.owl#numeroVolume

• 45 (literal)

Rivista

• Infrared physics & technology (Rivista)

Note

• Scopu (literal)

Http://www.cnr.it/ontology/cnr/pubblicazioni.owl#affiliazioni

• Ecole Polytech Fed Lausanne, Fac Sci Base, CH-1015 Lausanne, Switzerland USN, Res Lab, Div Opt Sci, Washington, DC 20375 USA Vanderbilt Univ, Dept Phys & Astron, Nashville, TN 37235 USA Univ Roma La Sapienza, Dipartimento Fis, I-00185 Rome, Italy Vanderbilt Univ, Dept Mol Physiol & Biophys, Nashville, TN 37232 USA Univ Rome Tre, Dipartimento Fis, I-00146 Rome, Italy ENEA, UTSTecnol Fis Avanzate, CR Frascati, I-00044 Frascati, Italy Ist Struttura Mat, I-00133 Rome, Italy (literal)

Titolo

• Infrared Near-Field Microscopy with the Vanderbilt Free Electron Laser: Overview and Perspectives (literal)

Abstract

• Scanning near-field optical microscopy (SNOM) makes it routinely possible to overcome the fundamental diffraction limit of standard (far-field) microscopy. Recently, aperture-based infrared SNOM performed in the spectroscopic mode, using the Vanderbilt University free electron laser, started delivering spatially-resolved information on the distribution of chemical species and on other laterally-fluctuating properties. The practical examples presented here show the great potential of this new technique both in materials science and in life sciences. (literal)

Prodotto di

• Microscopia a Scansione a Sonda Locale su sistemi nanostrutturati e materiali biologici (MD.P06.006.001) (Modulo)
• Institute of structure of matter (ISM) (Istituto)

Autore CNR

• RENATO GENEROSI (Persona)
• GIOVANNI LONGO (Persona)
• MARCO LUCE (Persona)
• VALENTINA MUSSI (Unità di personale interno)
• ANTONIO CRICENTI (Unità di personale interno)
• PAOLO PERFETTI (Unità di personale interno)

Incoming links:

Autore CNR di

• ANTONIO CRICENTI (Unità di personale interno)
• MARCO LUCE (Persona)
• PAOLO PERFETTI (Unità di personale interno)
• RENATO GENEROSI (Persona)
• GIOVANNI LONGO (Persona)
• VALENTINA MUSSI (Unità di personale interno)

Prodotto

• Institute of structure of matter (ISM) (Istituto)
• Microscopia a Scansione a Sonda Locale su sistemi nanostrutturati e materiali biologici (MD.P06.006.001) (Modulo)

Http://www.cnr.it/ontology/cnr/pubblicazioni.owl#rivistaDi

• Infrared physics & technology (Rivista)