http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID52025
Time-Resolved Energy Dispersive X-Ray Reflectometry Measurement on ruthenium phthalocyanine gas sensing films (Articolo in rivista)
- Type
- Label
- Time-Resolved Energy Dispersive X-Ray Reflectometry Measurement on ruthenium phthalocyanine gas sensing films (Articolo in rivista) (literal)
- Anno
- 2003-01-01T00:00:00+01:00 (literal)
- Http://www.cnr.it/ontology/cnr/pubblicazioni.owl#doi
- 10.1063/1.1579868 (literal)
- Alternative label
Rossi Albertini V., Generosi A., Paci B., Perfetti P., Rossi G., Capobianchi A., Paoletti A.M., Caminiti, R. (2003)
Time-Resolved Energy Dispersive X-Ray Reflectometry Measurement on ruthenium phthalocyanine gas sensing films
in Applied physics letters
(literal)
- Http://www.cnr.it/ontology/cnr/pubblicazioni.owl#autori
- Rossi Albertini V., Generosi A., Paci B., Perfetti P., Rossi G., Capobianchi A., Paoletti A.M., Caminiti, R. (literal)
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- Pagina fine
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- Questo lavoro ha permesso di confermare che la tecnica EDXR è un ottimo strumento per avere informazioni sul processo di interazione tra film molecolari e gas , utili per migliorare la comprensione dei meccanismi che influenzano la funzionalità dei sensori chimici di interesse ambientale (literal)
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- Rivista
- Http://www.cnr.it/ontology/cnr/pubblicazioni.owl#note
- Impact factor anno 2002 =3.85 (literal)
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- E' noto che nei film di metallo ftalocianine , il differente impacchettamento strutturale influenza il comportamento della diffusione del gas durante il processo di interazione. In questo lavoro uno studio \"in situ\" dell'interazione tra film di rutenio ftalocianina e NOx è condotto con la tecnica EDXD (variante della più convenzionale tecnica di riflessione a raggi X).Queste misure hanno permesso di seguire la variazione di due parametri morfologici ( spessore e rugosità )fornendo importanti informazioni sull'interazione del gas con il film di rutenio ftalocianina. (literal)
- Note
- ISI Web of Science (WOS) (literal)
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- ISM - CNR
Università di Roma La Sapienza (literal)
- Titolo
- Time-Resolved Energy Dispersive X-Ray Reflectometry Measurement on ruthenium phthalocyanine gas sensing films (literal)
- Abstract
- The energy dispersive (ED)variant of the conventional x-ray reflectivity (XR) provides an atomic scale determination of the morphological characteristics of thin films , such as their thickness and surface roughness . We report on the, in situ, EDXR measurements of the (minimal) morphological changes of ruthenium phthalocyanine gas sensing thin films . A series of reflectivity spectra have been collected , during the exposure of the films to a gas flux of Nitrogen Oxide (NO)x molecules . The measurements allowed a very high density time sampling of the evolution of the two morphological parameters , providing important information on the gas-film interaction . (literal)
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