In situ X-ray absorption measurements of the Cu/Mgo(001) interface (Articolo in rivista)

Type

• Articolo in rivista (Classe)
• Prodotto della ricerca (Classe)

Label

• In situ X-ray absorption measurements of the Cu/Mgo(001) interface (Articolo in rivista) (literal)

Anno

• 2002-01-01T00:00:00+01:00 (literal)

Http://www.cnr.it/ontology/cnr/pubblicazioni.owl#doi

• 10.1016/S0039-6028(02)01493-0 (literal)

Alternative label

• Colonna S., Arciprete F., Balzarotti A., Fanfoni M., De Crescenzi M., Mobilio S. (2002)
  In situ X-ray absorption measurements of the Cu/Mgo(001) interface
  in Surface science; ELSEVIER SCIENCE BV, PO BOX 211, 1000 AE AMSTERDAM, NETHERLANDS, AMSTERDAM (Paesi Bassi)
  (literal)

Http://www.cnr.it/ontology/cnr/pubblicazioni.owl#autori

• Colonna S., Arciprete F., Balzarotti A., Fanfoni M., De Crescenzi M., Mobilio S. (literal)

Pagina inizio

• L341 (literal)

Pagina fine

• L345 (literal)

Http://www.cnr.it/ontology/cnr/pubblicazioni.owl#numeroVolume

• 512 (literal)

Rivista

• Surface science (Rivista)

Http://www.cnr.it/ontology/cnr/pubblicazioni.owl#numeroFascicolo

• 1-2 (literal)

Note

• ISI Web of Science (WOS) (literal)

Http://www.cnr.it/ontology/cnr/pubblicazioni.owl#affiliazioni

• CNR-Istituto di Struttura della Materia, Roma, Italy Dipartimento di Fisica, Università di Roma \"Tor Vergata\" and Unità INFM, Roma, Italy Dipartimento di Fisica, Università di Camerino and Unità INFM, Camerino (MC), Italy Dipartimento di Fisica, Università di Roma 3, Roma, Italy (literal)

Titolo

• In situ X-ray absorption measurements of the Cu/Mgo(001) interface (literal)

Abstract

• The structure of Cu thin layers deposited on the MgO(001) surface obtained by cleavage in ultra high vacuum has been investigated by in situ X–ray absorption measurements as a function of the metal coverage. By exploiting the polarized nature of the synchrotron radiation it has been possible to measure the Cu-Cu bond length parallel to the substrate surface for coverages in the monolayer range. Extended X-ray absorption fine structure measurements have evidenced a Cu-Cu distance close to that of the bulk metal, resulting from a weak film-substrate interaction irrespective of the copper thickness. Copper oxidation on the MgO surface has not been evidenced. Our results demonstrate that Cu grows in form of cluster and that the film-substrate interaction is weak. (literal)

Editore

• ELSEVIER SCIENCE BV, PO BOX 211, 1000 AE AMSTERDAM, NETHERLANDS (Editore)

Prodotto di

• Institute of structure of matter (ISM) (Istituto)

Autore CNR

• SETTIMIO MOBILIO (Unità di personale esterno)
• STEFANO COLONNA (Persona)

Insieme di parole chiave

• Parole chiave di "In situ X-ray absorption measurements of the Cu/Mgo(001) interface" (Insieme di parole chiave)

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Autore CNR di

• STEFANO COLONNA (Persona)
• SETTIMIO MOBILIO (Unità di personale esterno)

Prodotto

• Institute of structure of matter (ISM) (Istituto)

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• Surface science (Rivista)

Editore di

• ELSEVIER SCIENCE BV, PO BOX 211, 1000 AE AMSTERDAM, NETHERLANDS (Editore)

Insieme di parole chiave di

• Parole chiave di "In situ X-ray absorption measurements of the Cu/Mgo(001) interface" (Insieme di parole chiave)