Theoretical and experimental study of resonant inelastic X-ray scattering for NiO (Articolo in rivista)

Type

• Articolo in rivista (Classe)
• Prodotto della ricerca (Classe)

Label

• Theoretical and experimental study of resonant inelastic X-ray scattering for NiO (Articolo in rivista) (literal)

Anno

• 2006-01-01T00:00:00+01:00 (literal)

Alternative label

• Kontai, A; Matsubara, M; Uozumi, T; Ghiringhelli, G; Fracassi, F; Dallera, C; Tagliaferri, A; Brookes, NB; Braicovich, L (2006)
  Theoretical and experimental study of resonant inelastic X-ray scattering for NiO
  in Radiation physics and chemistry (1993)
  (literal)

Http://www.cnr.it/ontology/cnr/pubblicazioni.owl#autori

• Kontai, A; Matsubara, M; Uozumi, T; Ghiringhelli, G; Fracassi, F; Dallera, C; Tagliaferri, A; Brookes, NB; Braicovich, L (literal)

Pagina inizio

• 1670 (literal)

Pagina fine

• 1675 (literal)

Http://www.cnr.it/ontology/cnr/pubblicazioni.owl#numeroVolume

• 75 (literal)

Rivista

• Radiation physics and chemistry (Rivista)

Note

• ISI Web of Science (WOS) (literal)

Http://www.cnr.it/ontology/cnr/pubblicazioni.owl#affiliazioni

• RIKEN, Harima Inst, Mikazuki, Hyogo 6795148, Japan; Inst Mat Struct Sci, Photon Factory, Tsukuba, Ibaraki 3050801, Japan; Helsinki Univ Technol, Phys Lab, FIN-02015 Helsinki, Finland; Univ Osaka Prefecture, Coll Engn, Sakai, Osaka 5998531, Japan; Politecn Milan, INFM, Dipartimento Fis, I-20133 Milan, Italy; European Synchrotron Radiat Facil, F-38043 Grenoble, France (literal)

Titolo

• Theoretical and experimental study of resonant inelastic X-ray scattering for NiO (literal)

Abstract

• Resonant inelastic X-ray scattering (RIXS) spectra for Ni 2p to 3d excitation and 3d to 2p de-excitation of NiO are studied both theoretically and experimentally. Theoretical calculations with a single impurity Anderson model (SIAM) describe the charge transfer (CT) and d-d excitations in RIXS, and detailed study is made for the CT energy. High resolution RIXS measurements reveal the precise d-d excitation structure and its polarization dependence, and they are well reproduced by the SIAM calculation. (c) 2006 Elsevier Ltd. All rights reserved. (literal)

Prodotto di

• Fotonica ultrabreve dall'infrarosso al EUV: applicazioni a materiali e dispositivi per ICT, magnetismo, biomedicina e nanoscienze (MD.P03.008.001) (Modulo)
• Generazione di radiazione X ultrabeve (MD.P03.007.001) (Modulo)
• Materia soffice: diffusione elastica ed anelastica di neutroni e raggi-x (MD.P02.016.001) (Modulo)
• Film sottili ed elettronica degli ossidi (MD.P04.016.001) (Modulo)

Autore CNR

• GIACOMO GHIRINGHELLI (Persona)

Insieme di parole chiave

• Parole chiave di "Theoretical and experimental study of resonant inelastic X-ray scattering for NiO" (Insieme di parole chiave)

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Autore CNR di

• GIACOMO GHIRINGHELLI (Persona)

Prodotto

• Fotonica ultrabreve dall'infrarosso al EUV: applicazioni a materiali e dispositivi per ICT, magnetismo, biomedicina e nanoscienze (MD.P03.008.001) (Modulo)
• Film sottili ed elettronica degli ossidi (MD.P04.016.001) (Modulo)
• Generazione di radiazione X ultrabeve (MD.P03.007.001) (Modulo)
• Materia soffice: diffusione elastica ed anelastica di neutroni e raggi-x (MD.P02.016.001) (Modulo)

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• Radiation physics and chemistry (Rivista)

Insieme di parole chiave di

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