Using the Source Function descriptor to dampen the multipole model bias in charge density studies from X-ray structure factors refinements (Articolo in rivista)

Type

• Articolo in rivista (Classe)
• Prodotto della ricerca (Classe)

Label

• Using the Source Function descriptor to dampen the multipole model bias in charge density studies from X-ray structure factors refinements (Articolo in rivista) (literal)

Anno

• 2009-01-01T00:00:00+01:00 (literal)

Http://www.cnr.it/ontology/cnr/pubblicazioni.owl#doi

• 10.1016/j.cplett.2009.06.022 (literal)

Alternative label

• Lo Presti, Leonardo; Gatti, Carlo (2009)
  Using the Source Function descriptor to dampen the multipole model bias in charge density studies from X-ray structure factors refinements
  in Chemical physics letters (Print)
  (literal)

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• Lo Presti, Leonardo; Gatti, Carlo (literal)

Pagina inizio

• 308 (literal)

Pagina fine

• 316 (literal)

Http://www.cnr.it/ontology/cnr/pubblicazioni.owl#numeroVolume

• 476 (literal)

Rivista

• Chemical physics letters (Rivista)

Http://www.cnr.it/ontology/cnr/pubblicazioni.owl#pagineTotali

• 9 (literal)

Note

• ISI Web of Science (WOS) (literal)

Http://www.cnr.it/ontology/cnr/pubblicazioni.owl#affiliazioni

• 1. Dipartimento di Chimica Fisica ed Elettrochimica, Università di Milano, Via Golgi 19, I-20133 Milano, Italy 2. Istituto di Scienze e Tecnologie Molecolari del CNR (CNR-ISTM) e Dipartimento di Chimica Fisica ed Elettrochimica, Università di Milano, Via Golgi 19, I-20133 Milano, Italy (literal)

Titolo

• Using the Source Function descriptor to dampen the multipole model bias in charge density studies from X-ray structure factors refinements (literal)

Abstract

• The Source Function (SF) atomic contributions were evaluated at bond critical points (bcps) for three test systems, using theoretical electron densities and multipole modelled densities derived from the former projected into structure factors. In general, the SF percentage atomic contributions obtained from the multipole modelled density agree well with those calculated from the corresponding primary density, despite large discrepancies in the electron density and, particularly, in the density Laplacian values occur at bcps. The SF percentage contributions represent a more robust chemical bond descriptor than are other commonly used bond topological indices which are too sensitive to the multipole model bias. (literal)

Prodotto di

• Istituto di scienze e tecnologie molecolari (ISTM) (Istituto)
• Nanoingegneria chimica ab-initio: struttura, legame e proprieta' di materiali di interesse tecnologico e dinamica di nanosistemi per il controllo della loro reattivita' chimica (PM.P07.002.003) (Modulo)

Autore CNR

• CARLO EDOARDO GATTI (Persona)

Insieme di parole chiave

• Keywords of "Using the Source Function descriptor to dampen the multipole model bias in charge density studies from X-ray structure factors refinements" (Insieme di parole chiave)

Incoming links:

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• Chemical physics letters (Rivista)

Prodotto

• Istituto di scienze e tecnologie molecolari (ISTM) (Istituto)
• Nanoingegneria chimica ab-initio: struttura, legame e proprieta' di materiali di interesse tecnologico e dinamica di nanosistemi per il controllo della loro reattivita' chimica (PM.P07.002.003) (Modulo)

Autore CNR di

• CARLO EDOARDO GATTI (Persona)

Insieme di parole chiave di

• Keywords of "Using the Source Function descriptor to dampen the multipole model bias in charge density studies from X-ray structure factors refinements" (Insieme di parole chiave)