Modern developments and applications in microbeam analysis. Proceedings of the 9(th) Workshop of the European Microbeam Analysis Society (EMAS) and the 3(rd) Meeting of the International Union of Microbeam Analysis Societies (IUMAS), Florence, Italy, May (Articolo in rivista)

Type

• Prodotto della ricerca (Classe)
• Articolo in rivista (Classe)

Label

• Modern developments and applications in microbeam analysis. Proceedings of the 9(th) Workshop of the European Microbeam Analysis Society (EMAS) and the 3(rd) Meeting of the International Union of Microbeam Analysis Societies (IUMAS), Florence, Italy, May (Articolo in rivista) (literal)

Anno

• 2006-01-01T00:00:00+01:00 (literal)

Alternative label

• Rinaldi R, Armigliato A, Santo AP, Vaggelli G, Walker CT, Bastin GF, Gauvin R (2006)
  Modern developments and applications in microbeam analysis. Proceedings of the 9(th) Workshop of the European Microbeam Analysis Society (EMAS) and the 3(rd) Meeting of the International Union of Microbeam Analysis Societies (IUMAS), Florence, Italy, May
  
  (literal)

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• Rinaldi R, Armigliato A, Santo AP, Vaggelli G, Walker CT, Bastin GF, Gauvin R (literal)

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• 1 (literal)

Pagina fine

• 3 (literal)

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• 155 (literal)

Note

• ISI Web of Science (WOS) (literal)

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• Univ Perugia, Dipartimento Sci Terra, IT-06100 Perugia, Italy; CNR, IMM Sez Bologna, IT-40129 Bologna, Italy; Univ Florence, Dipartimento Sci Terra, IT-50121 Florence, Italy; CNR, IGG Sez Torino, IT-10125 Turin, Italy; JRC, Inst Transuranium Elements, DE-76125 Karlsruhe, Germany; Eindhoven Univ Technol, NL-5600 MB Eindhoven, Netherlands; McGill Univ, Dept Mat & Engn, Montreal, PQ H3A 2B2, Canada (literal)

Titolo

• Modern developments and applications in microbeam analysis. Proceedings of the 9(th) Workshop of the European Microbeam Analysis Society (EMAS) and the 3(rd) Meeting of the International Union of Microbeam Analysis Societies (IUMAS), Florence, Italy, May (literal)

Prodotto di

• Institute for microelectronics and microsystems (IMM) (Istituto)
• Sviluppo di Modelli Fisici, Simulazioni e Tecniche di Caratterizzazione per le Nanoscienze (MD.P05.004.001) (Modulo)

Autore CNR

• ALDO ARMIGLIATO (Unità di personale interno)

Incoming links:

Prodotto

• Institute for microelectronics and microsystems (IMM) (Istituto)
• Sviluppo di Modelli Fisici, Simulazioni e Tecniche di Caratterizzazione per le Nanoscienze (MD.P05.004.001) (Modulo)

Autore CNR di

• ALDO ARMIGLIATO (Unità di personale interno)