Structural investigation of thin tetracene films on flexible substrate by synchrotron X-ray diffraction (Articolo in rivista)

Type

• Prodotto della ricerca (Classe)
• Articolo in rivista (Classe)

Label

• Structural investigation of thin tetracene films on flexible substrate by synchrotron X-ray diffraction (Articolo in rivista) (literal)

Anno

• 2006-01-01T00:00:00+01:00 (literal)

Http://www.cnr.it/ontology/cnr/pubblicazioni.owl#doi

• 10.1016/j.apsusc.2005.04.028 (literal)

Alternative label

• Milita S; Santato C; Cicoira F (2006)
  Structural investigation of thin tetracene films on flexible substrate by synchrotron X-ray diffraction
  in Applied surface science; ELSEVIER SCIENCE BV, PO BOX 211, 1000 AE AMSTERDAM, NETHERLANDS, AMSTERDAM (Paesi Bassi)
  (literal)

Http://www.cnr.it/ontology/cnr/pubblicazioni.owl#autori

• Milita S; Santato C; Cicoira F (literal)

Pagina inizio

• 8022 (literal)

Pagina fine

• 8027 (literal)

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• http://scienceserver.cilea.it/pdflinks/12032016515224783.pdf (literal)

Http://www.cnr.it/ontology/cnr/pubblicazioni.owl#numeroVolume

• 252 (literal)

Rivista

• Applied surface science (Rivista)

Http://www.cnr.it/ontology/cnr/pubblicazioni.owl#pagineTotali

• 6 (literal)

Http://www.cnr.it/ontology/cnr/pubblicazioni.owl#numeroFascicolo

• 22 (literal)

Note

• ISI Web of Science (WOS) (literal)

Http://www.cnr.it/ontology/cnr/pubblicazioni.owl#affiliazioni

• 1. CNR, IMM, I-40129 Bologna, Italy; 2. CNR, ISMN, I-40129 Bologna, Italy (literal)

Titolo

• Structural investigation of thin tetracene films on flexible substrate by synchrotron X-ray diffraction (literal)

Abstract

• Structural properties of tetracene thin films grown by vacuum sublimation on a flexible Mylar((c)) substrate have been investigated by means of synchrotron X-ray diffraction. The films are polycrystalline and are made up of crystalline domains oriented with the (0 0 l) planes almost parallel to the substrate and completely misoriented around the surface normal. Two crystallographic phases (alpha and beta thin film phases) have been identified. They differ for the d(h k l) interplanar spacing, both larger than that of the bulk. As a comparison, results from tetracene films grown on SiO2 have been reported to investigate the different charge transport properties of films grown on Mylar and on SiO2 substrates. (literal)

Editore

• ELSEVIER SCIENCE BV, PO BOX 211, 1000 AE AMSTERDAM, NETHERLANDS (Editore)

Prodotto di

• Istituto per lo studio dei materiali nanostrutturati (ISMN) (Istituto)
• Sviluppo di Modelli Fisici, Simulazioni e Tecniche di Caratterizzazione per le Nanoscienze (MD.P05.004.001) (Modulo)
• Institute for microelectronics and microsystems (IMM) (Istituto)

Autore CNR

• SILVIA MILITA (Persona)
• FABIO CICOIRA (Unità di personale esterno)
• CLARA SANTATO (Unità di personale interno)

Insieme di parole chiave

• Keywords of "Structural investigation of thin tetracene films on flexible substrate by synchrotron X-ray diffraction" (Insieme di parole chiave)

Incoming links:

Autore CNR di

• SILVIA MILITA (Persona)
• FABIO CICOIRA (Unità di personale esterno)
• CLARA SANTATO (Unità di personale interno)

Prodotto

• Institute for microelectronics and microsystems (IMM) (Istituto)
• Istituto per lo studio dei materiali nanostrutturati (ISMN) (Istituto)
• Sviluppo di Modelli Fisici, Simulazioni e Tecniche di Caratterizzazione per le Nanoscienze (MD.P05.004.001) (Modulo)

Http://www.cnr.it/ontology/cnr/pubblicazioni.owl#rivistaDi

• Applied surface science (Rivista)

Editore di

• ELSEVIER SCIENCE BV, PO BOX 211, 1000 AE AMSTERDAM, NETHERLANDS (Editore)

Insieme di parole chiave di

• Keywords of "Structural investigation of thin tetracene films on flexible substrate by synchrotron X-ray diffraction" (Insieme di parole chiave)