Electrical characterization of nickel silicide contacts on silicon carbide (Articolo in rivista)

Type

• Articolo in rivista (Classe)
• Prodotto della ricerca (Classe)

Label

• Electrical characterization of nickel silicide contacts on silicon carbide (Articolo in rivista) (literal)

Anno

• 2002-01-01T00:00:00+01:00 (literal)

Alternative label

• Roccaforte F., La Via F., Raineri V., Musumeci P., Calcagno L. (2002)
  Electrical characterization of nickel silicide contacts on silicon carbide
  in Materials science forum
  (literal)

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• Roccaforte F., La Via F., Raineri V., Musumeci P., Calcagno L. (literal)

Pagina inizio

• 893 (literal)

Pagina fine

• 893 (literal)

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• 389-3 (literal)

Rivista

• Materials science forum (Rivista)

Note

• ISI Web of Science (WOS) (literal)

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• IMM Dipartimento di Fisica Università di Catania (literal)

Titolo

• Electrical characterization of nickel silicide contacts on silicon carbide (literal)

Prodotto di

• Institute for microelectronics and microsystems (IMM) (Istituto)
• Nuovi processi per la produzione di wafer di Carburo di Silicio e nuove applicazioni nell'ambito del fotovoltaico e dei MEMS (MD.P05.009.001) (Modulo)

Autore CNR

• FABRIZIO ROCCAFORTE (Persona)
• FRANCESCO LA VIA (Unità di personale interno)
• VITO RAINERI (Persona)

Incoming links:

Autore CNR di

• FABRIZIO ROCCAFORTE (Persona)
• VITO RAINERI (Persona)
• FRANCESCO LA VIA (Unità di personale interno)

Prodotto

• Institute for microelectronics and microsystems (IMM) (Istituto)
• Nuovi processi per la produzione di wafer di Carburo di Silicio e nuove applicazioni nell'ambito del fotovoltaico e dei MEMS (MD.P05.009.001) (Modulo)

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• Materials science forum (Rivista)