Quantitative high-resolution two-dimensional profiling of sic by scanning capacitance microscopy (Articolo in rivista)

Type

• Prodotto della ricerca (Classe)
• Articolo in rivista (Classe)

Label

• Quantitative high-resolution two-dimensional profiling of sic by scanning capacitance microscopy (Articolo in rivista) (literal)

Anno

• 2002-01-01T00:00:00+01:00 (literal)

Alternative label

• Raineri V., Giannazo F., Calcagno L., Musumeci P., Roccaforte F., La Via F. (2002)
  Quantitative high-resolution two-dimensional profiling of sic by scanning capacitance microscopy
  in Materials science forum
  (literal)

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• Raineri V., Giannazo F., Calcagno L., Musumeci P., Roccaforte F., La Via F. (literal)

Pagina inizio

• 655 (literal)

Pagina fine

• 655 (literal)

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• 389-3 (literal)

Rivista

• Materials science forum (Rivista)

Note

• ISI Web of Science (WOS) (literal)

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• IMM Dipartimento di Fisica Università di Catania (literal)

Titolo

• Quantitative high-resolution two-dimensional profiling of sic by scanning capacitance microscopy (literal)

Prodotto di

• Institute for microelectronics and microsystems (IMM) (Istituto)

Autore CNR

• FILIPPO GIANNAZZO (Persona)
• FRANCESCO LA VIA (Unità di personale interno)
• VITO RAINERI (Persona)
• FABRIZIO ROCCAFORTE (Persona)

Incoming links:

Autore CNR di

• FABRIZIO ROCCAFORTE (Persona)
• VITO RAINERI (Persona)
• FILIPPO GIANNAZZO (Persona)
• FRANCESCO LA VIA (Unità di personale interno)

Prodotto

• Institute for microelectronics and microsystems (IMM) (Istituto)

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• Materials science forum (Rivista)