Surface segregation mechanisms in dielectric thin films (Articolo in rivista)

Type

• Prodotto della ricerca (Classe)
• Articolo in rivista (Classe)

Label

• Surface segregation mechanisms in dielectric thin films (Articolo in rivista) (literal)

Anno

• 2004-01-01T00:00:00+01:00 (literal)

Http://www.cnr.it/ontology/cnr/pubblicazioni.owl#doi

• 10.1080/10584580490460268 (literal)

Alternative label

• Watts B.E. a; Leccabue F. a; Tallarida G. b; Ferrari S. b; Fanciulli M. b; Padeletti G. c (2004)
  Surface segregation mechanisms in dielectric thin films
  in Integrated ferroelectrics; Taylor & Francis Ltd., Abingdon (Regno Unito)
  (literal)

Http://www.cnr.it/ontology/cnr/pubblicazioni.owl#autori

• Watts B.E. a; Leccabue F. a; Tallarida G. b; Ferrari S. b; Fanciulli M. b; Padeletti G. c (literal)

Pagina inizio

• 3 (literal)

Pagina fine

• 11 (literal)

Http://www.cnr.it/ontology/cnr/pubblicazioni.owl#numeroVolume

• 62 (literal)

Rivista

• Integrated ferroelectrics (Rivista)

Http://www.cnr.it/ontology/cnr/pubblicazioni.owl#numeroFascicolo

• 62 (literal)

Note

• ISI Web of Science (WOS) (literal)

Http://www.cnr.it/ontology/cnr/pubblicazioni.owl#affiliazioni

• a Istituto IMEM/CNR, Viale delle Scienze 37a, I-43100 Panna, Italy; b INFM, Laboratorio MDM, Via C. Olivetti 2, I-20041 Agrate Brianza, Italy; c Istituto ISMN/CNR, Via Salaria Km.29,5, I-00016 Monterotondo Stazione (Roma), Italy (literal)

Titolo

• Surface segregation mechanisms in dielectric thin films (literal)

Abstract

• It is often assumed that evaporation causes lead and bismuth depletion at the surface of ferroelectric films. However, this is in contrast with evidence that shows surface enrichment of Pb and Bi. A segregation mechanism that is analogous to the diffusion processes observed during the oxidation of metals is described. The presence of an electrochemical potential is discussed, together with the implications on the electrical properties of ferroelectric films. (literal)

Editore

• Taylor & Francis Ltd. (Editore)

Prodotto di

• Sviluppo, caratterizzazione strutturale e modelling di strutture avanzate per elettronica (MD.P05.002.001) (Modulo)
• Istituto dei materiali per l'elettronica ed il magnetismo (IMEM) (Istituto)

Autore CNR

• GRAZIELLA TALLARIDA (Persona)
• BERNARD ENRICO WATTS (Unità di personale interno)
• FABRIZIO LECCABUE (Unità di personale interno)

Insieme di parole chiave

• Parole chiave di "Surface segregation mechanisms in dielectric thin films" (Insieme di parole chiave)

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Autore CNR di

• FABRIZIO LECCABUE (Unità di personale interno)
• BERNARD ENRICO WATTS (Unità di personale interno)
• GRAZIELLA TALLARIDA (Persona)

Prodotto

• Istituto dei materiali per l'elettronica ed il magnetismo (IMEM) (Istituto)
• Sviluppo, caratterizzazione strutturale e modelling di strutture avanzate per elettronica (MD.P05.002.001) (Modulo)

Editore di

• Taylor & Francis Ltd. (Editore)

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• Integrated ferroelectrics (Rivista)

Insieme di parole chiave di

• Parole chiave di "Surface segregation mechanisms in dielectric thin films" (Insieme di parole chiave)