Rf-sputtering of stoichiometric amorphous TeO2 thin films (Articolo in rivista)

Type

• Articolo in rivista (Classe)
• Prodotto della ricerca (Classe)

Label

• Rf-sputtering of stoichiometric amorphous TeO2 thin films (Articolo in rivista) (literal)

Anno

• 2005-01-01T00:00:00+01:00 (literal)

Alternative label

• Di Giulio M., Zappettini A., Nasi L., Pietralunga S. M. (2005)
  Rf-sputtering of stoichiometric amorphous TeO2 thin films
  in Crystal research and technology (1981)
  (literal)

Http://www.cnr.it/ontology/cnr/pubblicazioni.owl#autori

• Di Giulio M., Zappettini A., Nasi L., Pietralunga S. M. (literal)

Pagina inizio

• 1023 (literal)

Pagina fine

• 1027 (literal)

Http://www.cnr.it/ontology/cnr/pubblicazioni.owl#numeroVolume

• 40 (literal)

Rivista

• Crystal research and technology (Rivista)

Note

• ISI Web of Science (WOS) (literal)

Titolo

• Rf-sputtering of stoichiometric amorphous TeO2 thin films (literal)

Prodotto di

• Istituto dei materiali per l'elettronica ed il magnetismo (IMEM) (Istituto)
• Ossidi nanostrutturati per sensoristica e fotovoltaico (SP.P02.003.001) (Modulo)
• Sviluppo, caratterizzazione strutturale e modelling di strutture avanzate per elettronica (MD.P05.002.001) (Modulo)

Autore CNR

• SILVIA MARIA PIETRALUNGA (Persona)
• ANDREA ZAPPETTINI (Persona)
• LUCIA NASI (Unità di personale interno)

Incoming links:

Autore CNR di

• LUCIA NASI (Unità di personale interno)
• ANDREA ZAPPETTINI (Persona)
• SILVIA MARIA PIETRALUNGA (Persona)

Prodotto

• Istituto dei materiali per l'elettronica ed il magnetismo (IMEM) (Istituto)
• Sviluppo, caratterizzazione strutturale e modelling di strutture avanzate per elettronica (MD.P05.002.001) (Modulo)
• Ossidi nanostrutturati per sensoristica e fotovoltaico (SP.P02.003.001) (Modulo)

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• Crystal research and technology (Rivista)