IsoGeometric analysis using T-splines on two-patch geometries (Articolo in rivista)

Type
Label
  • IsoGeometric analysis using T-splines on two-patch geometries (Articolo in rivista) (literal)
Anno
  • 2011-01-01T00:00:00+01:00 (literal)
Http://www.cnr.it/ontology/cnr/pubblicazioni.owl#doi
  • 10.1016/j.cma.2011.02.005 (literal)
Alternative label
  • Beirao da Veiga L., Buffa A., Cho D., Sangalli G. (2011)
    IsoGeometric analysis using T-splines on two-patch geometries
    in Computer methods in applied mechanics and engineering; Elsevier BV, Amsterdam (Paesi Bassi)
    (literal)
Http://www.cnr.it/ontology/cnr/pubblicazioni.owl#autori
  • Beirao da Veiga L., Buffa A., Cho D., Sangalli G. (literal)
Pagina inizio
  • 1787 (literal)
Pagina fine
  • 1803 (literal)
Http://www.cnr.it/ontology/cnr/pubblicazioni.owl#numeroVolume
  • 200 (literal)
Rivista
Note
  • Scopu (literal)
  • ISI Web of Science (WOS) (literal)
Http://www.cnr.it/ontology/cnr/pubblicazioni.owl#affiliazioni
  • Istituto di Matematica Applicata & Tecnologie Informatiche, CNR, Pavia; Università di Milano, Dipartimento di Matematica; Università di Pavia, Dipartimento di Matematica. (literal)
Titolo
  • IsoGeometric analysis using T-splines on two-patch geometries (literal)
Abstract
  • We develop optimal approximation estimates for T-splines in the case of geometries obtained by gluing two standard tensor product patches. We derive results both for the T-spline space in the parametric domain and the mapped T-NURBS in the physical one. A set of numerical tests in complete accordance with the theoretical developments is also presented. (literal)
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