X-Ray Reflectivity Measurements of Layer-by-Layer Films at the Solid/Liquid Interface (Articolo in rivista)

Type

• Articolo in rivista (Classe)
• Prodotto della ricerca (Classe)

Label

• X-Ray Reflectivity Measurements of Layer-by-Layer Films at the Solid/Liquid Interface (Articolo in rivista) (literal)

Anno

• 2008-01-01T00:00:00+01:00 (literal)

Http://www.cnr.it/ontology/cnr/pubblicazioni.owl#doi

• 10.1021/la802060e (literal)

Alternative label

• Erokhina S. a; Berzina T. ab; Cristofolini L. ab; Erokhin V. ab; Folli C. c; Konovalov O. d; Marino I.-G. a; Fontana M.P. ab (2008)
  X-Ray Reflectivity Measurements of Layer-by-Layer Films at the Solid/Liquid Interface
  in Langmuir; ACS, American chemical society, Washington, DC (Stati Uniti d'America)
  (literal)

Http://www.cnr.it/ontology/cnr/pubblicazioni.owl#autori

• Erokhina S. a; Berzina T. ab; Cristofolini L. ab; Erokhin V. ab; Folli C. c; Konovalov O. d; Marino I.-G. a; Fontana M.P. ab (literal)

Pagina inizio

• 12093 (literal)

Pagina fine

• 12096 (literal)

Http://www.cnr.it/ontology/cnr/pubblicazioni.owl#altreInformazioni

• Nota: Tatiana Berzina e Tatiana Ivanova sono la stessa persona. Ivanova è il cognome paterno, indicato nei documenti di identità italiani, in seguito all'ottenimento della cittadinanza italiana nel 2009. (literal)

Http://www.cnr.it/ontology/cnr/pubblicazioni.owl#numeroVolume

• 24 (literal)

Rivista

• Langmuir (Rivista)

Http://www.cnr.it/ontology/cnr/pubblicazioni.owl#numeroFascicolo

• 21 (literal)

Note

• ISI Web of Science (WOS) (literal)

Http://www.cnr.it/ontology/cnr/pubblicazioni.owl#affiliazioni

• a Univ Parma, Dept Phys, I-43100 Parma, Italy; b Univ Parma, INFM, CNR, Ctr SOFT, I-43100 Parma, Italy; c Univ Parma, Dept Biochem & Mol Biol, I-43100 Parma, Italy; d European Synchrotron Radiat Facil, F-38043 Grenoble, France (literal)

Titolo

• X-Ray Reflectivity Measurements of Layer-by-Layer Films at the Solid/Liquid Interface (literal)

Abstract

• In this Letter, we present a method for the decoration of layer-by-layer (LbL) structures by heavy metal ions, which allows X-ray reflectivity (XRR) measurements at the solid/water interface. The improved contrast has allowed us to obtain well-structured X-ray reflectivity curves from samples at the liquid/solid interface that can be used for the film structure modeling. The developed technique was also used to follow the formation of complexes between DNA and the LbL multilayer. The XRR data are confirmed by independent null-ellipsometric measurements at the solid/liquid interface on the very same architectures. (literal)

Editore

• ACS, American chemical society (Editore)

Prodotto di

• Materia soffice: Dinamica di non-equilibrio e complessita (MD.P02.014.001) (Modulo)

Autore CNR

• TATIANA IVANOVA (Unità di personale interno)
• VICTOR EROKHIN (Unità di personale esterno)

Insieme di parole chiave

• Parole chiave di "X-Ray Reflectivity Measurements of Layer-by-Layer Films at the Solid/Liquid Interface" (Insieme di parole chiave)

Incoming links:

Autore CNR di

• TATIANA IVANOVA (Unità di personale interno)
• VICTOR EROKHIN (Unità di personale esterno)

Prodotto

• Materia soffice: Dinamica di non-equilibrio e complessita (MD.P02.014.001) (Modulo)

Editore di

• ACS, American chemical society (Editore)

Http://www.cnr.it/ontology/cnr/pubblicazioni.owl#rivistaDi

• Langmuir (Rivista)

Insieme di parole chiave di

• Parole chiave di "X-Ray Reflectivity Measurements of Layer-by-Layer Films at the Solid/Liquid Interface" (Insieme di parole chiave)