Analysis on 3C-SiC layer grown on pseudomorphic-Si/Si1-xGex/Si(001) heterostructures (Articolo in rivista)

Type

• Prodotto della ricerca (Classe)
• Articolo in rivista (Classe)

Label

• Analysis on 3C-SiC layer grown on pseudomorphic-Si/Si1-xGex/Si(001) heterostructures (Articolo in rivista) (literal)

Anno

• 2015-01-01T00:00:00+01:00 (literal)

Http://www.cnr.it/ontology/cnr/pubblicazioni.owl#doi

• 10.4028/www.scientific.net/MSF.806.21 (literal)

Alternative label

• Piluso N.; Camarda M.; Anzalone R.; Severino A.; Scalese S.; La Via F. (2015)
  Analysis on 3C-SiC layer grown on pseudomorphic-Si/Si1-xGex/Si(001) heterostructures
  in Materials science forum
  (literal)

Http://www.cnr.it/ontology/cnr/pubblicazioni.owl#autori

• Piluso N.; Camarda M.; Anzalone R.; Severino A.; Scalese S.; La Via F. (literal)

Pagina inizio

• 21 (literal)

Pagina fine

• 25 (literal)

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• http://www.scopus.com/inward/record.url?eid=2-s2.0-84921496111&partnerID=q2rCbXpz (literal)

Http://www.cnr.it/ontology/cnr/pubblicazioni.owl#numeroVolume

• 806 (literal)

Rivista

• Materials science forum (Rivista)

Note

• Scopu (literal)

Http://www.cnr.it/ontology/cnr/pubblicazioni.owl#affiliazioni

• IMM-CNR, Z l. VIII Strada, 5, Catania, 95121, Italy; ST-Microelectronics, Stradale Primosole, 50, Catania, 95121, Italy (literal)

Titolo

• Analysis on 3C-SiC layer grown on pseudomorphic-Si/Si1-xGex/Si(001) heterostructures (literal)

Abstract

• [object Object] (literal)

Prodotto di

• Nuovi processi per la produzione di wafer di Carburo di Silicio e nuove applicazioni nell'ambito del fotovoltaico e dei MEMS (MD.P05.009.001) (Modulo)
• Institute for microelectronics and microsystems (IMM) (Istituto)

Autore CNR

• Andrea Severino (Persona)
• NICOLO' PILUSO (Unità di personale esterno)
• RUGGERO ANZALONE (Unità di personale esterno)
• FRANCESCO LA VIA (Unità di personale interno)
• MASSIMO CAMARDA (Unità di personale esterno)
• SILVIA SCALESE (Persona)

Insieme di parole chiave

• Parole chiave di "Analysis on 3C-SiC layer grown on pseudomorphic-Si/Si1-xGex/Si(001) heterostructures" (Insieme di parole chiave)

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Prodotto

• Institute for microelectronics and microsystems (IMM) (Istituto)
• Nuovi processi per la produzione di wafer di Carburo di Silicio e nuove applicazioni nell'ambito del fotovoltaico e dei MEMS (MD.P05.009.001) (Modulo)

Autore CNR di

• FRANCESCO LA VIA (Unità di personale interno)
• SILVIA SCALESE (Persona)
• Andrea Severino (Persona)
• NICOLO' PILUSO (Unità di personale esterno)
• RUGGERO ANZALONE (Unità di personale esterno)
• MASSIMO CAMARDA (Unità di personale esterno)

Http://www.cnr.it/ontology/cnr/pubblicazioni.owl#rivistaDi

• Materials science forum (Rivista)

Insieme di parole chiave di

• Parole chiave di "Analysis on 3C-SiC layer grown on pseudomorphic-Si/Si1-xGex/Si(001) heterostructures" (Insieme di parole chiave)