A novel micro-Raman technique to detect and characterize 4H-SiC stacking faults (Articolo in rivista)

Type
Label
  • A novel micro-Raman technique to detect and characterize 4H-SiC stacking faults (Articolo in rivista) (literal)
Anno
  • 2014-01-01T00:00:00+01:00 (literal)
Http://www.cnr.it/ontology/cnr/pubblicazioni.owl#doi
  • 10.1063/1.4899985 (literal)
Alternative label
  • Piluso N.; Camarda M.; La Via F. (2014)
    A novel micro-Raman technique to detect and characterize 4H-SiC stacking faults
    in Journal of applied physics (online)
    (literal)
Http://www.cnr.it/ontology/cnr/pubblicazioni.owl#autori
  • Piluso N.; Camarda M.; La Via F. (literal)
Http://www.cnr.it/ontology/cnr/pubblicazioni.owl#url
  • http://www.scopus.com/inward/record.url?eid=2-s2.0-84908249529&partnerID=q2rCbXpz (literal)
Http://www.cnr.it/ontology/cnr/pubblicazioni.owl#numeroVolume
  • 116 (literal)
Rivista
Http://www.cnr.it/ontology/cnr/pubblicazioni.owl#numeroFascicolo
  • 16 (literal)
Note
  • Scopu (literal)
Http://www.cnr.it/ontology/cnr/pubblicazioni.owl#affiliazioni
  • IMM-CNR, stradale primo sole, 50, Catania, 95121, Italy (literal)
Titolo
  • A novel micro-Raman technique to detect and characterize 4H-SiC stacking faults (literal)
Abstract
  • [object Object] (literal)
Prodotto di
Autore CNR

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