http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID306910
Reliable response of RF MEMS LTCC packaged switches after mechanical and thermal stress (Contributo in atti di convegno)
- Type
- Label
- Reliable response of RF MEMS LTCC packaged switches after mechanical and thermal stress (Contributo in atti di convegno) (literal)
- Anno
- 2014-01-01T00:00:00+01:00 (literal)
- Alternative label
A. Lucibello, G. Capoccia, E. Proietti, R. Marcelli, B. Margesin, V. Mulloni, F. Giacomozzi, F. Vitulli, M. Scipioni, G. Bartolucci (2014)
Reliable response of RF MEMS LTCC packaged switches after mechanical and thermal stress
in DTIP 2014, SYMPOSIUM on Design, Test, Integration & Packaging of MEMS/MOEMS, Cannes Côte d'Azur, France, 2-4 April, 2014
(literal)
- Http://www.cnr.it/ontology/cnr/pubblicazioni.owl#autori
- A. Lucibello, G. Capoccia, E. Proietti, R. Marcelli, B. Margesin, V. Mulloni, F. Giacomozzi, F. Vitulli, M. Scipioni, G. Bartolucci (literal)
- Http://www.cnr.it/ontology/cnr/pubblicazioni.owl#titoloVolume
- Proceed. of DTIP 2014, SYMPOSIUM on Design, Test, Integration & Packaging of MEMS/MOEMS (literal)
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- - CNR-IMM Roma
- CNR-IMM Lecce
- FBK-irst Trento
- University of Roma \"Tor Vergata\" (literal)
- Titolo
- Reliable response of RF MEMS LTCC packaged switches after mechanical and thermal stress (literal)
- Prodotto di
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