Reliable response of RF MEMS LTCC packaged switches after mechanical and thermal stress (Contributo in atti di convegno)

Type
Label
  • Reliable response of RF MEMS LTCC packaged switches after mechanical and thermal stress (Contributo in atti di convegno) (literal)
Anno
  • 2014-01-01T00:00:00+01:00 (literal)
Alternative label
  • A. Lucibello, G. Capoccia, E. Proietti, R. Marcelli, B. Margesin, V. Mulloni, F. Giacomozzi, F. Vitulli, M. Scipioni, G. Bartolucci (2014)
    Reliable response of RF MEMS LTCC packaged switches after mechanical and thermal stress
    in DTIP 2014, SYMPOSIUM on Design, Test, Integration & Packaging of MEMS/MOEMS, Cannes Côte d'Azur, France, 2-4 April, 2014
    (literal)
Http://www.cnr.it/ontology/cnr/pubblicazioni.owl#autori
  • A. Lucibello, G. Capoccia, E. Proietti, R. Marcelli, B. Margesin, V. Mulloni, F. Giacomozzi, F. Vitulli, M. Scipioni, G. Bartolucci (literal)
Http://www.cnr.it/ontology/cnr/pubblicazioni.owl#titoloVolume
  • Proceed. of DTIP 2014, SYMPOSIUM on Design, Test, Integration & Packaging of MEMS/MOEMS (literal)
Http://www.cnr.it/ontology/cnr/pubblicazioni.owl#affiliazioni
  • - CNR-IMM Roma - CNR-IMM Lecce - FBK-irst Trento - University of Roma \"Tor Vergata\" (literal)
Titolo
  • Reliable response of RF MEMS LTCC packaged switches after mechanical and thermal stress (literal)
Prodotto di
Autore CNR
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