Investigation on bias stress effects in n-type PDI8-CN 2 thin-film transistors (Articolo in rivista)

Type
Label
  • Investigation on bias stress effects in n-type PDI8-CN 2 thin-film transistors (Articolo in rivista) (literal)
Anno
  • 2012-01-01T00:00:00+01:00 (literal)
Http://www.cnr.it/ontology/cnr/pubblicazioni.owl#doi
  • 10.1016/j.orgel.2012.06.044 (literal)
Alternative label
  • Di Girolamo, Flavia Viola; Ciccullo, Francesca; Barra, Mario; Carella, Antonio R.; Cassinese, A. (2012)
    Investigation on bias stress effects in n-type PDI8-CN 2 thin-film transistors
    in Organic electronics (Print)
    (literal)
Http://www.cnr.it/ontology/cnr/pubblicazioni.owl#autori
  • Di Girolamo, Flavia Viola; Ciccullo, Francesca; Barra, Mario; Carella, Antonio R.; Cassinese, A. (literal)
Pagina inizio
  • 2281 (literal)
Pagina fine
  • 2289 (literal)
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  • http://www.scopus.com/record/display.url?eid=2-s2.0-84864825033&origin=inward (literal)
Http://www.cnr.it/ontology/cnr/pubblicazioni.owl#numeroVolume
  • 13 (literal)
Rivista
Http://www.cnr.it/ontology/cnr/pubblicazioni.owl#numeroFascicolo
  • 11 (literal)
Note
  • Scopu (literal)
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  • Universita degli Studi di Napoli Federico II, Consiglio Nazionale delle Ricerche (literal)
Titolo
  • Investigation on bias stress effects in n-type PDI8-CN 2 thin-film transistors (literal)
Abstract
  • [object Object] (literal)
Prodotto di
Autore CNR
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