http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID301022
Investigation on bias stress effects in n-type PDI8-CN 2 thin-film transistors (Articolo in rivista)
- Type
- Label
- Investigation on bias stress effects in n-type PDI8-CN 2 thin-film transistors (Articolo in rivista) (literal)
- Anno
- 2012-01-01T00:00:00+01:00 (literal)
- Http://www.cnr.it/ontology/cnr/pubblicazioni.owl#doi
- 10.1016/j.orgel.2012.06.044 (literal)
- Alternative label
Di Girolamo, Flavia Viola; Ciccullo, Francesca; Barra, Mario; Carella, Antonio R.; Cassinese, A. (2012)
Investigation on bias stress effects in n-type PDI8-CN 2 thin-film transistors
in Organic electronics (Print)
(literal)
- Http://www.cnr.it/ontology/cnr/pubblicazioni.owl#autori
- Di Girolamo, Flavia Viola; Ciccullo, Francesca; Barra, Mario; Carella, Antonio R.; Cassinese, A. (literal)
- Pagina inizio
- Pagina fine
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- http://www.scopus.com/record/display.url?eid=2-s2.0-84864825033&origin=inward (literal)
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- Rivista
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- Note
- Http://www.cnr.it/ontology/cnr/pubblicazioni.owl#affiliazioni
- Universita degli Studi di Napoli Federico II, Consiglio Nazionale delle Ricerche (literal)
- Titolo
- Investigation on bias stress effects in n-type PDI8-CN 2 thin-film transistors (literal)
- Abstract
- [object Object] (literal)
- Prodotto di
- Autore CNR
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