RT-2012-132 CARATTERIZZAZIONE DI SUBSTRATI IN ALLUMINIO PER APPLICAZIONI FOTOVOLTAICHE A CONCENTRAZIONE (Rapporti tecnici, manuali, carte geologiche e tematiche e prodotti multimediali)

Type
Label
  • RT-2012-132 CARATTERIZZAZIONE DI SUBSTRATI IN ALLUMINIO PER APPLICAZIONI FOTOVOLTAICHE A CONCENTRAZIONE (Rapporti tecnici, manuali, carte geologiche e tematiche e prodotti multimediali) (literal)
Anno
  • 2012-01-01T00:00:00+01:00 (literal)
Alternative label
  • E. Mercadelli, A. Sanson (2012)
    RT-2012-132 CARATTERIZZAZIONE DI SUBSTRATI IN ALLUMINIO PER APPLICAZIONI FOTOVOLTAICHE A CONCENTRAZIONE
    (literal)
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  • E. Mercadelli, A. Sanson (literal)
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  • 8 (literal)
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  • Institute of Science and Technology for Ceramics, National Council of Research (ISTEC-CNR) (literal)
Titolo
  • RT-2012-132 CARATTERIZZAZIONE DI SUBSTRATI IN ALLUMINIO PER APPLICAZIONI FOTOVOLTAICHE A CONCENTRAZIONE (literal)
Abstract
  • Durante la caratterizzazione degli inchiostri per alluminio, Aurel ha riscontrato alcune anomalie connesse con l'utilizzo di inchiostri Du Pont. In particolare i trattamenti normalmente utilizzati su piastre sottili in alluminio non sembrano essere direttamente trasferibili ad altre tipologie di substrati. La deposizione infatti su elementi riscaldanti e dissipatori produce strati di adesione e dielettrici con diverse caratteristiche sia fisiche (differente colorazione) che prestazionali. Obiettivo dell'attività è quindi la caratterizzazione chimica qualitativa mediante analisi SEM-EDS dei supporti in alluminio serigrafati utilizzati da AUREL. (literal)
Prodotto di
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